[發明專利]食材量測裝置與煎烤機

在審

• 申請號: 201711420403.1
• 申請日: 2017-12-25
• 公開（公告）號: CN108338694A
• 公開（公告）日: 2018-07-31
• 發明（設計）人: 孫曉森;蔡燦加;王進貴
• 申請（專利權）人: 漳州燦坤實業有限公司
• 主分類號: A47J37/06
• 分類號: A47J37/06;G01B7/06;G01B7/30
• 代理公司: 北京泰吉知識產權代理有限公司 11355
• 代理人: 張雅軍;顧以中

一種食材量測裝置與煎烤機，食材量測裝置包含安裝于煎烤裝置的第二煎烤單元的磁場產生單元、安裝于煎烤裝置的第一煎烤單元的磁場感應單元，及處理單元，當第二煎烤單元相對于第一煎烤單元轉動時，能帶動磁場產生單元沿軸線相對于磁場感應單元轉動，在第二煎烤單元與第一煎烤單元彼此相對一個相夾角度時，磁場感應單元會感應磁場產生單元所產生的磁場，處理單元會根據磁場感應單元所感應的磁場分析得到對應相夾角度的相夾角度參數，食材量測裝置能通過相夾角度參數分析出食材厚度，進而估算出適當的煎烤時間。

技術領域

本發明涉及一種烹調器具，特別是涉及一種食材量測裝置與煎烤機。

背景技術

現有的煎烤機包含一個能供食材擺放的第一煎烤單元，及一個與該第一煎烤單元能樞轉地結合的第二煎烤單元，該第一煎烤單元與該第二煎烤單元相配合夾持該食材，以對該食材進行煎烤，而該煎烤機在煎烤前，必須由使用者自行設定所需的煎烤時間，以供該煎烤機根據所設定的時間進行煎烤，然而該煎烤時間必須由使用者根據食材的厚度以及長時間累積的煎烤經驗，才能判斷出正確的煎烤時間，若使用者對該煎烤機不熟悉或缺乏煎烤經驗，就無法設定適當的煎烤時間來進行煎烤，而煎烤出未熟成或過度熟成的食物。

發明內容

本發明的目的在于提供一種能改善先前技術的至少一個缺點的食材量測裝置。

本發明的食材量測裝置，適用于安裝在煎烤裝置，所述煎烤裝置包含用于供食材擺放的第一煎烤單元，及能沿一條軸線與所述第一煎烤單元能樞轉地結合的第二煎烤單元。所述食材量測裝置包含安裝于所述第一煎烤單元與第二煎烤單元的其中一個的磁場產生單元、安裝于所述第一煎烤單元與第二煎烤單元的其中另一個且與所述磁場產生單元彼此間隔的磁場感應單元，及訊號連接所述磁場感應單元的處理單元，當所述第二煎烤單元相對于所述第一煎烤單元轉動時，能帶動所述磁場感應單元與所述磁場產生單元繞所述軸線彼此相對轉動，在所述第二煎烤單元與所述第一煎烤單元彼此相對一個相夾角度時，所述磁場感應單元會感應所述磁場產生單元所產生的磁場，所述處理單元會根據所述磁場感應單元所感應的磁場，分析得到對應所述相夾角度的相夾角度參數。

本發明所述的食材量測裝置，所述處理單元包括能根據所述磁場感應單元所感應的磁場分析出所述相夾角度參數的角度分析模塊，及能根據所述相夾角度參數分析出對應所述食材厚度的厚度參數的厚度分析模塊。

本發明所述的食材量測裝置，所述角度分析模塊具有轉換子模塊，及校正子模塊，在所述第二煎烤單元與所述第一煎烤單元彼此相對所述相夾角度時，所述磁場感應單元與所述磁場產生單元相對一個相對角度，所述轉換子模塊能根據所述磁場感應單元所感應的磁場轉換輸出對應所述相對角度的相對角度參數，所述校正子模塊內建有初始角度參數，所述校正子模塊在所述相對角度參數大于等于所述初始角度參數時，將所述相對角度參數減所述初始角度參數而輸出所述相夾角度參數；在所述相對角度參數小于所述初始角度參數時，將所述相對角度參數加上360°再減所述初始角度參數而輸出所述相夾角度參數。

本發明所述的食材量測裝置，所述處理單元還包括夾持判斷模塊，所述夾持判斷模塊會于所述角度分析模塊所輸出的相夾角度參數在單位時間的變化量小于穩定值時，比較所述相夾角度參數是否大于第一角度閾值，并于所述相夾角度參數大于所述第一角度閾值時輸出分析命令，所述厚度分析模塊能被所述分析命令觸發啟動，而分析出所述厚度參數。

本發明所述的食材量測裝置，所述夾持判斷模塊還會比較所述相夾角度參數是否小于第二角度閾值，并于所述相夾角度參數大于所述第一角度閾值且小于所述第二角度閾值時輸出所述分析命令。

本發明所述的食材量測裝置，所述磁場產生單元具有帶磁體，所述磁場感應單元具有感磁組件，所述帶磁體與所述感磁組件沿所述軸線間隔排列，并繞所述軸線相對轉動。

本發明所述的食材量測裝置，所述磁場產生單元具有帶磁體，所述磁場感應單元具有數個感磁組件，所述感磁組件繞著所述軸線彼此角度間隔排列并圍繞所述帶磁體，所述帶磁體與所述感磁組件繞所述軸線相對轉動。