[發明專利]閃爍體的余輝測試裝置

在審

• 申請號: 201711428826.8
• 申請日: 2017-12-26
• 公開（公告）號: CN107861146A
• 公開（公告）日: 2018-03-30
• 發明（設計）人: 張清軍;張文劍;鄒湘;孫立風;張戰強
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00;G01N23/04
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038
• 代理人: 艾春慧

技術領域

本發明涉及射線檢測領域，特別涉及一種閃爍體的余輝測試裝置。

背景技術

在基于X光機的探測器產品中，由碘化銫晶體制作的探測器的余輝問題比較嚴重，尤其對于圖像穿透指標造成很大影響。為了提高圖像穿透指標的準確性，在實際使用過程中，需要對圖像數據中的余輝進行扣除。此時就需要對碘化銫晶體的余輝數據進行準確測試。

現有技術中余輝測試裝置一般采用皮帶帶動鋼板來模擬光機快速關斷的過程。發明人經過分析發現，皮帶帶動鋼板啟動和停止存在加速減速過程，因此鋼板在移動過程的穩定性不足，導致每次測試出現偏差，進而導致余輝測試數據不準確。

發明內容

本發明的目的在于提供一種閃爍體的余輝測試裝置，用于提高余輝測試的準確性。

本發明提供一種閃爍體的余輝測試裝置，包括射線發生器、轉動體和余輝探測器，轉動體用于設置于射線發生器和待測閃爍體之間且設置有用于使射線穿過的出射孔，轉動體相對于射線發生器勻速轉動以實現對待測閃爍體進行射線照射的通斷控制，余輝探測器用于接收待測閃爍體的余輝。

進一步地，轉動體包括柱狀轉動體，柱狀轉動體繞其軸線轉動。

進一步地，出射孔包括穿過柱狀轉動體的軸線且在沿柱狀轉動體的直徑方向延伸的長條孔。

進一步地，長條孔的截面面積不變。

進一步地，長條孔具有分別設置于柱狀轉動體的軸線兩側的第一分段和第二分段，射線依次通過第一分段和第二分段以照射待測閃爍體，其中，從柱狀轉動體的軸線到徑向外側，第一分段的截面面積不變，第二分段的截面面積逐漸變大；或者，從柱狀轉動體的軸線到徑向外側，第一分段和第二分段的截面面積均逐漸變大。

進一步地，從柱狀轉動體的軸線到徑向外側，第一分段和第二分段的截面面積均逐漸變大且第一分段和第二分段的截面為扇形。

進一步地，第二分段的靠近第一分段的一端與第一分段平滑連接。

進一步地，長條孔的孔壁為平面。

進一步地，余輝測量裝置還包括用于驅動轉動體轉動的電機。

進一步地，余輝測試裝置包括數據處理裝置，數據處理裝置根據余輝探測器接收到的余輝對待測閃爍體的余輝數據進行計算處理。

基于本發明提供的閃爍體的余輝測試裝置，余輝測試裝置包括射線發生器、轉動體和余輝探測器，轉動體用于設置于射線發生器和待測閃爍體之間且設置有用于使射線穿過的出射孔，轉動體相對于射線發生器勻速轉動以實現對待測閃爍體進行射線照射的通斷控制，余輝探測器用于接收待測閃爍體的余輝。本發明的余輝測試裝置通過控制轉動體勻速轉動以實現對待測閃爍體接收射線的通斷控制，從而增加測試的穩定性。而且轉動體勻速轉動可使射線發生器發出的射線間隔穿過出射孔以間隔照射閃爍體，從而便于對閃爍體的余輝進行多次測試，提高余輝測試的準確性。

通過以下參照附圖對本發明的示例性實施例的詳細描述，本發明的其它特征及其優點將會變得清楚。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發明的進一步理解，構成本申請的一部分，本發明的示意性實施例及其說明用于解釋本發明，并不構成對本發明的不當限定。在附圖中：

圖1為本發明實施例的閃爍體的余輝測量裝置的結構示意圖；

圖2為圖1中的轉動體的一個實施例的結構示意圖；

圖3為圖2所示的轉動體的轉動過程示意圖；

圖4為圖1中的轉動體的另一實施例的結構示意圖；

圖5為圖1中的轉動體的另一實施例的結構示意圖；

圖6為圖5所示的轉動體的轉動過程示意圖。

各附圖標記分別代表：

1-射線發生器；2-轉動體；21-長條孔；211-第一分段；212-第二分段；B-測試物體；A-閃爍體。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。以下對至少一個示例性實施例的描述實際上僅僅是說明性的，決不作為對本發明及其應用或使用的任何限制。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。