[發明專利]一種雙基線欺騙干擾檢測算法的性能分析方法

有效

• 申請號: 201711494740.5
• 申請日: 2017-12-31
• 公開（公告）號: CN108196270B
• 公開（公告）日: 2021-09-21
• 發明（設計）人: 陳帥;張博雅;蔣長輝;樊龍江;陳德潘;韓林;朱曉晗;王琛;譚聚豪;顧得友
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: G01S19/21
• 分類號: G01S19/21
• 代理公司: 南京理工大學專利中心 32203
• 代理人: 朱顯國

1.一種雙基線欺騙干擾檢測算法的性能分析方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟1、條件假設：將兩條基線S₁、S₂長度假設為高斯分布；

步驟2：判斷函數：建立欺騙檢測的判斷函數，使欺騙與未欺騙結果不同；

步驟3、性能分析模型：根據判斷函數，通過假設檢驗，建立性能分析數學模型；

步驟4、分析性能：通過模型得到算法檢測概率，確定雙基線欺騙干擾測試方法性能；

步驟1中基線S₁、S₂長度具體表示如下：

其中，d_S1，d_S2分別為雙基線的數學期望，為基線的方差，N(·)表示高斯分布。

步驟2的判斷函數為：

其中，為判斷函數的方差，ρ為相關系數，d_S1，d_S2分別為雙基線的數學期望，為基線的方差，N(·)表示高斯分布。

則步驟3建立性能分析模型步驟為：

步驟3.1、假設無欺騙干擾為假設檢驗的H₀條件，表示如下：

其中，d^ns代表無欺騙情況下的判斷函數；

步驟3.2、設置漏檢概率P_fa，計算出閾值α：

步驟3.3、假設存在欺騙為假設檢驗中的H₁條件，表示如下：

其中，d^s代表被欺騙情況下的判斷函數；

步驟3.4、根據閾值α，計算檢測概率P_d：

2.根據權利要求1所述的雙基線欺騙干擾檢測算法的性能分析方法，其特征在于，步驟2的判斷函數為最大最小模型函數d_maxmin，當未被欺騙時，判斷函數設為d_min；當受到欺騙時，判斷函數設為d_max。

3.根據權利要求2所述的雙基線欺騙干擾檢測算法的性能分析方法，其特征在于，步驟3建立性能分析模型步驟為：

步驟3.1、假設無欺騙為假設檢驗中的H₀情況，表示如下：

步驟3.2、設置漏檢概率P_fa，計算出閾值α：

步驟3.3、假設存在欺騙為假設檢驗中的H₁條件，表示如下：

步驟3.4、根據閾值α，計算檢測概率P_d：