[發明專利]電池片品質確定方法及裝置有效
| 申請號: | 201711481405.1 | 申請日: | 2017-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN108198767B | 公開(公告)日: | 2020-08-14 |
| 發明(設計)人: | 吳堅;蔣方丹;邢國強;王栩生 | 申請(專利權)人: | 蘇州阿特斯陽光電力科技有限公司;阿特斯陽光電力集團有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 215129 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電池 品質 確定 方法 裝置 | ||
本發明實施例公開了一種電池片品質確定方法及裝置,該方法通過根據電池片的轉換效率,獲得該電池片的效率品質級別,在根據電池片的品質參數,計算該電池片的填充因子損失比,最終由該電池片的效率品質級別和填充因子損失比,確定出該電池片的品質級別。本發明實施例提供的電池片品質確定方法及裝置,通過對電池片確定電池片的轉換效率后,再將轉換效率相匹配的電池片按照其填充因子損失比進行劃分,從而確定出電池片最終的品質級別,以使得采用相同品質級別的電池片制備的光伏組件之間具有相同的填充因子損失比,進而保證電池片之間的匹配關系,進一步提高采用該品質確定方法劃分的電池片制備的光伏組件的弱光響應,并提升光伏組件發電能力。
技術領域
本發明實施例涉及數據處理技術領域,尤其涉及電池片品質確定方法及裝置。
背景技術
在太陽電池運行過程中,短路電流Isc、開路電壓Voc、填充因子FF是影響太陽電池轉換效率最直接的三個電性能參數。其中,填充因子是太陽電池最大輸出功率與短路電流Isc和開路電壓Voc的乘積之比,因而填充因子越大,太陽電池的效率越高。
由于太陽電池運行時,其電極與硅片的接觸表面產生的電阻、電池內部基片產生的電阻、以及擴散區的薄層電阻等與負載串聯在同一回路上,而生成串聯電阻Rs,且該串聯電阻Rs對短路電流Isc具有重要影響;同時,由于太陽電池片存在漏電流,該漏電流與電池片的輸出電流方向相反,由此抵消部分輸出電流,使得輸出電流降低,想當于電阻的分流作用,該分流電阻即為并聯電阻Rsh,而并聯電阻Rsh對填充因子具有直接的影響,即通常情況下,并聯電阻較小時,能夠顯著降低太陽電池的填充因子。
當前,在太陽電池制程中,開路電壓Voc通常比較穩定,而串聯電阻Rs和并聯電阻Rsh往往隨制程波動比較大,由此將對填充因子FF具有較大的影響,進而影響太陽電池轉換效率。但是現有的I-V曲線測試中,串聯電阻Rs和并聯電阻Rsh都是通過擬合計算得出的,兩者之間互相影響,無法準確判斷引起填充因子FF損失的主要因素。對于按照轉換效率分檔的電池片,會將不同填充因子FF失效類型的電池片混雜在一起,這些電池片串聯形成光伏組件時,會造成電池之間的失配,造成光伏組件弱光響應下降,影響光伏組件的弱光響應,并影響光伏組件發電能力。
發明內容
有鑒于此,本發明實施例提供電池片品質確定方法及裝置,目的在于能夠通過對太陽電池進行品質分檔,提高光伏組件的弱光響應,并提升光伏組件發電能力,進而提高太陽電池的轉換效率。
第一方面,本發明實施例提供了一種電池片品質確定方法,包括:
根據所述電池片的轉換效率,獲取所述電池片的效率品質級別;
獲取所述電池片的品質參數,計算所述電池片的填充因子損失比;
根據所述效率品質級別和所述填充因子損失比,確定所述電池片的品質級別。
可選的,在所述根據所述電池片的轉換效率,獲取所述電池片的效率品質級別之前,還包括:
根據所述電池片的轉換效率,獲取所述電池片轉換效率的效率品質級別間隔。
可選的,所述品質參數包括:所述電池片的短路電流、開路電壓、串聯電阻、以及并聯電阻。
可選的,所述計算所述電池片的填充因子損失比,包括:
獲取所述開路電壓對所述電池片造成的基本填充因子損失;
根據所述基本填充因子損失,以及所述短路電流、開路電壓和串聯電阻,獲取所述電池片的第一填充因子損失;
根據所述基本填充因子損失,以及所述短路電流、開路電壓和并聯電阻,獲取所述電池片的第二填充因子損失;
根據所述第一填充因子損失與第二填充因子損失之比,計算所述電池片的填充因子損失比。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





