[發(fā)明專利]一種軌道測量用光學測量標志工作方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711494934.5 | 申請日: | 2017-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN108058720B | 公開(公告)日: | 2020-11-27 |
| 發(fā)明(設計)人: | 胡淼龍 | 申請(專利權)人: | 浙江維思無線網(wǎng)絡技術有限公司 |
| 主分類號: | B61K9/08 | 分類號: | B61K9/08 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 314036 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 軌道 測量 用光 標志 工作 方法 裝置 | ||
1.一種軌道測量用光學測量標志工作方法,包括:
獲取工作觸發(fā)信息,通過伺服機構使光學測量標志模塊和光學測量標志裝置中的任一種包含的至少部分部件脫離環(huán)境防護狀態(tài)進入工作狀態(tài), 處于工作狀態(tài)的光學測量標志模塊向攝影測量用光學圖像傳感器反射光學信號或發(fā)射光學信號;
獲取工作終止信息,通過伺服機構使光學測量標志模塊和光學測量標志裝置中的任一種包含的至少部分部件脫離工作狀態(tài)進入環(huán)境防護狀態(tài);
所述光學測量標志模塊用于沿軌道延伸方向布設,包括行駛軌上布設和行駛軌外布設中的至少一種布設方式。
2.如權利要求1所述的方法,其中,
所述獲取工作觸發(fā)信息,通過伺服機構使光學測量標志模塊和光學測量標志裝置中的任一種包含的至少部分部件脫離環(huán)境防護狀態(tài)進入工作狀態(tài), 處于工作狀態(tài)的光學測量標志模塊向攝影測量用光學圖像傳感器反射光學信號或發(fā)射光學信號,包括:
通過定時電路、光信號接收機、聲信號接收機和無線電信號接收機中的至少一種獲取工作觸發(fā)信息;
通過伺服機構移動環(huán)境防護體使光學測量標志模塊或光學測量標志裝置包含的至少部分部件脫離環(huán)境防護狀態(tài),并且移動光學測量標志模塊使之與安裝基座和安裝預埋件中的至少一種處于硬接觸狀態(tài)或緊耦合狀態(tài);或
通過伺服機構移動光學測量標志模塊或光學測量標志裝置包含的至少部分部件使之脫離環(huán)境防護狀態(tài),并且移動光學測量標志模塊使之與安裝基座和安裝預埋件中的至少一種處于硬接觸狀態(tài)或緊耦合狀態(tài);
光學測量標志模塊向光學圖像傳感器反射光學信號或發(fā)射光學信號,所述光學信號用于攝影測量。
3.如權利要求1所述的方法,其中,
所述獲取工作終止信息,通過伺服機構使光學測量標志模塊和光學測量標志裝置中的任一種包含的至少部分部件脫離工作狀態(tài)進入環(huán)境防護狀態(tài),包括:
通過定時電路、光信號接收機、聲信號接收機和無線電信號接收機中的至少一種獲取工作終止信息;
通過伺服機構移動環(huán)境防護體使光學測量標志模塊或光學測量標志裝置包含的至少部分部件進入環(huán)境防護狀態(tài),并且移動光學測量標志模塊使之與安裝基座和安裝預埋件中的至少一種脫離硬接觸狀態(tài)或緊耦合狀態(tài);或
通過伺服機構移動光學測量標志模塊或光學測量標志裝置包含的至少部分部件使之進入環(huán)境防護狀態(tài),并且移動光學測量標志模塊使之與安裝基座和安裝預埋件中的至少一種脫離硬接觸狀態(tài)或緊耦合狀態(tài)。
4.如權利要求2和3任一項所述的方法,還包括狀態(tài)檢測方法,具體包括:
檢測光學測量標志模塊在工作狀態(tài)下的位置、光學測量標志模塊安裝基座處的溫度和光學測量標志模塊安裝基座處的風速中的至少一種狀態(tài)參數(shù);和/或
檢測光學測量標志模塊是否處于在環(huán)境防護狀態(tài)、檢測光學測量標志模塊是否處于的復位狀態(tài)、處于環(huán)境防護狀態(tài)下的元器件承受的振動應力、處于環(huán)境防護狀態(tài)下的元器件承受的溫度應力和處于環(huán)境防護狀態(tài)下的元器件承受的濕度應力中的至少一種狀態(tài)參數(shù);
存儲所述狀態(tài)參數(shù)或發(fā)送所述狀態(tài)參數(shù)至攝影測量服務器、攝影測量數(shù)據(jù)處理器、攝影測量控制器和攝影測量系統(tǒng)中的至少一種。
5.如權利要求1所述的方法,還包括光學測量標志識別信息上報方法,具體包括:
將光學測量標志對應的安裝位置信息、光學測量標志識別信息中的至少一種發(fā)送至攝影測量服務器、攝影測量數(shù)據(jù)處理器、攝影測量控制器和攝影測量系統(tǒng)中的至少一種。
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