[發(fā)明專利]利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711378754.0
• 申請(qǐng)日: 2017-12-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108592776A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-09-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳凱;林輝
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廈門(mén)大學(xué)
• 主分類號(hào): G01B7/06
• 分類號(hào): G01B7/06
• 代理公司: 廈門(mén)南強(qiáng)之路專利事務(wù)所(普通合伙) 35200
• 代理人: 馬應(yīng)森

1.利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭，其特征在于設(shè)有探頭底端、探頭磁端、壓力底座、壓力上蓋、彈簧和接觸底座；所述探頭底座和探頭磁端為測(cè)量部分，壓力底座、壓力上蓋和彈簧為機(jī)械裝置，壓力底座與壓力上蓋通過(guò)螺紋連接，其中壓力底座為外螺紋，壓力上蓋為內(nèi)螺紋；所述彈簧嵌于探頭磁端的尾部和壓力上蓋的尾柱之間，探頭底端的尾部設(shè)有2個(gè)突出的卡位鍵，探頭底端尾部的卡位鍵與壓力底座尾部的卡位槽間隙配合，進(jìn)而限制探頭底端軸向的旋轉(zhuǎn)和xy平面的平動(dòng)，使得探頭底端能沿其軸向平動(dòng)；探頭底端和探頭磁端間通過(guò)螺紋連接，其中探頭底端為內(nèi)螺紋，探頭磁端為外螺紋。

2.如權(quán)利要求1所述利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭，其特征在于內(nèi)嵌有線性霍爾芯片以及永久磁鐵，霍爾芯片嵌在探頭底端，探頭底端直接與鐵基表面貼合；永久磁嵌在探頭磁端的頭部，永久磁鐵通過(guò)螺紋與探頭底端配合。

3.如權(quán)利要求1所述利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭，其特征在于所述探頭磁端的頭部嵌有1個(gè)D5*1和磁鐵表磁強(qiáng)度為1200Gauss的圓形銣鐵硼永久磁。

4.如權(quán)利要求1所述利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭，其特征在于若鐵基等磁性金屬基體厚度>1000um或涂層厚度>2cm時(shí)，在探頭磁端再嵌入一個(gè)同規(guī)格同型號(hào)的磁鐵，用于加強(qiáng)磁性。

5.如權(quán)利要求1所述利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭，其特征在于所述探頭底端嵌有線性霍爾芯片。

6.如權(quán)利要求1所述利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭，其特征在于所述霍爾芯片置于永久磁鐵之下，基體之上。

7.如權(quán)利要求1所述利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭，其特征在于所述霍爾芯片采用霍尼韋爾公司的SS495A1芯片、SS496A1芯片、SS495A2芯片中的一種。

8.如權(quán)利要求1所述利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭，其特征在于所述磁鐵與霍爾芯片表面存在間隙為2mm。

9.如權(quán)利要求1所述利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭，其特征在于探頭底端的頭部高出壓力底座的頭部，高出部分的平面與基體平面直接接觸。

10.如權(quán)利要求1所述利用霍爾效應(yīng)測(cè)量鐵基表面上非磁性涂層的探頭，其特征在于探頭底端下表面設(shè)有4個(gè)直徑1mm的孔，通過(guò)過(guò)盈配合與接觸底座突出的4個(gè)柱結(jié)構(gòu)相連。