[發明專利]一種OLED亮度的檢測方法

有效

• 申請號: 201711446529.6
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN108198528B
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 羅志猛;趙云;張為蒼
• 申請（專利權）人: 信利半導體有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/3208;G01M11/02
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 鄧義華;廖苑濱

1.一種OLED亮度的檢測方法，包括如下步驟：

步驟1：提供大尺寸的OLED 母板，所述OLED母板包括相互間隔開的多個OLED顯示面板；

步驟2：從上述OLED 母板的多個OLED顯示面板中選取一個OLED顯示面板，在該OLED顯示面板的區域設置由幾個到幾十個像素緊密排列組成的檢測塊，所述檢測塊所在的OLED顯示面板上設置有正負極輸入線以輸入電壓，使得所述檢測塊采用電壓驅動點亮所述檢測塊內的像素，調節電壓使檢測塊內的像素亮度在1萬nits至20萬nits范圍內變動；

步驟3：采集大批量生產的檢測塊在某電壓下的亮度數據，并根據檢測塊所在的OLED顯示面板制備得到的OLED模組的亮度情況及OLED模組亮度標準，確定檢測塊在上述電壓下的亮度檢測標準；

步驟4：確定待測的檢測塊在對應的電壓下的亮度是否在上述亮度檢測標準內。

2.如權利要求1所述的OLED亮度的檢測方法，其特征在于，OLED模組的制備方法是：將OLED 母板切割成單個OLED顯示面板后，綁定驅動IC及FPC成為OLED模組。

3.如權利要求1所述的OLED亮度的檢測方法，其特征在于，步驟2中從上述OLED 母板的多個OLED顯示面板中選取一個位于所述OLED 母板邊緣的OLED顯示面板。

4.如權利要求1所述的OLED亮度的檢測方法，其特征在于，步驟2中所述的亮度范圍的下限為1萬nits。

5.如權利要求1所述的OLED亮度的檢測方法，其特征在于，所述檢測塊的形狀為正方形或圓形。

6.如權利要求1所述的OLED亮度的檢測方法，其特征在于，所述檢測塊內像素的個數為N²個，其中N為大于1的正整數。

7.如權利要求1所述的OLED亮度的檢測方法，其特征在于，同一OLED顯示面板中檢測塊的數量為一個。

8.如權利要求1所述的OLED亮度的檢測方法，其特征在于，同一OLED顯示面板中檢測塊的數量為兩個，兩個檢測塊由同一電路輸入電壓，且兩個檢測塊之間采用并聯設計，兩個檢測塊分別由不同的SEG及COM控制。