[發明專利]一種OLED亮度的檢測方法

有效

• 申請號: 201711446529.6
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN108198528B
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 羅志猛;趙云;張為蒼
• 申請（專利權）人: 信利半導體有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/3208;G01M11/02
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 鄧義華;廖苑濱

本發明公開了一種OLED亮度的檢測方法，包括：步驟1：提供大尺寸的OLED母板，OLED母板包括相互間隔開的多個OLED顯示面板；步驟2：選取一個OLED顯示面板，在該OLED顯示面板的區域設置由幾個到幾十個像素緊密排列組成的檢測塊，檢測塊所在的OLED顯示面板上設置有正負極輸入線，調節電壓使檢測塊內的像素亮度變動；采集大批量生產的檢測塊在某電壓下的亮度數據，并根據檢測塊所在的OLED顯示面板制備得到的OLED模組的亮度情況及OLED模組亮度標準，確定檢測塊在上述電壓下的亮度檢測標準；步驟4：確定待測的檢測塊在對應的電壓下的亮度是否在上述亮度檢測標準內。本發明無需將OLED母板切割成單個OLED顯示面板就可以方便快捷地檢測OLED母板的亮度是否達到要求。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，特別是涉及了一種OLED亮度的檢測方法。

背景技術

有機電致發光器件(OLED)由于具有發光效率高、色彩豐富、機械可柔、超薄便攜等優異性能在下一代高分辨率新型顯示、傳感器用特殊光源、固態照明 等領域中具有廣闊的應用前景。

亮度是表征OLED性能的重要參數之一。對于OLED模組，產品達到規格書定義的亮度是一項基本要求。管控好OLED模組亮度的前提是保證切割前的大片面板亮度達標。常用的檢測及控制大片面板亮度的方法是：通過小批量試產初步確定某電壓下的亮度標準，再根據量產時模組的表現再對該標準進行微調。量產中，對于大片亮度略低（亮度大于最低亮度標準*75%）的情況，則需要采用試綁定或高電流密度輸入檢測。試綁定是一種最穩妥的辦法，但工作效率極低。而一般電壓檢測（最大片常用的檢測方法）或電流檢測達到的亮度只有1萬nits以下，對于模擬模組亮度（一般在幾萬nits到十萬nits之間）的情況實用性不強，常常導致誤判、導致模組大批量亮度不達標。

發明內容

為了彌補已有技術的缺陷，本發明提供一種OLED亮度的檢測方法。

本發明所要解決的技術問題通過以下技術方案予以實現：

一種OLED亮度的檢測方法，包括如下步驟：

步驟1：提供大尺寸的OLED 母板，所述OLED母板包括相互間隔開的多個OLED顯示面板；

步驟2：從上述OLED 母板的多個OLED顯示面板中選取一個OLED顯示面板，在該OLED顯示面板的區域設置由幾個到幾十個像素緊密排列組成的檢測塊，所述檢測塊所在的OLED顯示面板上設置有正負極輸入線以輸入電壓，使得所述檢測塊采用電壓驅動點亮所述檢測塊內的像素，調節電壓使檢測塊內的像素亮度在1萬nits至20萬nits范圍內變動；

步驟3：采集大批量生產的檢測塊在某電壓下的亮度數據，并根據檢測塊所在的OLED顯示面板制備得到的OLED模組的亮度情況及OLED模組亮度標準，確定檢測塊在上述電壓下的亮度檢測標準；

步驟4：確定待測的檢測塊在對應的電壓下的亮度是否在上述亮度檢測標準內。

進一步地，OLED模組的制備方法是：將上述OLED 母板切割成單個OLED顯示面板后，綁定驅動IC及FPC成為OLED模組。

進一步地，步驟2中從上述OLED 母板中選取一個位于所述OLED 母板邊緣的OLED顯示面板。

進一步地，步驟2中所述的亮度范圍的下限為1萬nits。

進一步地，所述檢測塊的形狀為正方形或圓形。

進一步地，所述檢測塊內像素的個數為N²個，其中N為大于1的正整數。

進一步地，同一OLED顯示面板中檢測塊的數量為一個。

進一步地，同一OLED顯示面板中檢測塊的數量為兩個，兩個檢測塊由同一電路輸入電壓，且兩個檢測塊之間采用并聯設計，兩個檢測塊分別由不同的SEG及COM控制。