[發(fā)明專利]導(dǎo)電框架及功率半導(dǎo)體串聯(lián)結(jié)構(gòu)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711421677.2 | 申請日: | 2017-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN107946276A | 公開(公告)日: | 2018-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳文彬;羅小春 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市矽萊克半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/495 | 分類號: | H01L23/495 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司44224 | 代理人: | 石佩 |
| 地址: | 518048 廣東省深圳市福田*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 導(dǎo)電 框架 功率 半導(dǎo)體 串聯(lián) 結(jié)構(gòu) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體封裝技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種導(dǎo)電框架以及具有所述導(dǎo)電框架的功率半導(dǎo)體串聯(lián)結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體器件在電子領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,而在具體的應(yīng)用過程中,需要將半導(dǎo)體封裝起來。串聯(lián)封裝可以提高半導(dǎo)體的電器特性如反向耐壓,并組成各類功率模塊以配合電路設(shè)計的要求。現(xiàn)有半導(dǎo)體串聯(lián)封裝結(jié)構(gòu)中固線區(qū)域都位于導(dǎo)電框架下端與延伸引腳連接處,且所占面積較大,擠壓了導(dǎo)電框架上焊接芯片區(qū)域的面積,另外,由于固線區(qū)域與焊接芯片區(qū)域相鄰,在焊接芯片時多余的焊錫很容易流入固線區(qū)域而影響固線作業(yè),反之亦然,不能滿足電力電子領(lǐng)域高功率密度的迫切需要。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,本發(fā)明提供一種導(dǎo)電框架及功率半導(dǎo)體串聯(lián)結(jié)構(gòu)。
一種導(dǎo)電框架,用于串聯(lián)半導(dǎo)體芯片,所述導(dǎo)電框架包括第一導(dǎo)電框架、第二導(dǎo)電框架和第三導(dǎo)電框架,所述第一導(dǎo)電框架、所述第二導(dǎo)電框架和所述第三導(dǎo)電框架相互絕緣間隔排列,所述第一導(dǎo)電框架包括第一芯片區(qū)和由所述第一芯片區(qū)延伸出的第一引腳;所述第二導(dǎo)電框架包括第二芯片區(qū)、由所述第二芯片區(qū)延伸出的第二引腳以及第一固線區(qū),所述第一固線區(qū)位于所述第二芯片區(qū)背離所述第二引腳的一側(cè),所述第二芯片區(qū)與所述第一固線區(qū)之間具有凹陷結(jié)構(gòu),所述凹陷結(jié)構(gòu)能夠容納所述第二芯片區(qū)及/或所述第一固線區(qū)焊接作業(yè)時多余的焊料;所述第三導(dǎo)電框架包括第二固線區(qū)和由第二固線區(qū)延伸出的第三引腳。
在其中一個實施例中,所述凹陷結(jié)構(gòu)為V形凹槽、U形凹槽、矩形凹槽中的任意一種。
在其中一個實施例中,還包括用于機(jī)械連接的通孔,所述通孔位于所述導(dǎo)電框架的一端。
在其中一個實施例中,所述第一導(dǎo)電框架和第二導(dǎo)電框架的端部相對的一側(cè)分別開設(shè)半圓形的缺口,所述缺口圍成所述通孔。
在其中一個實施例中,所述第二固線區(qū)的寬度大于所述第三引腳的寬度。
一種功率半導(dǎo)體串聯(lián)結(jié)構(gòu),包括第一半導(dǎo)體芯片、第二半導(dǎo)體芯片、以及如上述實施例任一所述的導(dǎo)電框架,所述第一半導(dǎo)體芯片電連接地貼附于所述第一芯片區(qū)并與所述第一固線區(qū)電連接,所述第二半導(dǎo)體芯片電連接地貼附于所述第二芯片區(qū)并與所述第二固線區(qū)電連接。
在其中一個實施例中,所述第一半導(dǎo)體芯片的第一極貼附于所述第一芯片區(qū),第二極與所述第二導(dǎo)電框架上的第一固線區(qū)電連接;所述第二半導(dǎo)體芯片與所述第一半導(dǎo)體芯片的第一極極性相同的一極貼附于所述第二芯片區(qū),另一極與所述第三導(dǎo)電框架上的第二固線區(qū)電連接。
在其中一個實施例中,所述半導(dǎo)體芯片通過焊接的方式貼附于所述導(dǎo)電框架。
在其中一個實施例中,所述第一半導(dǎo)體芯片通過金屬導(dǎo)線與所述第一固線區(qū)電連接;及/或,所述第二半導(dǎo)體芯片通過金屬導(dǎo)線與所述第二固線區(qū)電連接。
在其中一個實施例中,所述金屬導(dǎo)線為銅線或鋁線。
上述導(dǎo)電框架,將其中一個導(dǎo)電框架上的固線區(qū)域設(shè)計在該導(dǎo)電框架上焊接芯片區(qū)域背離延伸引腳的一端,節(jié)省空間,并且有效增加了該導(dǎo)電框架可焊接芯片的面積,同時,設(shè)計出位于焊接芯片區(qū)域和固線區(qū)域之間的凹陷結(jié)構(gòu),使得焊接芯片區(qū)域與固線區(qū)域能夠獨立作業(yè)互不影響,保證了焊接能力和固線能力的可靠性。
上述功率半導(dǎo)體串聯(lián)結(jié)構(gòu),縮小了半導(dǎo)體串聯(lián)封裝結(jié)構(gòu)的空間,且固線的走向合理整齊不沖突,滿足了電力電子領(lǐng)域高功率密度以及高可靠性的要求。
附圖說明
圖1為本發(fā)明實施例提供的導(dǎo)電框架結(jié)構(gòu)圖;
圖2為本發(fā)明實施例提供的功率半導(dǎo)體串聯(lián)結(jié)構(gòu)圖;
圖3為本發(fā)明實施例提供的二極管串聯(lián)封裝原理圖。
具體實施方式
請參閱圖1,在一個實施例中,提供了一種導(dǎo)電框架300,用于串聯(lián)半導(dǎo)體芯片,所述導(dǎo)電框架300包括第一導(dǎo)電框架310、第二導(dǎo)電框架320和第三導(dǎo)電框架330,所述第一導(dǎo)電框架310、所述第二導(dǎo)電框架320和所述第三導(dǎo)電框架330相互絕緣間隔排列。
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