[發明專利]一種熔覆層裂紋檢測裝置

在審

• 申請號: 201711422867.6
• 申請日: 2017-12-25
• 公開（公告）號: CN109959708A
• 公開（公告）日: 2019-07-02
• 發明（設計）人: 張曉波
• 申請（專利權）人: 天津萬世達激光技術有限公司
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04;G01N29/22;G01N29/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種熔覆層裂紋檢測裝置，包括中央處理器(1)，其特征在于：所述中央處理器(1)的左側外壁設有電源連接口(2)，所述電源接口(2)的左右兩側對稱設有調節旋鈕(3)，所述中央處理器(1)的頂部設有圖像顯示設備(4)，所述中央處理器(1)的右端通過電線(5)與聲波探頭(6)的頂部連接，所述聲波探頭(6)的內腔左壁設有聲發射傳感器(61)，所述聲波探頭(6)的內腔右壁設有信號放大器(62)，所述聲波探頭(6)的底部設有吸附件(7)，所述中央處理器(1)分別與圖像顯示設備(4)、聲發射傳感器(61)和信號放大器(62)電性連接。

2.根據權利要求1所述的一種熔覆層裂紋檢測裝置，其特征在于：所述聲發射傳感器(61)為壓電陶瓷傳感器。

3.根據權利要求1所述的一種熔覆層裂紋檢測裝置，其特征在于：所述吸附件(7)為電磁吸附盤或者真空吸附盤。

4.根據權利要求1所述的一種熔覆層裂紋檢測裝置，其特征在于：所述聲波探頭(6)的內腔側壁設有屏蔽層。