[發(fā)明專利]光模塊測試系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711363742.0
• 申請日: 2017-12-18
• 公開（公告）號: CN107835048A
• 公開（公告）日: 2018-03-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 呂斌;蔣昌明
• 申請（專利權(quán)）人: 上海市共進(jìn)通信技術(shù)有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079;G01M11/00
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司31002
• 代理人: 王潔,鄭暄

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及調(diào)試領(lǐng)域，尤其涉及光模塊的調(diào)試領(lǐng)域，具體是指一種光模塊測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在常規(guī)的光模塊測試中，需要測試光模塊的眼圖、接收靈敏度、光譜、DDM上報等各種參數(shù)。但由于ONU模塊采用收發(fā)一體的設(shè)計方式，往往測試時都是先測發(fā)送、后測接收、然后掃描光譜等一步步獨(dú)立的測試。這樣的測試方法不僅每次都要插拔光纖，浪費(fèi)時間，也帶進(jìn)了很多的插拔誤差，使測試數(shù)據(jù)不夠一致。而且在高低溫測試時，如果打開溫箱然后進(jìn)行插拔光纖的操作，一是不安全，因?yàn)楦邷?5度容易燙傷，低溫-45度容易凍傷。二是在插拔的時候帶進(jìn)去插拔損耗，使測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。三還會使溫箱里面的溫度急劇降低或者升高，要回到測試溫度得花費(fèi)大量的時間。

請參閱圖1所示，其為現(xiàn)有技術(shù)的一光模塊測試系統(tǒng)的架構(gòu)示意圖。其在溫箱里面一次性放N個模塊，然后其中一個模塊插到測試板上電測試，引出的光纖先和光功率計連接，測試光功率，然后拔下和光譜儀連接，測試光譜，然后再拔下和眼圖儀鏈接測試眼圖。以此類推，每測試一項(xiàng)都得插拔一次光纖，而且插拔光纖后得用端面檢測儀檢測端面，如果端面臟了還得清潔。待一個模塊測完后，需要打開溫箱，然后快速更換一個模塊再接著測試。待所有模塊測完后再改變溫箱溫度，重復(fù)上述步驟。

請參閱圖2所示，其為現(xiàn)有技術(shù)的另一光模塊測試系統(tǒng)的架構(gòu)示意圖。其在溫箱里面一次放一個模塊，引出的光纖先和光功率計連接，測試光功率，然后拔下和光譜儀連接，測試光譜，然后再拔下和眼圖儀鏈接測試眼圖。以此類推，每測試一項(xiàng)都得插拔一次光纖，而且插拔光纖后得用端面檢測儀檢測端面，如果端面臟了還得清潔。測完常溫后對溫箱進(jìn)行升溫測試高溫，測完高溫后對溫箱進(jìn)行降溫，測試低溫。

而現(xiàn)有技術(shù)中的上述方案，存在以下缺點(diǎn)：

1、成本高，需要雙通道誤碼儀；

2、測試時間長，每測一個項(xiàng)目都得人工插拔光纖切換設(shè)備；

3、重復(fù)的插拔光纖導(dǎo)致精度下降，對光纖的損傷也大；

4、在高低溫下更換溫箱里面的模塊容易造成燙傷或者凍傷，不安全；

5、高低溫下打開溫箱后會使溫箱內(nèi)部溫度改變，需要很久才能恢復(fù)穩(wěn)定；

6、低溫下打開溫箱會進(jìn)水汽，使板子容易結(jié)霜，造成板子短路；

7、無法測試模塊接收電眼圖；

8、每測試一次都得插拔一次光纖，浪費(fèi)時間；

9、一次只能測試一個模塊，效率低；

10、每測一次模塊都得升降溫一次，浪費(fèi)電。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是克服了上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，提供了一種能夠降低成本的光模塊測試系統(tǒng)。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的光模塊測試系統(tǒng)具有如下構(gòu)成：

該光模塊測試系統(tǒng)，其主要特點(diǎn)是，所述的系統(tǒng)包括至少兩個待測光模塊、第一分路器、第二分路器、單通道誤碼儀、OLT模塊和至少兩個光模塊測試儀器；

所述的至少兩個待測光模塊與所述的第一分路器相連接，且所述的至少兩個待測光模塊擇一放置于一待測板上；

所述的第一分路器與所述的第二分路器相連接，且所述的第一分路器與所述的至少兩個待測光模塊相連接；

所述的第二分路器與所述的至少兩個光模塊測試儀器相連接；

所述的單通道誤碼儀分別與所述的至少兩個光模塊測試儀器的一個光模塊測試儀器、所述的待測板、所述的OLT模塊相連接；

所述的OLT模塊與所述的至少兩個光模塊測試儀器相連接。

該光模塊測試系統(tǒng)的至少兩個待測光模塊為八個待測光模塊，所述的八個待測光模塊分別為第一待測光模塊、第二待測光模塊、第三待測光模塊、第四待測光模塊、第五待測光模塊、第六待測光模塊、第七待測光模塊和第八待測光模塊，所述的第一分路器為一分八光分路器，所述的第一待測光模塊、第二待測光模塊、第三待測光模塊、第四待測光模塊、第五待測光模塊、第六待測光模塊、第七待測光模塊和第八待測光模塊均與所述的一分八光分路器相連接，所述的第八待測光模塊放置于所述的待測板上。