[發明專利]一種芯片追蹤調試裝置及方法

有效

• 申請號: 201711403774.9
• 申請日: 2017-12-22
• 公開（公告）號: CN108170571B
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發明（設計）人: 張周平;陳大莉;廖巨華;李璞;李黃祺;周景龍;方文慶
• 申請（專利權）人: 蘇州中晟宏芯信息科技有限公司
• 主分類號: G06F11/263
• 分類號: G06F11/263
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 李博洋

1.一種芯片追蹤調試裝置，其特征在于，包括：級聯構建模塊(1)、級聯模式運行模塊(2)、存儲空間判斷模塊(3)及數據寫入模塊(4)，其中，

所述級聯構建模塊(1)，用于選取芯片中M個追蹤模塊(5)構成環形級聯結構，其中，M為大于1的正整數；

所述級聯模式運行模塊(2)用于觸發所述環形級聯結構中的一所述追蹤模塊(5)進入工作狀態，使其余M-1個所述追蹤模塊(5)處于級聯模式，將進入工作狀態的所述追蹤模塊(5)作為第1級追蹤模塊(5)，將調試數據寫入所述第1級追蹤模塊(5)對應的第1級FIFO中；

所述存儲空間判斷模塊(3)用于判斷第1+i級追蹤模塊(5)對應的第1+i級FIFO是否有存儲空間，i的初始值為1，且i≤M-1；

當所述第1+i級FIFO沒有存儲空間時，所述數據寫入模塊(4)用于將所述調試數據存儲于第i級FIFO中；

當所述第1+i級FIFO有存儲空間時，所述數據寫入模塊(4)通過所述追蹤模塊(5)的級聯接口將所述調試數據寫入所述第1+i級FIFO中，并使i＝i+1，并觸發所述存儲空間判斷模塊(3)。

2.根據權利要求1所述的芯片追蹤調試裝置，其特征在于，當所述追蹤模塊(5)未處于級聯模式時，所述追蹤模塊(5)停止接收其他所述追蹤模塊(5)的寫入操作。

3.根據權利要求1所述的芯片追蹤調試裝置，其特征在于，所述芯片追蹤調試裝置還包括：調試數據處理模塊(5)，用于為所述調試數據加入時間戳。

4.一種芯片追蹤調試裝置的芯片追蹤調試方法，其特征在于，所述芯片追蹤調試方法包括：

步驟a：選取芯片中M個追蹤模塊(5)構成環形級聯結構，M為大于1的正整數；

步驟b：觸發所述環形級聯結構中的一所述追蹤模塊(5)進入工作狀態，使其余M-1個所述追蹤模塊(5)處于級聯模式，將進入工作狀態的所述追蹤模塊(5)作為第1級追蹤模塊(5)，將調試數據寫入所述第1級追蹤模塊(5)對應的第1級FIFO中；

步驟c：判斷第1+i級追蹤模塊(5)對應的第1+i級FIFO是否有存儲空間，i初始值為1，且i≤M-1；

步驟d：當所述第1+i級FIFO沒有存儲空間時，將所述調試數據存儲于第i級FIFO中；

步驟e：當所述第1+i級FIFO有存儲空間時，通過所述追蹤模塊(5)的級聯接口將所述調試數據寫入所述第1+i級FIFO中，并使i＝i+1，并返回所述步驟c，直至遍歷所述M個追蹤模塊(5)。

5.根據權利要求4所述的芯片追蹤調試方法，其特征在于，當所述追蹤模塊(5)未處于級聯模式時，所述追蹤模塊(5)停止接收其他追蹤模塊(5)的寫入操作。

6.根據權利要求4所述的芯片追蹤調試方法，其特征在于，所述芯片追蹤調試方法還包括：在將調試數據寫入所述第1級追蹤模塊(5)對應的第1級FIFO中時，為所述調試數據加入時間戳。

7.一種非暫態計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述非暫態計算機可讀存儲介質存儲計算機指令，所述計算機指令被處理器執行時實現如權利要求4-6任一項所述的芯片追蹤調試方法。

8.一種電子設備，其特征在于，包括：

至少一個處理器；以及

與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器執行如權利要求4-6中任一項所述的芯片追蹤調試方法。