[發明專利]獲取NTC電阻溫度的方法、裝置、設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201711424358.7
• 申請日: 2017-12-25
• 公開（公告）號: CN108225594A
• 公開（公告）日: 2018-06-29
• 發明（設計）人: 王小乾;郭巍
• 申請（專利權）人: 青島海爾科技有限公司
• 主分類號: G01K7/16
• 分類號: G01K7/16
• 代理公司: 工業和信息化部電子專利中心 11010
• 代理人: 吳永亮

本發明介紹了一種獲取NTC電阻溫度的方法、裝置、設備及可讀存儲介質，該方法包括：獲取待檢測的負溫度系數NTC電阻的電壓值V_R；根據所述電壓值V_R計算出所述待檢測的NTC電阻的電阻值R_T；根據所述電阻值R_T，利用電阻?溫度曲線公式，計算出所述待檢測的NTC電阻的溫度值T。本發明利用擬合曲線計算NTC電阻的溫度，從而替代現有技術中的公式法和查表法，可以極大的提高采集NTC電阻的溫度的速度和精度，并能降低產品成本。

技術領域

本發明涉及熱敏電阻技術領域，尤其涉及一種獲取NTC電阻溫度的方法、裝置、設備及可讀存儲介質。

背景技術

現有技術中有兩種獲取NTC(Negative Temperature Coefficient，負溫度系數)電阻的溫度的方式；第一種：通過帶有高主頻的單片機獲取NTC電阻的模數AD值，并根據獲取到的AD值計算出NTC電阻的電阻值，再根據NTC電阻的電阻值按照NTC電阻的溫度計算公式實現高精度的NTC電阻的溫度值的計算。第二種：通過帶有低主頻的單片機獲取NTC電阻的模數AD值，并根據獲取到的AD值計算出NTC電阻的電阻值，再根據NTC電阻的電阻值按照電阻值-溫度查詢表獲取到NTC電阻的電阻值。但是，采用第一種方式的成本較高，且由于NTC電阻的溫度計算公式中帶有對數計算及大量的浮點數除法，在計算NTC電阻的電阻值時會占用較多的單片機資源，效率較低；采用第二種方式的精度差，由于電阻值-溫度查詢表中的數據不連續，無法實現高精度的要求。

發明內容

本發明的主要目的在于提出一種獲取NTC電阻溫度的方法、裝置、設備及可讀存儲介質，可以極大的提高采集NTC電阻的溫度的速度和精度，并能降低產品成本。

為實現上述目的，本發明提供了一種獲取NTC電阻溫度的方法，包括：

獲取待檢測的負溫度系數NTC電阻的電壓值V_R；

根據所述電壓值V_R計算出所述待檢測的NTC電阻的電阻值R_T；

根據所述電阻值R_T，利用電阻-溫度曲線公式：計算出所述待檢測的NTC電阻的溫度值T；其中，a、b、c為系數。

可選的，所述獲取待檢測的負溫度系數NTC電阻的電壓值V_R，包括：

通過自帶n位AD的單片機獲取所述待檢測的NTC電阻的模數AD值；

根據所述AD值，按照如下公式，計算出所述待檢測的NTC電阻的電壓值V_R：

其中，V_cc為n位單片機的供電電壓值；

V_AD為所述NTC電阻的AD值。

可選的，通過自帶10位AD的8位單片機獲取所述待檢測的NTC電阻的模數AD值。

可選的，所述根據所述電壓值V_R計算出所述待檢測的NTC電阻的電阻值R_T，包括：

按照如下公式，計算出所述待檢測的NTC電阻的電阻值R_T：

其中，R_C為采樣電阻值。

可選的，所述根據所述電阻值R_T，利用電阻-溫度曲線公式：計算出所述待檢測的NTC電阻的溫度值T，包括：

根據預設的所述待檢測的NTC電阻的實測電阻-實測溫度對照表，利用最小二乘法，計算出電阻-溫度曲線公式：中的系數a、b、c的值；