[發(fā)明專利]LCD質(zhì)檢方法、裝置、CIM系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711442282.0
• 申請(qǐng)日: 2017-12-25
• 公開（公告）號(hào): CN108227250B
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張永易;鄭穎博
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢華顯光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 楊艇要

1.一種LCD質(zhì)檢方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的制程參數(shù)；

確定所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的制程參數(shù)，與預(yù)存的歷史制程參數(shù)的相似度；基于所述相似度，結(jié)合所述預(yù)存的歷史制程參數(shù)對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果；

從匹配的質(zhì)檢結(jié)果中，提取出滿足預(yù)設(shè)條件的質(zhì)檢結(jié)果，作為所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的預(yù)測(cè)質(zhì)檢結(jié)果；

其中，所述確定所述待檢驗(yàn)LCD的制程參數(shù)，與所述預(yù)存的歷史制程參數(shù)的相似度的步驟包括：分別計(jì)算待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的制程參數(shù)與所述預(yù)存的歷史制程參數(shù)的歐氏距離，得 到對(duì)應(yīng)的歐氏距離數(shù)據(jù)；

所述基于所述相似度，結(jié)合所述預(yù)存的歷史制程參數(shù)對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果的步驟包括：

根據(jù)所述歐氏距離數(shù)據(jù)，結(jié)合所述預(yù)存的歷史制程參數(shù)對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果；

其中，所述根據(jù)所述歐氏距離數(shù)據(jù)，結(jié)合所述預(yù)存的歷史制程參數(shù)對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配所述待檢驗(yàn) LCD對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果的步驟包括：

按照由小到大的順序?qū)λ鰵W氏距離數(shù)據(jù)進(jìn)行排序，得到歐氏距離數(shù)據(jù)序列；

從所述歐氏距離數(shù)據(jù)序列中提取出目標(biāo)歐氏距離數(shù)據(jù)；將所述目標(biāo)歐氏距離數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的歷史制程參數(shù)的質(zhì)檢結(jié)果，匹配為所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏對(duì)應(yīng)的質(zhì)檢結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的LCD質(zhì)檢方法，其特征在于，所述制程參數(shù)包括壓頭溫度、載臺(tái)溫度、本壓時(shí)間和本壓溫度，所述質(zhì)檢結(jié)果包括光學(xué)不良的種類和不良率。

3.如權(quán)利要求1所述的LCD質(zhì)檢方法，其特征在于，所述獲取待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的制程參數(shù)的步驟之前，包括：

獲取待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的初始制程參數(shù)；

對(duì)所述初始制程參數(shù)，以及所述預(yù)存的歷史制程參數(shù)，分別進(jìn)行歸一化處理，得到所述待檢驗(yàn)LCD的制程參數(shù)，以及歷史制程參數(shù)。

4.如權(quán)利要求3所述的LCD質(zhì)檢方法，其特征在于，所述從所述匹配的質(zhì)檢結(jié)果中，提取出滿足預(yù)設(shè)條件的質(zhì)檢結(jié)果，作為所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的預(yù)測(cè)質(zhì)檢結(jié)果的步驟包括：

確定所述匹配的質(zhì)檢結(jié)果中，不同的質(zhì)檢結(jié)果的數(shù)量；

選取數(shù)量最多的質(zhì)檢結(jié)果，作為所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的預(yù)測(cè)質(zhì)檢結(jié)果。

5.如權(quán)利要求1所述的LCD質(zhì)檢方法，其特征在于，所述方法還包括：將所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的預(yù)測(cè)質(zhì)檢結(jié)果發(fā)送至人工質(zhì)檢工段，供所述人工質(zhì)檢工段對(duì)所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏進(jìn)行質(zhì)檢，以確定所述待檢驗(yàn)LCD液晶顯示屏的最終質(zhì)檢結(jié)果。

6.一種LCD質(zhì)檢裝置，其特征在于，所述LCD質(zhì)檢裝置包括：存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的LCD質(zhì)檢程序，LCD質(zhì)檢程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的LCD質(zhì)檢方法的步驟。

7.一種CIM系統(tǒng)，其特征在于，所述CIM系統(tǒng)包括：bonding模塊、全貼合模塊、組裝模塊、OTP模塊、CIM系統(tǒng)質(zhì)檢模塊、人工質(zhì)檢模塊和LCD質(zhì)檢程序，所述LCD質(zhì)檢程序被所述CIM系統(tǒng)質(zhì)檢模塊執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的LCD質(zhì)檢方法的步驟。

8.一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有LCD質(zhì)檢程序，所述LCD質(zhì)檢程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的LCD質(zhì)檢方法的步驟。