[發明專利]測試對象安全性檢測方法和測試對象安全性檢測設備

在審

• 申請號: 201711442583.3
• 申請日: 2017-12-26
• 公開（公告）號: CN107991285A
• 公開（公告）日: 2018-05-04
• 發明（設計）人: 張建紅;王紅球;左佳倩;劉海輝
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65;G01N21/64
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 張啟程

1.一種測試對象安全性檢測方法，包括：

將激發光引導至待測樣品并收集來自所述待測樣品的第一光信號并由所述第一光信號生成第一光譜；

在預定時間間隔后再次將激發光引導至所述待測樣品并收集來自所述待測樣品的第二光信號并由所述第二光信號生成第二光譜；以及

將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括：比較所述第一光譜的總體積分強度和所述第二光譜的總體積分強度的差異，在所述第一光譜的總體積分強度和所述第二光譜的總體積分強度的差異超出第一閾值的情況下，則確定待測樣品已損壞；反之，則確定待測樣品未損壞。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括：

分別提取所述第一光譜的熒光包絡和所述第二光譜的熒光包絡；以及

將所述第一光譜的熒光包絡和所述第二光譜的熒光包絡進行比較來確定所述待測樣品是否損壞。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，所述將所述第一光譜的熒光包絡和所述第二光譜的熒光包絡進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括：

檢測所述第一光譜的熒光包絡中的一個或更多個峰的位置和強度以獲得一個或更多個第一考察熒光強度；

檢測所述第二光譜的熒光包絡中與所述一個或更多個峰的位置對應的位置處的強度以獲得一個或更多個第二考察熒光強度；

在所述第一考察熒光強度和所述第二考察熒光強度的差異超出第二閾值的情況下，則確定待測樣品已損壞；反之，則確定待測樣品未損壞。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其中，所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括：

分別提取所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰和所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰；以及

將所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰的位置和所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰的位置進行比較，在所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰的位置與所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰的位置的差異大于第三閾值的情況下，則確定待測樣品已損壞。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其中，所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括：

分別提取所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰和所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰；以及

將所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰的強度和所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰的強度進行比較，在所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰的強度與所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰的強度的差異大于第四閾值的情況下，則確定待測樣品已損壞。

7.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其中，所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括：

計算第一光譜和第二光譜的相似度，在所述第一光譜和所述第二光譜的相似度小于第五閾值的情況下，則確定待測樣品已損壞；反之，則確定待測樣品未損壞。

8.根據權利要求1所述的方法，其中，所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括：比較所述第一光譜的總體積分強度和所述第二光譜的總體積分強度的差異，在所述第一光譜的總體積分強度和所述第二光譜的總體積分強度的差異超出第一閾值的情況下，則確定待測樣品已損壞；反之，則執行如下步驟：

分別提取所述第一光譜的熒光包絡和所述第二光譜的熒光包絡；檢測所述第一光譜的熒光包絡中的一個或更多個峰的位置和強度以獲得一個或更多個第一考察熒光強度；

檢測所述第二光譜的熒光包絡中與所述一個或更多個峰的位置對應的位置處的強度以獲得一個或更多個第二考察熒光強度；

在所述第一考察熒光強度和所述第二考察熒光強度的差異超出第二閾值的情況下，則確定待測樣品已損壞；反之，則執行以下步驟：

分別提取所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰和所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰；

將所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰的位置和所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰的位置進行比較，在所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰的位置與所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰的位置的差異大于第三閾值的情況下，則確定待測樣品已損壞。