[發(fā)明專利]測試對象安全性檢測方法和測試對象安全性檢測設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711442583.3 | 申請日: | 2017-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN107991285A | 公開(公告)日: | 2018-05-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張建紅;王紅球;左佳倩;劉海輝 | 申請(專利權(quán))人: | 同方威視技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65;G01N21/64 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司11021 | 代理人: | 張啟程 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 對象 安全性 檢測 方法 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的實施例涉及光譜檢測領(lǐng)域,尤其涉及一種測試對象安全性檢測方法和測試對象安全性檢測設(shè)備。
背景技術(shù)
光譜分析技術(shù),例如,拉曼光譜分析技術(shù)、熒光光譜分析技術(shù)等等廣泛應(yīng)用于物質(zhì)檢測和分析。其中拉曼光譜分析技術(shù)是一種以拉曼散射效應(yīng)為基礎(chǔ)的非接觸式光譜分析技術(shù),它能對物質(zhì)的成分進行定性、定量分析。拉曼光譜是一種分子振動光譜,它可以反映分子的指紋特征,可用于對物質(zhì)的檢測。拉曼光譜檢測通過檢測待測物對于激發(fā)光的拉曼散射效應(yīng)所產(chǎn)生的拉曼光譜來檢測和識別物質(zhì)。拉曼光譜檢測方法已經(jīng)廣泛應(yīng)用于液體安檢、珠寶檢測、爆炸物檢測、毒品檢測、藥品檢測等領(lǐng)域。
近年來,拉曼光譜分析技術(shù)在危險品檢查和物質(zhì)識別等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。在物質(zhì)識別領(lǐng)域,由于各種物質(zhì)的顏色、形狀各異,人們通常無法準確判斷物質(zhì)的屬性,而拉曼光譜由被檢物的分子能級結(jié)構(gòu)決定,因而拉曼光譜可作為物質(zhì)的“指紋”信息,用于物質(zhì)識別。因此拉曼光譜分析技術(shù)在海關(guān)、公共安全、食品藥品、環(huán)境等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。
在實際的光譜分析中,往往需要使用具有一定能量的激發(fā)光,而由于待測樣品的成分往往是未知的,因此待測樣品存在一定的被損壞(如點燃、燒蝕)的風(fēng)險。目前僅憑人工預(yù)先觀察來防范該風(fēng)險。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提出了一種能夠?qū)τ谟糜诠庾V分析的測試對象的安全性進行檢測的方法和設(shè)備,其能夠有效地避免在光譜信號采集中待測樣品被激發(fā)光損毀所造成的檢測風(fēng)險。
本發(fā)明的實施例提供了一種測試對象安全性檢測方法,包括:將激發(fā)光引導(dǎo)至待測樣品并收集來自所述待測樣品的第一光信號并由所述第一光信號生成第一光譜;在預(yù)定時間間隔后再次將激發(fā)光引導(dǎo)至所述待測樣品并收集來自所述待測樣品的第二光信號并由所述第二光信號生成第二光譜;以及將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞。
在一實施例中,所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括:比較所述第一光譜的總體積分強度和所述第二光譜的總體積分強度的差異,在所述第一光譜的總體積分強度和所述第二光譜的總體積分強度的差異超出第一閾值的情況下,則確定待測樣品已損壞;反之,則確定待測樣品未損壞。
在一實施例中,所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括:分別提取所述第一光譜的熒光包絡(luò)和所述第二光譜的熒光包絡(luò);以及將所述第一光譜的熒光包絡(luò)和所述第二光譜的熒光包絡(luò)進行比較來確定所述待測樣品是否損壞。
在一實施例中,所述將所述第一光譜的熒光包絡(luò)和所述第二光譜的熒光包絡(luò)進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括:檢測所述第一光譜的熒光包絡(luò)中的一個或更多個峰的位置和強度以獲得一個或更多個第一考察熒光強度;檢測所述第二光譜的熒光包絡(luò)中與所述一個或更多個峰的位置對應(yīng)的位置處的強度以獲得一個或更多個第二考察熒光強度;在所述第一考察熒光強度和所述第二考察熒光強度的差異超出第二閾值的情況下,則確定待測樣品已損壞;反之,則確定待測樣品未損壞。
在一實施例中,所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括:分別提取所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰和所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰;以及將所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰的位置和所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰的位置進行比較,在所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰的位置與所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰的位置的差異大于第三閾值的情況下,則確定待測樣品已損壞。
在一實施例中,所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括:分別提取所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰和所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰;以及將所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰的強度和所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰的強度進行比較,在所述第一光譜中的拉曼光譜特征峰的強度與所述第二光譜中的拉曼光譜特征峰的強度的差異大于第四閾值的情況下,則確定待測樣品已損壞。
在一實施例中,所述將所述第一光譜和所述第二光譜進行比較來確定所述待測樣品是否損壞包括:計算第一光譜和第二光譜的相似度,在所述第一光譜和所述第二光譜的相似度小于第五閾值的情況下,則確定待測樣品已損壞;反之,則確定待測樣品未損壞。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





