[實用新型]一種半導體元器件測試裝置

有效

• 申請號: 201720020397.X
• 申請日: 2017-01-09
• 公開（公告）號: CN206362891U
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 孫怒濤;張劍;楊劍;羅薇
• 申請（專利權）人: 成都正大科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 成都金英專利代理事務所(普通合伙)51218
• 代理人: 袁英

技術領域

本實用新型涉及電子元件測試領域，特別是一種半導體元器件測試裝置。

背景技術

半導體器件是導電性介于良導電體與絕緣體之間，利用半導體材料特殊電特性來完成特定功能的電子器件。

隨著半導體工藝的發展，半導體產品越來越復雜。為了保證半導體產品的性能和 質量，功能(Functional Test，簡稱FT)測試是產品制造過程中必不可少的一個環節。近年來，隨著半導體元器件元器件市場競爭越來越激烈，產品穩定性也會越來越高。作為參數測試工序，除了測試一些常規參數外，客戶也提出一些特測試項，其中絕緣項就是其中之一。現有的測試忘忘需要人工進行操作，安全性低，浪費人力資源。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服現有技術的不足，提供一種半導體元器件測試裝置，該裝置通過動力裝置驅動蓋板下壓，探針與引腳接觸，實現半導體元器件的測試，不需要人工進行接線，有效減少人力資源浪費。

本實用新型的目的是通過以下技術方案來實現的：一種半導體元器件測試裝置，它包括測試箱體和蓋板，所述的測試箱體的一側設置有支柱，蓋板固定在支柱上，所述的箱體上端設置有金屬板，金屬板上放置有絕緣墊，所述的蓋板上設置有壓塊和針體；所述的箱體內部設置有測試儀、電源和動力裝置，動力裝置與支柱固定連接，所述的測試儀的測試接口與針體連接，所述的電源分別與測試儀和動力裝置連接，金屬板與電源的負極連接。

進一步的，所述的金屬板上設置有取放槽。

進一步的，所述的絕緣墊上與開設有與待測試半導體器件相配合的半導體槽。

進一步的，所述的針體內可拆卸的安裝有彈簧和動針，彈簧的一端與動針固定連接，彈簧的另一端。

進一步的，所述的針體與絕緣墊對應，所述的壓塊與半導體槽對應。

進一步的，所述的測試儀的測試接口通過測試線與針體連接。

進一步的，所述的絕緣墊為橡膠絕緣墊。

本實用新型的有益效果是：本實用新型提供了一種半導體元器件測試裝置，該裝置通過動力裝置驅動蓋板下壓，探針與引腳接觸，實現半導體元器件的測試，不需要人工進行接線，有效減少人力資源浪費。金屬板上設置有取放槽，便于取放，絕緣墊可拆卸設置，便于進行更換，針體內設置彈簧，有效保證探針與半導體元器件引腳的接觸。

附圖說明

圖1為本實用新型的結構示意圖；

圖2為本實用新型的測試箱體示意圖；

圖3為探針結構示意圖；

圖中，1-測試箱體，2-蓋板，3-支柱，4-絕緣墊，5-壓塊，6-針體，7-金屬板，8-取放槽，9-彈簧，10-動針。

具體實施方式

下面結合附圖進一步詳細描述本實用新型的技術方案，但本實用新型的保護范圍不局限于以下所述。

如圖1到圖3所示，一種半導體元器件測試裝置，它包括測試箱體1和蓋板2，所述的測試箱體1的一側設置有支柱3，蓋板2固定在支柱3上，所述的箱體1上端設置有金屬板7，金屬板7上放置有絕緣墊4，所述的蓋板2上設置有壓塊5和針體6；所述的箱體1內部設置有測試儀、電源和動力裝置，動力裝置與支柱3固定連接，所述的測試儀的測試接口與針體6連接，所述的電源分別與測試儀和動力裝置連接，金屬板7與電源的負極連接。

進一步的，所述的金屬板7上設置有取放槽8。

進一步的，所述的絕緣墊4上與開設有與待測試半導體器件相配合的半導體槽。

進一步的，所述的針體6內可拆卸的安裝有彈簧9和動針10，彈簧9的一端與動針10固定連接，彈簧9的另一端。

進一步的，所述的針體6與絕緣墊4對應，所述的壓塊與半導體槽對應。

進一步的，所述的測試儀的測試接口通過測試線與針體6連接。

進一步的，所述的絕緣墊4為橡膠絕緣墊。

本實用新型的半導體元器件測試裝置在使用時，將半導體元器件放置在半導體槽內，引腳放置在絕緣墊上，啟動測試裝置，動力裝置驅動支柱帶動蓋板下壓，壓塊壓緊半導體元器件，探針與引腳接觸，測試儀開始測量，測量完后，關閉測試裝置，動力裝置驅動支柱帶動蓋板上升，取出半導體元器件，測試完成。