[發明專利]一種用于光學元件吸收率測量的標定工裝

在審

• 申請號: 201711451489.4
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN107966408A
• 公開（公告）日: 2018-04-27
• 發明（設計）人: 俞偉洋;王曦;陳堅;吳周令
• 申請（專利權）人: 合肥知常光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;B25B11/00
• 代理公司: 合肥天明專利事務所(普通合伙)34115
• 代理人: 金凱

1.一種用于光學元件吸收率測量的標定工裝，包括夾具底座(1)，其特征在于，所述夾具底座(1)上活動可拆卸連接有第一夾具(2)和第二夾具(3)，所述第一夾具(2)內設有待測樣品安裝槽(204)，所述待測樣品安裝槽(204)底部第一夾具(2)上設有待測樣品支撐板(201)，所述第一夾具(2)上端設有調整螺釘(202)，所述第二夾具(3)內設有定標樣品安裝孔(301)，所述定標樣品安裝孔(301)內設有定標樣品支撐面(302)，所述第一夾具(2)與第二夾具(3)與夾具底座(1)固定連接時所述待測樣品支撐板(201)上端面與所述定標樣品支撐面(301)處于同一平面內。

2.根據權利要求1所述的一種用于光學元件吸收率測量的標定工裝，其特征在于，所述夾具底座(1)固定連接在位于測頭(4)前方的X-Y移動平臺上。

3.根據權利要求1所述的一種用于光學元件吸收率測量的標定工裝，其特征在于，所述夾具底座(1)上設有第一夾具安裝槽(101)，所述第一夾具(2)上設有多個固定塊(203)，所述第一夾具(203)通過多個固定塊(203)可拆卸連接在夾具底座(1)上的第一夾具安裝槽(101)內。

4.根據權利要求1所述的一種用于光學元件吸收率測量的標定工裝，其特征在于，所述夾具底座(1)內設有多個第二夾具安裝槽(102)，所述第二夾具(3)可拆卸連接在第二夾具安裝槽(102)內。

5.根據權利要求1所述的一種用于光學元件吸收率測量的標定工裝，其特征在于，所述夾具底座(1)前端設有多個夾具底座拉手(103)。

6.根據權利要求1所述的一種用于光學元件吸收率測量的標定工裝，其特征在于，所述調整螺釘(202)設有多個且在第一夾具(2)一側均與布置。

7.根據權利要求1所述的一種用于光學元件吸收率測量的標定工裝，其特征在于，所述第二夾具(3)設有多個且每個第二夾具(3)上的定標樣品安裝孔(301)的截面形狀互不相同。