[發(fā)明專利]LCD質(zhì)檢方法、裝置、CIM系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711442282.0
• 申請(qǐng)日: 2017-12-25
• 公開（公告）號(hào): CN108227250B
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張永易;鄭穎博
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢華顯光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 楊艇要

本發(fā)明公開了一種LCD質(zhì)檢方法，該方法包括：獲取待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的制程參數(shù)；確定所述待檢驗(yàn)LCD的制程參數(shù)，與預(yù)存的歷史制程參數(shù)的相似度；基于所述相似度，結(jié)合預(yù)存的所述歷史制程參數(shù)對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配所述待檢驗(yàn)LCD對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果；從所述匹配的質(zhì)檢結(jié)果中，提取出滿足預(yù)設(shè)條件的質(zhì)檢結(jié)果，作為所述待檢驗(yàn)LCD的預(yù)測(cè)質(zhì)檢結(jié)果。本發(fā)明還公開了一種LCD質(zhì)檢裝置、CIM系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)。本發(fā)明可節(jié)約人工和時(shí)間成本，提高LCD產(chǎn)品的光學(xué)不良檢出率，降低光學(xué)不良的誤判率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及LCD質(zhì)檢技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種LCD質(zhì)檢方法、裝置、CIM系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

LCD(Liquid Crystal Display)液晶顯示屏具有低耗電量、體積小、零輻射等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于PC、電視機(jī)、移動(dòng)終端等設(shè)備的屏幕顯示。為保證LCD的顯示功能，在LCD產(chǎn)出后，需對(duì)其進(jìn)行品質(zhì)檢驗(yàn)。目前LCD的質(zhì)檢，是由人工對(duì)LCD進(jìn)行畫面和外觀檢驗(yàn)來實(shí)現(xiàn)的，且需要檢驗(yàn)多個(gè)畫面，這一過程主要依靠質(zhì)檢人員的經(jīng)驗(yàn)和肉眼敏銳程度，容易造成光學(xué)不良的錯(cuò)判和漏判等誤判情況。

上述內(nèi)容僅用于輔助理解本發(fā)明的技術(shù)方案，并不代表承認(rèn)上述內(nèi)容是現(xiàn)有技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種LCD質(zhì)檢方法、裝置、CIM系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，旨在解決現(xiàn)有僅靠人工進(jìn)行LCD質(zhì)檢的方式，易出現(xiàn)誤判情況的技術(shù)問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種LCD質(zhì)檢方法，該方法包括：

獲取待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的制程參數(shù)；

確定所述待檢驗(yàn)LCD的制程參數(shù)，與預(yù)存的歷史制程參數(shù)的相似度；

基于所述相似度，結(jié)合預(yù)存的所述歷史制程參數(shù)對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配所述待檢驗(yàn)LCD對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果；

從所述匹配的質(zhì)檢結(jié)果中，提取出滿足預(yù)設(shè)條件的質(zhì)檢結(jié)果，作為所述待檢驗(yàn)LCD的預(yù)測(cè)質(zhì)檢結(jié)果。

可選地，所述制程參數(shù)包括壓頭溫度、載臺(tái)溫度、本壓時(shí)間和本壓溫度，所述質(zhì)檢結(jié)果包括光學(xué)不良的種類和不良率。

可選地，所述獲取待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的制程參數(shù)的步驟之前，包括：

獲取待檢驗(yàn)LCD的初始制程參數(shù)；

對(duì)所述初始制程參數(shù)，以及預(yù)存的初始?xì)v史制程參數(shù)，分別進(jìn)行歸一化處理，得到所述待檢驗(yàn)LCD的制程參數(shù)，以及歷史制程參數(shù)。

可選地，所述確定所述待檢驗(yàn)LCD的制程參數(shù)，與預(yù)存的歷史制程參數(shù)的相似度的步驟包括：

分別計(jì)算待檢驗(yàn)LCD的制程參數(shù)與預(yù)存的歷史制程參數(shù)的歐氏距離，得到對(duì)應(yīng)的歐式距離數(shù)據(jù)；

所述基于所述相似度，結(jié)合預(yù)存的所述歷史制程參數(shù)對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配所述待檢驗(yàn)LCD對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果的步驟包括：

根據(jù)所述歐式距離數(shù)據(jù)，結(jié)合預(yù)存的所述歷史制程參數(shù)對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配所述待檢驗(yàn)LCD對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果。

可選地，所述根據(jù)所述歐式距離數(shù)據(jù)，結(jié)合預(yù)存的所述歷史制程參數(shù)對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配所述待檢驗(yàn)LCD對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果的步驟包括：

按照由小到大的順序?qū)λ鰵W式距離數(shù)據(jù)進(jìn)行排序，得到歐式距離數(shù)據(jù)序列；

按照預(yù)設(shè)規(guī)則，從所述歐式距離數(shù)據(jù)序列中提取出目標(biāo)歐式距離數(shù)據(jù)；

將所述目標(biāo)歐式距離數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的歷史制程參數(shù)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配為所述待檢驗(yàn)LCD對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果。

可選地，所述從所述匹配的質(zhì)檢結(jié)果中，提取出滿足預(yù)設(shè)條件的質(zhì)檢結(jié)果，作為所述待檢驗(yàn)LCD的預(yù)測(cè)質(zhì)檢結(jié)果的步驟包括：