[發明專利]多頭測量設備量測點位自動分配方法

有效

• 申請號: 201711450322.6
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN108180880B
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發明（設計）人: 李敏;余智偉;邱敏
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01B21/08
• 分類號: G01B21/08;G01B11/06
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

本發明提供一種多頭測量設備量測點位自動分配方法，包括獲取所述彩膜表面所有需量測位置的點位坐標的步驟；對所述點位坐標進行分組的步驟；將各分組的所述Y軸坐標，匹配至符合測量范圍的所述支架機構的步驟；根據所述支架機構的Y軸坐標，為所述量測頭機構匹配X軸坐標的步驟；逐一將所有需量測位置的點位坐標，匹配至所述支架機構和所述量測頭機構，完成量測點位的分配；本發明提出的多頭測量設備量測點位自動分配方法，能夠精準、快速地將量測點位自動分配給對應的量測機構，且保證各量測機構之間在安全距離中允許，避免出現量測機構碰撞導致的設備宕機問題。

技術領域

本發明涉及液晶顯示器生產技術領域，尤其涉及一種多頭彩膜墊料高度測量設備量測點位自動分配方法。

背景技術

在液晶顯示器的生產過程中，墊料高度測量機是TFT-LCD(薄膜晶體管-液晶顯示面板)制程重要的光學量測機臺，主要用于量測陣列基板與彩膜基板之間的支撐物高度、線寬以及重疊情況等。

Cell Gap(盒厚)為TFT-LCD面板制造工藝中重要參數，決定液晶滴入量，支撐物高度與Cell Gap直接相關；為更精確計算每片顯示面板的液晶滴入量，在彩膜基板產品出貨前，需對母板上的所有顯示面板進行支撐物高度量測；小尺寸面板數量多，量測點位多，為滿足產線生產節拍與產能設計需要(量測快)，并減少量測設備購置數量(設備少)，PSH量測設備(墊高膜厚量測機)使用多個量測頭同時量測的設計，甚至使用雙Gantry(支架)多Head(測量頭)設計，以減少單片量測時間，提升產能。

現有技術的PSH量測設備為手動分配量測點位，如雙Gantry多Head設計的PSH量測設備，在給不同Head分配量測點位時，受同一Gantry上Head同時量測需保證Y軸坐標偏差在±2mm以內，且各Head間及Gantry間需保證安全距離的限制，在量測前需規劃各量測點位所使用的Head及量測順序、然后手動移動各軸到對應的位置獲取點位坐標，需逐步錄入各點位坐標；手動分配量測點位存在以下缺陷：1、每個點需逐點調試，在調試時需保證Head之間安全間距，調試過程中存在無效移動；2、容易出現Head相撞，設備宕機；3、需逐步錄入，重復操作(比如待測點位300個，8個Head，則需重復操作至少38次)，耗時長；4、人員容易疲憊，出現點位分配錯誤，無法移動及部分Head使用率低的問題。

綜上所述，現有的彩膜墊料高度測量設備，工作中采用手動分配量測點位，存在測量效率低、易出錯、數據出錯導致的設備宕機的缺陷，不能滿足產線生產節拍與產能設計需要。

發明內容

本發明提供一種多頭測量設備量測點位自動分配方法，能夠精準、快速地將量測點位自動分配給對應的量測機構，以解決現有的彩膜墊料高度測量設備，工作中采用手動分配量測點位，存在測量效率低、易出錯、數據出錯導致的設備宕機的缺陷，不能滿足產線生產節拍與產能設計需要的技術問題。

為解決上述問題，本發明提供的技術方案如下：

本發明提供一種多頭測量設備量測點位自動分配方法，所述多頭測量設備用以測量彩膜表面墊料高度，所述多頭測量設備包括可沿Y軸方向移動的支架機構，以及設置在所述支架上、且可沿X軸方向移動的量測頭機構；所述方法包括：

S10，獲取所述彩膜表面所有需量測位置的點位坐標；

S20，對所述點位坐標進行分組，其中，將Y軸坐標中差異性較小的點位分為一組，以滿足兩相對的所述支架機構的同時量測；

S30，將各分組的所述Y軸坐標，匹配至符合測量范圍的所述支架機構，兩所述支架機構間保持安全距離；

S40，根據所述分組排列順序，從優先級最大的Y軸坐標開始匹配至所述支架機構；

S50，根據所述支架機構的Y軸坐標，為所述量測頭機構匹配X軸坐標；匹配的所述X軸坐標需滿足相鄰所述量測頭機構之間保持安全距離。