[發明專利]獲取NTC電阻溫度的方法、裝置、設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201711424358.7
• 申請日: 2017-12-25
• 公開（公告）號: CN108225594A
• 公開（公告）日: 2018-06-29
• 發明（設計）人: 王小乾;郭巍
• 申請（專利權）人: 青島海爾科技有限公司
• 主分類號: G01K7/16
• 分類號: G01K7/16
• 代理公司: 工業和信息化部電子專利中心 11010
• 代理人: 吳永亮

1.一種獲取NTC電阻溫度的方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待檢測的負溫度系數NTC電阻的電壓值V_R；

根據所述電壓值V_R計算出所述待檢測的NTC電阻的電阻值R_T；

根據所述電阻值R_T，利用電阻-溫度曲線公式：計算出所述待檢測的NTC電阻的溫度值T；其中，a、b、c為系數。

2.根據權利要求1所述的獲取NTC電阻溫度的方法，其特征在于，所述獲取待檢測的負溫度系數NTC電阻的電壓值V_R，包括：

通過自帶n位AD的單片機獲取所述待檢測的NTC電阻的模數AD值；

根據所述AD值，按照如下公式，計算出所述待檢測的NTC電阻的電壓值V_R：

其中，V_cc為n位單片機的供電電壓值；

V_AD為所述NTC電阻的AD值。

3.根據權利要求2所述的獲取NTC電阻溫度的方法，其特征在于，通過自帶10位AD的8位單片機獲取所述待檢測的NTC電阻的模數AD值。

4.根據權利要求2所述的獲取NTC電阻溫度的方法，其特征在于，所述根據所述電壓值V_R計算出所述待檢測的NTC電阻的電阻值R_T，包括：

按照如下公式，計算出所述待檢測的NTC電阻的電阻值R_T：

其中，R_C為采樣電阻值。

5.根據權利要求1～4中任一項所述的獲取NTC電阻溫度方法，其特征在于，所述根據所述電阻值R_T，利用電阻-溫度曲線公式：計算出所述待檢測的NTC電阻的溫度值T，包括：

根據預設的所述待檢測的NTC電阻的實測電阻-實測溫度對照表，利用最小二乘法，計算出電阻-溫度曲線公式：中的系數a、b、c的值；

根據計算得到的系數a、b、c的值以及所述待檢測的NTC電阻的電阻值R_T，利用電阻-溫度曲線公式：計算出所述待檢測的NTC電阻的溫度值T。

6.一種獲取NTC電阻溫度的裝置，其特征在于，包括：

電壓獲取模塊，用于獲取待檢測的負溫度系數NTC電阻的電壓值V_R；

電阻計算模塊，用于根據所述電壓值V_R計算出所述待檢測的NTC電阻的電阻值R_T；

溫度計算模塊，用于根據所述電阻值R_T，利用電阻-溫度曲線公式：計算出所述待檢測的NTC電阻的溫度值T；其中，a、b、c為系數。

7.根據權利要求6所述的獲取NTC電阻溫度的裝置，其特征在于，所述溫度計算模塊，具體包括：

系數計算單元，用于根據預設的所述待檢測的NTC電阻的實測電阻-實測溫度對照表，利用最小二乘法，計算出電阻-溫度曲線公式：中的系數a、b、c的值；

溫度計算單元，用于根據計算得到的系數a、b、c的值以及所述待檢測的NTC電阻的電阻值R_T，利用電阻-溫度曲線公式：計算出所述待檢測的NTC電阻的溫度值T。

8.一種獲取NTC電阻溫度的設備，其特征在于，包括：處理器、存儲器及通信總線；

所述通信總線與所述處理器和所述存儲器之間通信連接；

所述處理器用于執行所述存儲器中存儲的獲取NTC電阻溫度的程序，以實現權利要求1至5中任一項所述的獲取NTC電阻溫度的方法的步驟。

9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有權利要求1至5中任一項所述的獲取NTC電阻溫度的方法的程序。

10.一種計算機，其特征在于，所述計算機設有權利要求9所述計算機可讀存儲介質，以實現NTC電阻溫度的獲取。