[發明專利]光感式表面缺陷檢測設備

在審

• 申請號: 201711437356.1
• 申請日: 2017-12-26
• 公開（公告）號: CN108051447A
• 公開（公告）日: 2018-05-18
• 發明（設計）人: 董寧;劉文秋;黃慶
• 申請（專利權）人: 華測檢測認證集團股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光感式表面缺陷檢測設備，用于測量球體的表面缺陷，其特征在于，包括：

支架，所述支架包括底板及設于所述底板兩側的立柱，及跨設于所述立柱上的橫梁；

運動系統，所述運動系統包括第三滑動機構、相對設置的第一滑動機構及第二滑動機構；所述第一滑動機構包括第一X滑動機構及第一Y滑動機構，且所述第一Y滑動機構設于所述第一X滑動機構上；所述第二滑動機構包括第二X滑動機構及第二Y滑動機構，且所述第二Y滑動機構設于所述第二X滑動機構上；所述第三滑動機構包括Z滑動機構，所述Z滑動機構設于所述第一Y滑動機構上；

攝像系統，所述攝像系統包括攝像頭、光源、上夾板機構及下夾板機構；所述攝像頭與被測球體分別位于環形光源的正上方與正下方；所述上夾板機構裝設于所述Z滑動機構上，且為透明結構；所述下夾板機構設于所述第二Y滑動機構上，被測球體被夾設于所述上夾板機構與下夾板機構之間，所述運動系統驅動所述上夾板機構及下夾板機構做反向運動，帶動所述被測球體進行原地滾動，所述攝像頭對所述被測球體的圖像進行采集。

2.如權利要求1所述的光感式表面缺陷檢測設備，其特征在于：所述運動系統中的每個滑動機構均包括：伺服電機及導軌副，所述導軌副包括導軌及滑動地安裝于所述導軌上的滑塊。

3.如權利要求2所述的光感式表面缺陷檢測設備，其特征在于：所述第一Y滑動機構設于所述第一X滑動機構的滑塊上；所述第二Y滑動機構設于所述第二X滑動機構的滑塊上。

4.如權利要求2所述的光感式表面缺陷檢測設備，其特征在于：所述Z滑動機構設于所述第一Y滑動機構上，所述Z滑動機構豎直地設于所述第一Y滑動機構的滑塊上，且所述Z滑動機構的滑塊上固定有一安裝板，所述上夾板機構安裝于所述安裝板上。

5.如權利要求1所述的光感式表面缺陷檢測設備，其特征在于：所述攝像系統的光源為環形光源。

6.如權利要求5所述的光感式表面缺陷檢測設備，其特征在于：還包括用于固定所述環形光源的光源支架，所述光源支架包括兩垂吊于所述橫梁上的豎直部及連接于所述豎直部上的水平部，所述水平部開設有與所述環形光源配套使用的通孔。

7.如權利要求5所述的光感式表面缺陷檢測設備，其特征在于：還包括攝像頭位置調整裝置，所述攝像頭位置調整裝置設于所述橫梁上，且對所述攝像頭的位置進行上下調整。

8.如權利要求4所述的光感式表面缺陷檢測設備，其特征在于：所述上夾板機構包括用于與所述安裝板固定連接的豎直板及連接于所述豎直板上的水平板，所述豎直板與所述水平板之間還設有肋板。