[發明專利]光模塊測試系統在審
| 申請號: | 201711363742.0 | 申請日: | 2017-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN107835048A | 公開(公告)日: | 2018-03-23 |
| 發明(設計)人: | 呂斌;蔣昌明 | 申請(專利權)人: | 上海市共進通信技術有限公司 |
| 主分類號: | H04B10/079 | 分類號: | H04B10/079;G01M11/00 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司31002 | 代理人: | 王潔,鄭暄 |
| 地址: | 200235 上海市徐*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 模塊 測試 系統 | ||
1.一種光模塊測試系統,其特征在于,所述的系統包括至少兩個待測光模塊、第一分路器、第二分路器、單通道誤碼儀、OLT模塊和至少兩個光模塊測試儀器;
所述的至少兩個待測光模塊與所述的第一分路器相連接,且所述的至少兩個待測光模塊擇一放置于一待測板上;
所述的第一分路器與所述的第二分路器相連接,且所述的第一分路器與所述的至少兩個待測光模塊相連接;
所述的第二分路器與所述的至少兩個光模塊測試儀器相連接;
所述的單通道誤碼儀分別與所述的至少兩個光模塊測試儀器的一個光模塊測試儀器、所述的待測板、所述的OLT模塊相連接;
所述的OLT模塊與所述的至少兩個光模塊測試儀器相連接。
2.根據權利要求1所述的光模塊測試系統,其特征在于,所述的至少兩個待測光模塊為八個待測光模塊,所述的八個待測光模塊分別為第一待測光模塊、第二待測光模塊、第三待測光模塊、第四待測光模塊、第五待測光模塊、第六待測光模塊、第七待測光模塊和第八待測光模塊,所述的第一分路器為一分八光分路器,所述的第一待測光模塊、第二待測光模塊、第三待測光模塊、第四待測光模塊、第五待測光模塊、第六待測光模塊、第七待測光模塊和第八待測光模塊均與所述的一分八光分路器相連接,所述的第八待測光模塊放置于所述的待測板上。
3.根據權利要求2所述的光模塊測試系統,其特征在于,所述的至少兩個光模塊測試儀器包括眼圖儀、功率計、光譜儀和VOA光衰減測試模塊,所述的眼圖儀、功率計、光譜儀和VOA光衰減測試模塊均具有輸出端,所述的第二分路器為一分四光分路器,所述的一分四光分路器具有第一一分四光分路器輸入端、第二一分四光分路器輸入端、第三一分四光分路器輸入端、第四一分四光分路器輸入端和第五一分四光分路器輸入端,所述的眼圖儀、功率計、光譜儀和VOA光衰減測試模塊的輸出端分別與所述的第一一分四光分路器輸入端、第二一分四光分路器輸入端、第三一分四光分路器輸入端和第四一分四光分路器輸入端相連接。
4.根據權利要求1所述的光模塊測試系統,其特征在于,所述的單通道誤碼儀具有發射正極輸出端和發射負極輸出端,所述的待測板具有待測板輸入端,所述的OLT模塊具有OLT模塊輸入端,所述的發射正極輸出端與所述的待測板輸入端相連接,所述的發射負極輸出端與所述的OLT模塊輸入端塊相連接。
5.根據權利要求3所述的光模塊測試系統,其特征在于,所述的待測板具有接收正極輸出端和接收負極輸出端,所述的接收正極輸出端與所述的至少兩個光模塊測試儀器的一個光模塊測試儀器相連接,所述的接收負極輸出端與單通道誤碼儀的輸入端相連接。
6.根據權利要求5所述的光模塊測試系統,其特征在于,所述的單通道誤碼儀具有單通道誤碼儀輸出端,所述的眼圖儀具有眼圖儀第一輸入端和眼圖儀第二輸入端,所述的單通道誤碼儀輸出端與所述的眼圖儀第一輸入端相連接。
7.根據權利要求6所述的光模塊測試系統,其特征在于,所述的接收正極輸出端與所述的眼圖儀第二輸入端相連接。
8.根據權利要求3所述的光模塊測試系統,其特征在于,所述的一分八光分路器具有一分八光分路器輸出端,所述的一分八光分路器輸出端與所述的第五一分四光分路器輸入端相連接。
9.根據權利要求1所述的光模塊測試系統,其特征在于,所述的OLT模塊具有OLT模塊輸出端,所述的VOA光衰減器具有VOA光衰減器輸入端,所述的OLT模塊輸出端與所述的VOA光衰減器輸入端相連接。
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