[發明專利]一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件及方法

在審

• 申請號: 201711487254.0
• 申請日: 2017-12-29
• 公開（公告）號: CN107942276A
• 公開（公告）日: 2018-04-20
• 發明（設計）人: 方春艷;趙應應;張新麗;邢路;雷苗
• 申請（專利權）人: 西安艾力特電子實業有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司61200
• 代理人: 徐文權

技術領域

本發明涉及矢量網絡分析儀校準技術領域，具體涉及一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件及方法。

背景技術

隨著彈載、機載和星載等整機系統要求衰減越來越小，功率越來越大的趨勢下，特別是在超過一定的頻率后，射頻同軸元器件無法滿足要求時，波導作為大功率微波傳輸器件的優勢愈發的明顯，且越來越多的得到用戶的青睞。在通過矢量網絡分析儀對波導和同軸連接器測試前，需要先對矢量網絡分析儀進行校準，目前對矢量網絡分析儀進行校準時，同軸連接器通過購買一套校準件可以覆蓋整個頻段使用，但是波導不可以，它有截止頻率，且波導口根據用戶的需求具有各種各樣的形式，每種波導的工作頻率只有某一波段，這樣就造成為測試某一種波導產品需要根據該波導口尺寸購買與其適配的校準件；有時個別種類的波導要根據用戶要求專門定制的非標準波導口產品，而非標準波導口產品根本買不到波導校準件，如圖3所示的雙脊波導口，如果進行定制，那么一套校準件的價格非常的昂貴，如果每種波導出口都配備一個校準件，這樣無形中增加很多的成本。

發明內容

為解決現有技術中存在的問題，本發明的目的在于提供一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件及方法，通過本發明能夠對矢量網絡分析儀進行校準，校準后的矢量網絡分析儀能夠對標準或非標準的波導進行測量，能夠降低購買和定制波導校準件的成本。

本發明所采用的技術方案如下：

一種用于校準矢量網絡分析儀的波導校準件，包括第一同軸波導轉換器、第二同軸波導轉換器、短路塊和1/4波長波導塊，第一同軸波導轉換器和第二同軸波導轉換器分別與矢量網絡分析儀的同軸端口連接；第一同軸波導轉換器和第二同軸波導轉換器相同；

當對矢量網絡分析儀進行Reflect校準時，第一同軸波導轉換器和第二同軸波導轉換器上均安裝一個短路塊；

當對矢量網絡分析儀進行Thru校準時，第一同軸波導轉換器和第二同軸波導轉換器連接；

當對矢量網絡分析儀進行Lines校準時，第一同軸波導轉換器和第二同軸波導轉換器之間通過1/4波長波導塊連接。

第一同軸波導轉換器的接口和第二同軸波導轉換器的接口與被測波導產品波導的波導口尺寸，波導外形的長度和寬度均相同。

短路塊為平面金屬塊，短路塊的長度和寬度分別與被測波導產品波導的長度和寬度相同。

短路塊3的表面粗糙度Ra≤0.4，平面度≤0.01mm。

1/4波長波導塊外形的長度和寬度分別與被測波導產品波導的長度和寬度相同，1/4波長波導塊上開設有與被測波導產品波導口相同的內孔，1/4波長波導塊上的內孔在1/4波長波導塊上的位置與被測波導產品波導的波導口在波導上的位置相同；1/4波長波導塊的厚度為波導波長的1/4倍。

當波導的波導口為矩形波導口時，1/4波長波導塊的厚度

其中：λ_g為波導波長；

λ為自由空間波長；

a為矩形波導口寬邊尺寸。

1/4波長波導塊表面粗糙Ra≤0.4，平面度≤0.01mm。

一種校準矢量網絡分析儀的方法，包括如下步驟：

步驟1，在第一同軸波導轉換器和第二同軸波導轉換器上均安裝一個短路板，對矢量網絡分析儀進行Reflect校準；

步驟2，待步驟1校準完成后，從第一同軸波導轉換器和第二同軸波導轉換器上拆除短路板，再將第一同軸波導轉換器和第二同軸波導轉換器連接，對矢量網絡分析儀進行Thru校準；

步驟3，待步驟2校準完成后，將第一同軸波導轉換器和第二同軸波導轉換器拆開，再將第一同軸波導轉換器和第二同軸波導轉換器分別與1/4波長波導塊的兩個端面連接，對矢量網絡分析儀進行Thru校準；

對矢量網絡分析儀的校準完成。

本發明具有如下有益效果：