[發(fā)明專利]控制系統(tǒng)、方法及晶圓清洗裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711425986.7 | 申請日: | 2017-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN108172533A | 公開(公告)日: | 2018-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田知玲;矯健;舒福璋;史霄;侯為萍 | 申請(專利權(quán))人: | 北京半導(dǎo)體專用設(shè)備研究所(中國電子科技集團(tuán)公司第四十五研究所) |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 王文紅 |
| 地址: | 100000 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 感測設(shè)備 晶圓清洗裝置 參數(shù)信號 調(diào)節(jié)設(shè)備 調(diào)節(jié)信號 控制系統(tǒng) 控制器 清洗槽 被控 晶圓清洗 目標(biāo)工藝 清洗效果 接收控制器 感測目標(biāo) 通信連接 感測 緩解 | ||
本發(fā)明提供了一種控制系統(tǒng)、方法及晶圓清洗裝置,涉及晶圓清洗技術(shù)領(lǐng)域,該控制系統(tǒng)包括:感測設(shè)備、調(diào)節(jié)設(shè)備和控制器,所述控制器分別與所述感測設(shè)備和所述調(diào)節(jié)設(shè)備通信連接,其中,感測設(shè)備安裝在被控清洗槽上,用于感測目標(biāo)工藝的參數(shù)信號,其中,目標(biāo)工藝為被控清洗槽實(shí)施晶圓清洗的工藝;控制器用于接收感測設(shè)備感測的參數(shù)信號,并根據(jù)參數(shù)信號生成調(diào)節(jié)信號;調(diào)節(jié)設(shè)備安裝在被控清洗槽上,用于接收控制器生成的調(diào)節(jié)信號,并根據(jù)調(diào)節(jié)信號對目標(biāo)工藝進(jìn)行調(diào)節(jié)。本發(fā)明緩解了傳統(tǒng)晶圓清洗裝置清洗效果較差和清洗效果較低的技術(shù)問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及晶圓清洗技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種控制系統(tǒng)、方法及晶圓清洗裝置。
背景技術(shù)
晶圓的潔凈性是芯片生產(chǎn)全過程中的基本要求。一般來說,經(jīng)化學(xué)機(jī)械拋光(Chemical Mechanical Polishing,簡稱CMP)后的晶圓,拋光液的磨料和晶圓被去除的廢料是晶圓的主要污染物,CMP后清洗的重點(diǎn)就是去除這些污染物,以確保晶圓的潔凈性。
目前,市場上用來實(shí)施CMP后清洗過程以對晶圓進(jìn)行清洗的裝置很多,多包括一個清洗槽,清洗槽包括內(nèi)槽和外槽,內(nèi)槽用于放置晶圓,內(nèi)槽和外槽之間循環(huán)流動具有一定配比和溫度的清洗液,實(shí)現(xiàn)對晶圓的清洗。這種傳統(tǒng)的晶圓清洗裝置存在不足,突出表現(xiàn)為:一,需清洗人員進(jìn)入操作室甚至抵進(jìn)清洗裝置來控制晶圓的清洗過程,從而給晶圓帶來除磨料和廢料以外的污染物,造成晶圓的二次污染,清洗效果較差;二,需在裝置停止工作的狀態(tài)下更換清洗液的配方或更改CMP后清洗工藝參數(shù),無法滿足后清洗的自動化要求,清洗效率較低。
針對傳統(tǒng)晶圓清洗裝置存在的清洗效果較差和清洗效率較低的技術(shù)問題,現(xiàn)有技術(shù)中缺乏有效的解決方案。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種控制系統(tǒng)、方法及晶圓清洗裝置,以緩解傳統(tǒng)晶圓清洗裝置清洗效果較差和清洗效率較低的技術(shù)問題。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種控制系統(tǒng),包括:感測設(shè)備、調(diào)節(jié)設(shè)備和控制器,所述控制器分別與所述感測設(shè)備和所述調(diào)節(jié)設(shè)備通信連接,其中,
所述感測設(shè)備安裝在被控清洗槽上,用于感測目標(biāo)工藝的參數(shù)信號,其中,所述目標(biāo)工藝為所述被控清洗槽實(shí)施晶圓清洗的工藝;
所述控制器用于接收所述感測設(shè)備感測的所述參數(shù)信號,并根據(jù)所述參數(shù)信號生成調(diào)節(jié)信號;
所述調(diào)節(jié)設(shè)備安裝在所述被控清洗槽上,用于接收所述控制器生成的所述調(diào)節(jié)信號,并根據(jù)所述調(diào)節(jié)信號對所述目標(biāo)工藝進(jìn)行調(diào)節(jié)。
結(jié)合第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了第一方面的第一種可能的實(shí)施方式,其中,所述感測設(shè)備包括液位傳感器,其中,
所述液位傳感器安裝在所述被控清洗槽的槽內(nèi),用于感測液位信號,其中,所述液位信號攜帶有所述被控清洗槽所裝液體的液位信息;
所述控制器用于接收所述液位傳感器感測的所述液位信號,并根據(jù)所述液位信號生成第一調(diào)節(jié)信號;
所述調(diào)節(jié)設(shè)備包括第一控制閥,所述第一控制閥設(shè)置在所述被控清洗槽的目標(biāo)管道上,用于接收所述第一調(diào)節(jié)信號,并根據(jù)所述第一調(diào)節(jié)信號調(diào)節(jié)閥門的開閉,以對所述被控清洗槽所裝液體的液位進(jìn)行調(diào)節(jié),其中,所述目標(biāo)管道為所述被控清洗槽的補(bǔ)液管道,和/或,所述被控清洗槽的漏液管道。
結(jié)合第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了第一方面的第二種可能的實(shí)施方式,其中,所述感測設(shè)備包括流量傳感器,其中,
所述流量傳感器安裝在所述被控清洗槽的目標(biāo)管道上,所述流量傳感器用于感測流量信號,其中,所述流量信號攜帶有所述目標(biāo)管道內(nèi)所流液體的流量信息;
所述控制器還用于接收所述流量傳感器感測到的所述流量信號,并根據(jù)流量信號生成第二調(diào)節(jié)信號;
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 光調(diào)節(jié)設(shè)備
- 調(diào)節(jié)設(shè)備
- 調(diào)節(jié)設(shè)備
- 調(diào)節(jié)設(shè)備以及帶有調(diào)節(jié)設(shè)備的磁共振設(shè)備
- 調(diào)節(jié)設(shè)備
- 對位調(diào)節(jié)設(shè)備
- 流動調(diào)節(jié)設(shè)備
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- 溫度調(diào)節(jié)設(shè)備
- 軸承設(shè)備、調(diào)節(jié)設(shè)備、可調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)向柱、調(diào)節(jié)設(shè)備制造方法





