[發明專利]食材量測裝置與煎烤機

在審

• 申請號: 201711420403.1
• 申請日: 2017-12-25
• 公開（公告）號: CN108338694A
• 公開（公告）日: 2018-07-31
• 發明（設計）人: 孫曉森;蔡燦加;王進貴
• 申請（專利權）人: 漳州燦坤實業有限公司
• 主分類號: A47J37/06
• 分類號: A47J37/06;G01B7/06;G01B7/30
• 代理公司: 北京泰吉知識產權代理有限公司 11355
• 代理人: 張雅軍;顧以中

1.一種食材量測裝置，適用于安裝在煎烤裝置，所述煎烤裝置包含用于供食材擺放的第一煎烤單元，及能沿一條軸線與所述第一煎烤單元能樞轉地結合的第二煎烤單元，其特征在于：所述食材量測裝置包含安裝于所述第一煎烤單元與第二煎烤單元的其中一個的磁場產生單元、安裝于所述第一煎烤單元與第二煎烤單元的其中另一個且與所述磁場產生單元彼此間隔的磁場感應單元，及訊號連接所述磁場感應單元的處理單元，當所述第二煎烤單元相對于所述第一煎烤單元轉動時，能帶動所述磁場感應單元與所述磁場產生單元繞所述軸線彼此相對轉動，在所述第二煎烤單元與所述第一煎烤單元彼此相對一個相夾角度時，所述磁場感應單元會感應所述磁場產生單元所產生的磁場，所述處理單元會根據所述磁場感應單元所感應的磁場，分析得到對應所述相夾角度的相夾角度參數。

2.如權利要求1所述的食材量測裝置，其特征在于：所述處理單元包括能根據所述磁場感應單元所感應的磁場分析出所述相夾角度參數的角度分析模塊，及能根據所述相夾角度參數分析出對應所述食材厚度的厚度參數的厚度分析模塊。

3.如權利要求2所述的食材量測裝置，其特征在于：所述角度分析模塊具有轉換子模塊，及校正子模塊，在所述第二煎烤單元與所述第一煎烤單元彼此相對所述相夾角度時，所述磁場感應單元與所述磁場產生單元相對一個相對角度，所述轉換子模塊能根據所述磁場感應單元所感應的磁場轉換輸出對應所述相對角度的相對角度參數，所述校正子模塊內建有初始角度參數，所述校正子模塊在所述相對角度參數大于等于所述初始角度參數時，將所述相對角度參數減所述初始角度參數而輸出所述相夾角度參數；在所述相對角度參數小于所述初始角度參數時，將所述相對角度參數加上360°再減去所述初始角度參數而輸出所述相夾角度參數。

4.如權利要求2所述的食材量測裝置，其特征在于：所述處理單元還包括夾持判斷模塊，所述夾持判斷模塊會于所述角度分析模塊所輸出的相夾角度參數在單位時間的變化量小于穩定值時，比較所述相夾角度參數是否大于第一角度閾值，并于所述相夾角度參數大于所述第一角度閾值時輸出分析命令，所述厚度分析模塊能被所述分析命令觸發啟動，而分析出所述厚度參數。

5.如權利要求4所述的食材量測裝置，其特征在于：所述夾持判斷模塊還會比較所述相夾角度參數是否小于第二角度閾值，并于所述相夾角度參數大于所述第一角度閾值且小于所述第二角度閾值時輸出所述分析命令。

6.如權利要求1所述的食材量測裝置，其特征在于：所述磁場產生單元具有帶磁體，所述磁場感應單元具有感磁組件，所述帶磁體與所述感磁組件沿所述軸線間隔排列，并繞所述軸線相對轉動。

7.如權利要求1所述的食材量測裝置，其特征在于：所述磁場產生單元具有帶磁體，所述磁場感應單元具有數個感磁組件，所述感磁組件繞著所述軸線彼此角度間隔排列并圍繞所述帶磁體，所述帶磁體與所述感磁組件繞所述軸線相對轉動。

8.如權利要求1所述的食材量測裝置，其特征在于：所述磁場產生單元具有數個帶磁體，所述磁場感應單元具有感磁組件，所述帶磁體繞著所述軸線彼此角度間隔排列，所述感磁組件位于所述帶磁體的徑向外側，所述帶磁體與所述感磁組件繞所述軸線相對轉動。

9.如權利要求1所述的食材量測裝置，其特征在于：所述磁場產生單元安裝于所述第二煎烤單元，所述磁場感應單元安裝于所述第一煎烤單元，在所述第二煎烤單元轉動時，所述磁場產生單元會被帶動而相對于所述磁場感應單元轉動。

10.一種煎烤機，包含煎烤裝置，所述煎烤裝置包含能供食材擺放的第一煎烤單元，及與所述第一煎烤單元能樞轉地結合并與所述第一煎烤單元相配合夾持所述食材的第二煎烤單元，其特征在于：所述煎烤機還包含如權利要求1至9中任一項所述的食材量測裝置。