[發明專利]一種熔覆層裂紋檢測裝置

在審

• 申請號: 201711422867.6
• 申請日: 2017-12-25
• 公開（公告）號: CN109959708A
• 公開（公告）日: 2019-07-02
• 發明（設計）人: 張曉波
• 申請（專利權）人: 天津萬世達激光技術有限公司
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04;G01N29/22;G01N29/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了檢測技術領域的一種熔覆層裂紋檢測裝置，包括中央處理器，所述中央處理器的左側外壁設有電源連接口，所述電源接口的左右兩側對稱設有調節旋鈕，所述中央處理器的頂部設有圖像顯示設備，該種激光熔覆過程裂紋的在線檢測裝置，結構簡單，使用方便，通過設有的聲發射傳感器、中央處理器和圖像顯示設備等，采用了全新的聲發射技術，可以對裂紋的準確定位和準確分析，解決了常規超聲檢測法是通過傳播信號的反射、衰減、投射等線性特征進行檢測，但由于裂紋的反射回波強度低透射率高，衰減小燈原因，導致常規超聲波檢測法對裂紋不敏感，不易檢測裂紋的問題。

技術領域

本發明涉及檢測技術領域，具體為一種熔覆層裂紋檢測裝置。

背景技術

高溫、腐蝕、摩擦和磨損引起的工程構件的失效大多發生在表面，這一現象促使材料科學工作者對材料表面的極大關注，并促使材料表面改性技術的迅猛發展，人們希望在材料整體保持足夠的韌性和強度的同時，使材料表面獲得較高的、特定的使用性能，如耐磨、耐腐蝕、和抗氧化等，激光熔覆是一項新興、迅猛發展的技術，它是在高能量密度激光束照射下，基體表面與根據需要的對熔覆層同時融化，形成表面熔覆層，但是在激光熔覆過程中，熔覆層表面常常會產生裂紋，因此需要對裂紋檢測研究，然而常規的檢測儀器是超聲波檢測裝置，常規超聲檢測法是通過傳播信號的反射、衰減、投射等線性特征進行檢測，但由于裂紋的反射回波強度低透射率高，衰減小燈原因，導致常規超聲波檢測法對裂紋不敏感，不易檢測裂紋，因此需要對現有的裂紋檢測裝置進行改進。

發明內容

本發明的目的在于提供一種熔覆層裂紋檢測裝置，以解決上述背景技術中提出的常規超聲檢測法是通過傳播信號的反射、衰減、投射等線性特征進行檢測，但由于裂紋的反射回波強度低透射率高，衰減小等原因，導致常規超聲波檢測法對裂紋不敏感，不易檢測裂紋的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種熔覆層裂紋檢測裝置，包括中央處理器，所述中央處理器的左側外壁設有電源連接口，所述電源接口的左右兩側對稱設有調節旋鈕，所述中央處理器的頂部設有圖像顯示設備，所述中央處理器的右端通過電線與聲波探頭的頂部連接，所述聲波探頭的內腔左壁設有聲發射傳感器，所述聲波探頭的內腔右壁設有信號放大器，所述聲波探頭的底部設有吸附件，所述中央處理器分別與圖像顯示設備、聲發射傳感器和信號放大器電性連接。

優選的，所述聲發射傳感器為壓電陶瓷傳感器。

優選的，所述吸附件為電磁吸附盤或者真空吸附盤。

優選的，所述聲波探頭的內腔側壁設有屏蔽層。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：該種激光熔覆過程裂紋的在線檢測裝置，結構簡單，使用方便，通過設有的聲發射傳感器、中央處理器和圖像顯示設備等，采用了全新的聲發射技術，可以對裂紋的準確定位和準確分析，解決了常規超聲檢測法是通過傳播信號的反射、衰減、投射等線性特征進行檢測，但由于裂紋的反射回波強度低透射率高，衰減小等原因，導致常規超聲波檢測法對裂紋不敏感，不易檢測裂紋的問題。

附圖說明

圖1為本發明結構示意圖；

圖2為本發明聲波探頭內部結構示意圖。

圖中：1中央處理器、2電源連接口、3調節旋鈕、4圖像顯示設備、5電線、6聲波探頭、61聲發射傳感器、62信號放大器、7吸附件。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。