[發明專利]X射線圖像捕獲設備及控制其的方法有效
| 申請號: | 201711372116.8 | 申請日: | 2017-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN108209948B | 公開(公告)日: | 2022-10-04 |
| 發明(設計)人: | 金東昱;樸旻澈 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 邵亞麗 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射線 圖像 捕獲 設備 控制 方法 | ||
1.一種控制X射線圖像捕獲設備的方法,所述方法包括:
使用相機通過拍攝檢測器來獲取第一圖像,所述檢測器被配置為接收從X射線發射表面發射的X射線;
通過對第一圖像進行圖像處理生成第二圖像,所述圖像處理包括對所述第一圖像執行校正,其中,所述校正包括改變所述第一圖像中的第一檢測器形狀,以匹配在垂直于所述X射線發射表面的方向上拍攝的第二檢測器形狀;
識別在垂直于檢測器的與X射線發射表面相反的表面的方向上捕獲的參考圖像中包括的參考檢測器的形狀;和
以參考檢測器的形狀顯示所述第二圖像,
其中,生成所述第二圖像包括基于所述X射線發射表面的位置和所述相機的位置來校正所述第一圖像。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,生成所述第二圖像包括基于所述X射線發射表面和所述檢測器之間的距離來校正所述第一圖像。
3.根據權利要求1所述的方法,其中,生成所述第二圖像包括基于用于確定所述檢測器的位置和所述第一檢測器形狀中的至少一個的預定參考指示物來校正所述第一圖像。
4.根據權利要求1所述的方法,還包括基于所述第二檢測器形狀是否對應于參考檢測器的形狀,確定包括所述X射線發射表面的X射線輻射裝置是否布置在預定位置處。
5.根據權利要求4所述的方法,還包括基于確定的結果顯示所述預定位置。
6.根據權利要求1所述的方法,還包括:
從用戶接收用于控制所述X射線發射表面的移動的控制信號;
響應于所接收的控制信號移動所述X射線發射表面;
通過對所述第一圖像執行第二校正生成第三圖像,其中,所述第二校正包括改變所述第一檢測器形狀,以匹配在垂直于移動的所述X射線發射表面的方向上拍攝的第三檢測器形狀;和
顯示所生成的第三圖像。
7.一種X射線圖像捕獲設備,包括:
相機,其被配置為通過拍攝被配置為接收從X射線發射表面發射的X射線的檢測器來獲取第一圖像;
至少一個處理器,其被配置為通過對第一圖像進行圖像處理生成第二圖像,所述圖像處理包括對所述第一圖像執行校正,其中,所述校正包括改變所述第一圖像中的第一檢測器形狀,以匹配在垂直于所述X射線發射表面的方向上拍攝的第二檢測器形狀;和
顯示器,其被配置為顯示所述第二圖像,
其中,所述至少一個處理器還被配置為基于所述X射線發射表面的位置和所述相機的位置來校正所述第一圖像。
8.根據權利要求7所述的X射線圖像捕獲設備,其中,所述至少一個處理器還被配置為基于所述X射線發射表面與所述檢測器之間的距離來校正所述第一圖像。
9.根據權利要求7所述的X射線圖像捕獲設備,其中,所述至少一個處理器還被配置為基于用于確定所述檢測器的位置和所述第一檢測器形狀中的至少一個的預定參考指示物來校正所述第一圖像。
10.根據權利要求7所述的X射線圖像捕獲設備,其中,所述至少一個處理器還被配置為,基于所述第二檢測器形狀是否對應于參考檢測器的形狀,來確定包括所述X射線發射表面的X射線輻射裝置是否布置在預定位置處。
11.根據權利要求10所述的X射線圖像捕獲設備,其中,所述顯示器還被配置為基于所確定的結果顯示所述預定位置。
12.根據權利要求7所述的X射線圖像捕獲設備,還包括輸入裝置,其被配置為從用戶接收用于控制所述X射線發射表面的移動的控制信號,
其中,所述至少一個處理器還被配置為響應于所接收到的控制信號控制X射線發射表面移動,并通過對所述第一圖像執行第二校正來生成第三圖像,其中,所述第二校正包括改變所述第一檢測器形狀,以匹配在與移動的X射線發射表面垂直的方向上拍攝的第三檢測器形狀,以及
其中,所述顯示器還被配置為顯示所生成的第三圖像。
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