[實用新型]一種半導體元器件測試裝置

有效

• 申請號: 201720020397.X
• 申請日: 2017-01-09
• 公開（公告）號: CN206362891U
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 孫怒濤;張劍;楊劍;羅薇
• 申請（專利權）人: 成都正大科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 成都金英專利代理事務所(普通合伙)51218
• 代理人: 袁英

1.一種半導體元器件測試裝置，其特征在于：它包括測試箱體（1）和蓋板（2），所述的測試箱體（1）的一側設置有支柱（3），蓋板（2）固定在支柱（3）上，所述的箱體（1）上端設置有金屬板（7），金屬板（7）上放置有絕緣墊（4），所述的蓋板（2）上設置有壓塊（5）和針體（6）；所述的箱體（1）內部設置有測試儀、電源和動力裝置，動力裝置與支柱（3）固定連接，所述的測試儀的測試接口與針體（6）連接，所述的電源分別與測試儀和動力裝置連接，金屬板（7）與電源的負極連接。

2.根據權利要求1所述的一種半導體元器件測試裝置，其特征在于：所述的金屬板（7）上設置有取放槽（8）。

3.根據權利要求1所述的一種半導體元器件測試裝置，其特征在于：所述的絕緣墊（4）上與開設有與待測試半導體器件相配合的半導體槽。

4.根據權利要求1所述的一種半導體元器件測試裝置，其特征在于：所述的針體（6）內可拆卸的安裝有彈簧（9）和動針（10），彈簧（9）的一端與動針（10）固定連接。

5.根據權利要求3所述的一種半導體元器件測試裝置，其特征在于：所述的針體（6）與絕緣墊（4）對應，所述的壓塊與半導體槽對應。

6.根據權利要求1所述的一種半導體元器件測試裝置，其特征在于：所述的測試儀的測試接口通過測試線與針體（6）連接。

7.根據權利要求1所述的一種半導體元器件測試裝置，其特征在于：所述的絕緣墊（4）為橡膠絕緣墊。