[發(fā)明專利]光感式表面缺陷檢測(cè)設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711437356.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108051447A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-05-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 董寧;劉文秋;黃慶 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華測(cè)檢測(cè)認(rèn)證集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 518101 廣東省*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光感式 表面 缺陷 檢測(cè) 設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種光感式表面缺陷檢測(cè)設(shè)備,其運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)包括第三滑動(dòng)機(jī)構(gòu)、相對(duì)設(shè)置的第一滑動(dòng)機(jī)構(gòu)及第二滑動(dòng)機(jī)構(gòu);第一滑動(dòng)機(jī)構(gòu)包括第一X滑動(dòng)機(jī)構(gòu)及第一Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu),且第一Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)于第一X滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上;第二滑動(dòng)機(jī)構(gòu)包括第二X滑動(dòng)機(jī)構(gòu)及第二Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu),且第二Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)于第二X滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上;第三滑動(dòng)機(jī)構(gòu)包括Z滑動(dòng)機(jī)構(gòu),Z滑動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)于第一Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上;其攝像系統(tǒng)包括攝像頭、上夾板機(jī)構(gòu)及下夾板機(jī)構(gòu);上夾板機(jī)構(gòu)裝設(shè)于Z滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上,且為透明結(jié)構(gòu);下夾板機(jī)構(gòu)設(shè)于第二Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上,被測(cè)球體被夾設(shè)于上夾板機(jī)構(gòu)與下夾板機(jī)構(gòu)之間。本發(fā)明是一種能夠極大地提高檢測(cè)的精確度、重復(fù)性高、方便圖像分析和打印的光感式表面缺陷檢測(cè)設(shè)備。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及屬于測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種能夠極大地提高檢測(cè)的精確度、重復(fù)性高、方便圖像分析和打印的光感式表面缺陷檢測(cè)設(shè)備。
背景技術(shù)
隨著機(jī)械工業(yè)的不斷發(fā)展,對(duì)軸承動(dòng)態(tài)性能的不斷提高,鋼球表面缺陷直接影響軸承動(dòng)態(tài)性能,因此改善鋼球的表面缺陷已越來(lái)越受到行業(yè)的普遍關(guān)注。鋼球表面缺陷測(cè)量?jī)x是測(cè)量鋼球表面缺陷常用的設(shè)備,隨著對(duì)鋼球精度的要求不斷提高,鋼球表面缺陷測(cè)量?jī)x也不斷更新?lián)Q代,但是,如何按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法對(duì)鋼球表面缺陷作出合理的評(píng)定仍然是被關(guān)注的核心問(wèn)題。
目前行業(yè)中,關(guān)于鋼球表面缺陷執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,鋼球表面缺陷的評(píng)定參數(shù)為輪廓算術(shù)平均偏差Ra和輪廓最大高度Ry,且Ra和Ry兩者應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種能夠極大地提高檢測(cè)的精確度、重復(fù)性高、方便圖像分析和打印的光感式表面缺陷檢測(cè)設(shè)備。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供的技術(shù)方案為:提供一種光感式表面缺陷檢測(cè)設(shè)備,用于測(cè)量球體的表面缺陷,包括:
支架,所述支架包括底板及設(shè)于所述底板兩側(cè)的立柱,及跨設(shè)于所述立柱上的橫梁;
運(yùn)動(dòng)系統(tǒng),所述運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)包括第三滑動(dòng)機(jī)構(gòu)、相對(duì)設(shè)置的第一滑動(dòng)機(jī)構(gòu)及第二滑動(dòng)機(jī)構(gòu);所述第一滑動(dòng)機(jī)構(gòu)包括第一X滑動(dòng)機(jī)構(gòu)及第一Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu),且所述第一Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)于所述第一X滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上;所述第二滑動(dòng)機(jī)構(gòu)包括第二X滑動(dòng)機(jī)構(gòu)及第二Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu),且所述第二Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)于所述第二X滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上;所述第三滑動(dòng)機(jī)構(gòu)包括Z滑動(dòng)機(jī)構(gòu),所述Z滑動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)于所述第一Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上;
攝像系統(tǒng),所述攝像系統(tǒng)包括攝像頭、光源、上夾板機(jī)構(gòu)及下夾板機(jī)構(gòu);所述上夾板機(jī)構(gòu)裝設(shè)于所述Z滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上,且為透明結(jié)構(gòu);所述下夾板機(jī)構(gòu)設(shè)于所述第二Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上,被測(cè)球體被夾設(shè)于所述上夾板機(jī)構(gòu)與下夾板機(jī)構(gòu)之間,所述運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)所述上夾板機(jī)構(gòu)及下夾板機(jī)構(gòu)做反向運(yùn)動(dòng),帶動(dòng)所述被測(cè)球體進(jìn)行原地滾動(dòng),所述攝像頭對(duì)所述被測(cè)球體的圖像進(jìn)行采集。
所述運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)中的每個(gè)滑動(dòng)機(jī)構(gòu)均包括:伺服電機(jī)及導(dǎo)軌副,所述導(dǎo)軌副包括導(dǎo)軌及滑動(dòng)地安裝于所述導(dǎo)軌上的滑塊。
所述第一Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)于所述第一X滑動(dòng)機(jī)構(gòu)的滑塊上;所述第二Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)于所述第二X滑動(dòng)機(jī)構(gòu)的滑塊上。
所述Z滑動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)于所述第一Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上,所述Z滑動(dòng)機(jī)構(gòu)豎直地設(shè)于所述第一Y滑動(dòng)機(jī)構(gòu)的滑塊上,且所述Z滑動(dòng)機(jī)構(gòu)的滑塊上固定有一安裝板,所述上夾板機(jī)構(gòu)安裝于所述安裝板上。
所述攝像系統(tǒng)的光源為環(huán)形光源。
還包括用于固定所述環(huán)形光源的光源支架,所述光源支架包括兩垂吊于所述橫梁上的豎直部及連接于所述豎直部上的水平部,所述水平部開(kāi)設(shè)有與所述環(huán)形光源配套使用的通孔。
還包括攝像頭位置調(diào)整裝置,所述攝像頭位置調(diào)整裝置設(shè)于所述橫梁上,且對(duì)所述攝像頭的位置進(jìn)行上下調(diào)整。
所述上夾板機(jī)構(gòu)包括用于與所述安裝板固定連接的豎直板及連接于所述豎直板上的水平板,所述豎直板與所述水平板之間還設(shè)有肋板。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
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