[發(fā)明專利]一種用于光學(xué)元件吸收率測量的標定工裝

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711451489.4
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN107966408A
• 公開（公告）日: 2018-04-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 俞偉洋;王曦;陳堅;吳周令
• 申請（專利權(quán)）人: 合肥知常光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;B25B11/00
• 代理公司: 合肥天明專利事務(wù)所(普通合伙)34115
• 代理人: 金凱

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光學(xué)元件測量標定工裝技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種用于光學(xué)元件吸收率測量的標定工裝。

背景技術(shù)

光學(xué)元件檢測設(shè)備在進行吸收率檢測時，其自身需先具備一個基準值，這個基準值需要設(shè)備先對已知吸收率值的定標樣品進行標定，將標定值儲存，作為檢測的基準值，測量其他樣品時，將測量值與基準值進行對比，從而換算出檢測樣品的吸收率。

一般在進行標定時，定標樣品與檢測樣品是共用一個裝夾位置的，進行標定時需要進行樣品的更換，如果檢測樣品與定標樣品的尺寸不同，還需要調(diào)整或更換夾具才能裝夾定標樣品，標定完成后，還需要將定標樣品拆下，用裝置儲存。整個定標過程操作流程復(fù)雜，效率較低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種用于光學(xué)元件吸收率測量的標定工裝，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：

一種光學(xué)元件吸收測量的快速標定工裝，包括夾具底座，其特征在于，所述夾具底座上活動可拆卸連接有第一夾具和第二夾具，所述第一夾具內(nèi)設(shè)有待測樣品安裝槽，所述待測樣品安裝槽底部第一夾具上設(shè)有待測樣品支撐板，所述第一夾具上端設(shè)有調(diào)整螺釘，所述第二夾具內(nèi)設(shè)有定標樣品安裝孔，所述定標樣品安裝孔內(nèi)設(shè)有定標樣品支撐面，所述第一夾具與第二夾具與夾具底座固定連接時所述待測樣品支撐板上端面與所述定標樣品支撐面處于同一平面內(nèi)。

作為本發(fā)明進一步的方案：所述夾具底座固定連接在位于測頭前方的X-Y移動平臺上

作為本發(fā)明進一步的方案：所述夾具底座上設(shè)有第一夾具安裝槽，所述第一夾具上設(shè)有多個固定塊，所述第一夾具通過多個固定塊可拆卸連接在夾具底座上的第一夾具安裝槽內(nèi)。

作為本發(fā)明進一步的方案：所述夾具底座內(nèi)設(shè)有多個第二夾具安裝槽，所述第二夾具可拆卸連接在第二夾具安裝槽內(nèi)。

作為本發(fā)明進一步的方案：所述夾具底座前端設(shè)有多個夾具底座拉手。

作為本發(fā)明進一步的方案：所述調(diào)整螺釘設(shè)有多個且在第一夾具一側(cè)均與布置。

作為本發(fā)明進一步的方案：所述第二夾具設(shè)有多個且每個第二夾具上的定標樣品安裝孔的截面形狀互不相同。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明將待檢測樣品夾具與定標樣品夾具分別固定在夾具底板上，互不干涉，可將定標樣品固定在夾具上，實現(xiàn)隨時可以進行定標的功能，在定標樣品和檢測樣品尺寸不同的情況下實現(xiàn)簡易定標，相比定標樣品與檢測樣品共用夾具時，夾具結(jié)構(gòu)簡單，成本低。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的夾具底座主視圖。

圖2為本發(fā)明的第一夾具主視圖。

圖3為本發(fā)明的第二夾具主視圖。

圖4為本發(fā)明工作狀態(tài)結(jié)構(gòu)圖。

圖中：1-夾具底座、101-第一夾具安裝槽、102-第二夾具安裝槽、103-夾具底座拉手2-第一夾具、201-待測樣品支撐板、202-調(diào)整螺釘、203-固定塊、204-待測樣品安裝槽、3-第二夾具、301-定標樣品安裝孔、302-定標樣品支撐面、4-測頭、5-待測樣品、6-定標樣品。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。