[發(fā)明專利]閃爍體的余輝測試裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711428826.8
• 申請日: 2017-12-26
• 公開（公告）號: CN107861146A
• 公開（公告）日: 2018-03-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張清軍;張文劍;鄒湘;孫立風(fēng);張戰(zhàn)強(qiáng)
• 申請（專利權(quán)）人: 同方威視技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00;G01N23/04
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會專利商標(biāo)事務(wù)所11038
• 代理人: 艾春慧

1.一種閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，包括射線發(fā)生器(1)、轉(zhuǎn)動體(2)和余輝探測器，所述轉(zhuǎn)動體(2)用于設(shè)置于所述射線發(fā)生器(1)和待測閃爍體(A)之間且設(shè)置有用于使射線穿過的出射孔，所述轉(zhuǎn)動體(2)相對于所述射線發(fā)生器(1)勻速轉(zhuǎn)動以實(shí)現(xiàn)對所述待測閃爍體(2)進(jìn)行射線照射的通斷控制，所述余輝探測器用于接收所述待測閃爍體的余輝。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述轉(zhuǎn)動體(2)包括柱狀轉(zhuǎn)動體，所述柱狀轉(zhuǎn)動體繞其軸線轉(zhuǎn)動。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述出射孔包括穿過所述柱狀轉(zhuǎn)動體的軸線且在沿所述柱狀轉(zhuǎn)動體的直徑方向延伸的長條孔(21)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述長條孔(21)的截面面積不變。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述長條孔(21)具有分別設(shè)置于所述柱狀轉(zhuǎn)動體的軸線兩側(cè)的第一分段(211)和第二分段(212)，射線依次通過所述第一分段(211)和所述第二分段(212)以照射所述待測閃爍體，其中，從所述柱狀轉(zhuǎn)動體的軸線到徑向外側(cè)，所述第一分段(211)的截面面積不變，所述第二分段(212)的截面面積逐漸變大；或者，從所述柱狀轉(zhuǎn)動體的軸線到徑向外側(cè)，所述第一分段(211)和所述第二分段(212)的截面面積均逐漸變大。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，從所述柱狀轉(zhuǎn)動體的軸線到徑向外側(cè)，所述第一分段(211)和所述第二分段(212)的截面面積均逐漸變大且所述第一分段(211)和所述第二分段(212)的截面為扇形。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述第二分段的靠近所述第一分段的一端與所述第一分段平滑連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述長條孔的孔壁為平面。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述余輝測量裝置還包括用于驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動體轉(zhuǎn)動的電機(jī)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃爍體的余輝測試裝置，其特征在于，所述余輝測試裝置包括數(shù)據(jù)處理裝置，所述數(shù)據(jù)處理裝置根據(jù)所述余輝探測器接收到的余輝對待測閃爍體的余輝數(shù)據(jù)進(jìn)行計算處理。