[發明專利]光學測試裝置在審
| 申請號： | 201711482344.0 | 申請日： | 2017-12-29 |
| 公開（公告）號： | CN108562540A | 公開（公告）日： | 2018-09-21 |
| 發明（設計）人： | 張維維 | 申請（專利權）人： | 深圳市華星光電技術有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/01 | 分類號： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304 | 代理人： | 孫偉峰;武岑飛 |
| 地址： | 518132 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光學測試裝置 樣品光 聚光機構 透光孔 匯聚 光斑 樣品光路 光源 聚焦 | ||
1.一種光學測試裝置，包括樣品光路和位于樣品光路上并用于放置樣品的透光孔，其特征在于，所述樣品比所述透光孔小，所述光學測試裝置還包括設置在所述樣品光路上的聚光機構，以使所述樣品光路上的光經所述聚光機構匯聚在所述樣品上。
2.根據權利要求1所述的光學測試裝置，其特征在于，所述聚光機構包括一個或多個凸透鏡。
3.根據權利要求2所述的光學測試裝置，其特征在于，所述多個凸透鏡間隔地設置在所述樣品光路上。
4.根據權利要求2所述的光學測試裝置，其特征在于，所述聚光機構還包括與所述凸透鏡連接以調節所述凸透鏡與所述樣品之間的距離和/或調節所述凸透鏡沿垂直于所述樣品光路的方向的位置的調節組件。
5.根據權利要求4所述的光學測試裝置，其特征在于，所述調節組件包括導軌和滑塊，所述導軌沿所述樣品光路設置，所述滑塊設置在所述導軌上并能夠在導軌上滑動。
6.根據權利要求5所述的光學測試裝置，其特征在于，所述調節組件還包括能夠在垂直于所述樣品光路的方向上伸縮的伸縮構件，所述凸透鏡通過所述伸縮構件與所述滑塊連接。
7.根據權利要求4所述的光學測試裝置，其特征在于，所述調節組件包括與所述凸透鏡連接且能夠在垂直于所述樣品光路的方向上伸縮的伸縮構件。
8.根據權利要求1所述的光學測試裝置，其特征在于，所述光學測試裝置還包括參比光路。
9.根據權利要求1所述的光學測試裝置，其特征在于，所述透光孔為圓形、正方形或長方形。
10.根據權利要求1至9中任意一項所述的光學測試裝置，其特征在于，所述光學測試裝置為分光光度計。
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