[發明專利]一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件及方法

在審

• 申請號: 201711487254.0
• 申請日: 2017-12-29
• 公開（公告）號: CN107942276A
• 公開（公告）日: 2018-04-20
• 發明（設計）人: 方春艷;趙應應;張新麗;邢路;雷苗
• 申請（專利權）人: 西安艾力特電子實業有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司61200
• 代理人: 徐文權

1.一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件，其特征在于，包括第一同軸波導轉換器(1)、第二同軸波導轉換器(2)、短路塊(3)和1/4波長波導塊(4)，第一同軸波導轉換器(1)和第二同軸波導轉換器(2)分別與矢量網絡分析儀(6)的同軸端口連接；第一同軸波導轉換器(1)和第二同軸波導轉換器(2)相同；

當對矢量網絡分析儀(6)進行Reflect校準時，第一同軸波導轉換器(1)和第二同軸波導轉換器(2)上均安裝一個短路塊(3)；

當對矢量網絡分析儀(6)進行Thru校準時，第一同軸波導轉換器(1)和第二同軸波導轉換器(2)連接；

當對矢量網絡分析儀(6)進行Lines校準時，第一同軸波導轉換器(1)和第二同軸波導轉換器(2)之間通過1/4波長波導塊(4)連接。

2.根據權利要求1所述的一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件，其特征在于，第一同軸波導轉換器(1)的接口和第二同軸波導轉換器(2)的接口與被測波導產品波導的波導口尺寸，波導外形的長度和寬度均相同。

3.根據權利要求1所述的一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件，其特征在于，短路塊(3)為平面金屬塊，短路塊(3)的長度和寬度分別與被測波導產品波導的長度和寬度相同。

4.根據權利要求3所述的一種用于校準矢量網絡分析儀的矩形波導校準件，其特征在于，短路塊(3)的表面粗糙度Ra≤0.4，平面度≤0.01mm。

5.根據權利要求1所述的一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件，其特征在于，1/4波長波導塊(4)外形的長度和寬度分別與被測波導產品波導的長度和寬度相同，1/4波長波導塊(4)上開設有與被測波導產品波導口相同的內孔，1/4波長波導塊(4)上的內孔在1/4波長波導塊(4)上的位置與被測波導產品波導的波導口在波導上的位置相同；1/4波長波導塊(4)的厚度為波導波長的1/4倍。

6.根據權利要求5所述的一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件，其特征在于，當波導的波導口為矩形波導口時，1/4波長波導塊(4)的厚度其中：λ_g為波導波長；λ為自由空間波長；a為矩形波導口寬邊尺寸。

7.根據權利要求5所述的一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件，其特征在于，1/4波長波導塊(4)表面粗糙Ra≤0.4，平面度≤0.01mm。

8.一種校準矢量網絡分析儀的方法，其特征在于，通過權利要求1-7任意一項所述的用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件進行校準，包括如下步驟：

步驟1，在第一同軸波導轉換器(1)和第二同軸波導轉換器(2)上均安裝一個短路板(3)，對矢量網絡分析儀(6)進行Reflect校準；

步驟2，待步驟1校準完成后，從第一同軸波導轉換器(1)和第二同軸波導轉換器(2)上拆除短路板(3)，再將第一同軸波導轉換器(1)和第二同軸波導轉換器(2)連接，對矢量網絡分析儀(6)進行Thru校準；

步驟3，待步驟2校準完成后，將第一同軸波導轉換器(1)和第二同軸波導轉換器(2)拆開，再將第一同軸波導轉換器(1)和第二同軸波導轉換器(2)分別與1/4波長波導塊(4)的兩個端面連接，對矢量網絡分析儀(6)進行Lines校準；

對矢量網絡分析儀(6)的校準完成。