[發(fā)明專利]用于半導(dǎo)體處理腔體的遮蔽裝置及其使用方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711363054.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108103473B | 公開(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 柴智 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 沈陽拓荊科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | C23C16/04 | 分類號(hào): | C23C16/04;C23C14/04 |
| 代理公司: | 沈陽維特專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 21229 | 代理人: | 陳福昌 |
| 地址: | 110179 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 半導(dǎo)體 處理 遮蔽 裝置 及其 使用方法 | ||
本發(fā)明公開了一種用于半導(dǎo)體處理腔體的遮蔽裝置及其使用方法,其中,遮蔽裝置包含一遮蔽環(huán)及一支撐組件。該遮蔽環(huán)的一底面具有復(fù)數(shù)個(gè)凸塊,用于防止腔體的一承載盤與該遮蔽環(huán)接觸。該支撐組件連接至該遮蔽環(huán),該支撐組件的一底面經(jīng)配置而與所述處理腔體中的一或多個(gè)凸出部接觸,使該遮蔽環(huán)支撐于所述凸出部之上方的一位置。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體晶圓處理領(lǐng)域,尤其是半導(dǎo)體處理腔體中的一種遮蔽裝置,其在處理過程中是用于防止晶圓周圍的沉積。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體制程中,包含沉積處理,如化學(xué)氣相沉積(CVD),其可在晶圓或基材上形成各種薄膜以制作半導(dǎo)體裝置,像是集成電路及半導(dǎo)體發(fā)光裝置。圖1為一局部示意圖,顯示由一承載盤所支撐的一晶圓或基材上形成有經(jīng)所述沉積處理而形成的薄膜,其中承載盤的周圍具有一臺(tái)階結(jié)構(gòu),像是陶瓷環(huán),經(jīng)配置可防止晶圓水平偏移。此外,陶瓷環(huán)還可配合一加熱手段對(duì)晶圓加熱。在沉積過程中,噴頭與晶圓之間沒有阻礙或遮蔽的情形下,經(jīng)沉積而形成的薄膜可能會(huì)延伸至晶圓的邊緣甚至是側(cè)面(如圖1所示)。這部分的薄膜有機(jī)會(huì)與承載盤的陶瓷環(huán)的隆起部分碰撞而導(dǎo)致薄膜破裂。破裂造成的顆粒及粉塵會(huì)附著在薄膜的表面上形成缺陷。
因此,發(fā)展出利用一遮蔽裝置覆蓋在晶圓或基材的邊緣上方,以阻礙氣體沉積在晶圓的邊緣及側(cè)面,甚至利用結(jié)構(gòu)的特性將氣體導(dǎo)引至晶圓的待處理區(qū)域。
美國發(fā)布專利US5328722A揭露一種用于半導(dǎo)體處理腔體的遮蔽手段,其提供具有傾斜結(jié)構(gòu)的一遮蔽環(huán)。藉由所述傾斜結(jié)構(gòu),遮蔽環(huán)可承靠在晶圓承載盤上,同時(shí)以遮蔽環(huán)內(nèi)側(cè)的一底面接觸及覆蓋晶圓的邊緣,以防止沉積發(fā)生在晶圓的邊緣及側(cè)面。另,中國公開專利申請(qǐng)案CN102714146A揭露一種用于半導(dǎo)體處理腔體的遮蔽手段,其提供具有插銷結(jié)構(gòu)的遮蔽環(huán)及晶圓承載盤。藉由插銷結(jié)構(gòu)的配合,遮蔽環(huán)及承載盤可對(duì)準(zhǔn)地結(jié)合,同時(shí)遮蔽環(huán)的內(nèi)緣接觸及覆蓋在晶圓的邊緣,以防止不必要的沉積發(fā)生。然而,這些習(xí)知遮蔽手段均與晶圓發(fā)生接觸,這有可能導(dǎo)致的問題是會(huì)使晶圓表面因壓力而產(chǎn)生缺陷,或可能因部件之間的碰撞而產(chǎn)生顆粒而落在晶圓表面。此外,這些習(xí)知遮蔽環(huán)缺乏可調(diào)整的能力。在未處理的時(shí)間下,一般遮蔽環(huán)僅能維持于處理腔體中的一高度,但當(dāng)今天必須因處理需求而改變承載盤上升的高度時(shí),遮蔽環(huán)的位置未必適合改變后的處理。例如,當(dāng)承載盤必須更靠近噴林頭進(jìn)行處理時(shí),遮蔽環(huán)與承載盤必定會(huì)碰撞,兩者之間無法維持一適當(dāng)間隙。
因此,有必要發(fā)展一種不干擾晶圓的遮蔽裝置且這種遮蔽裝置還具有可調(diào)整的機(jī)制,甚至發(fā)展一種適用這種遮蔽裝置的半導(dǎo)體處理腔體。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種用于半導(dǎo)體處理腔體的遮蔽裝置,其中,所述處理腔體具有一頂部、一底部、一側(cè)壁及一承載盤。該遮蔽裝置包含:具有一頂面及一底面的一遮蔽環(huán),且該遮蔽環(huán)的底面具有用于防止所述承載盤與該遮蔽環(huán)接觸的復(fù)數(shù)個(gè)凸塊;具有一頂面及一底面的一支撐組件,連接至該遮蔽環(huán),該支撐組件的底面經(jīng)配置而與所述處理腔體中的一或多個(gè)凸出部接觸,使該遮蔽環(huán)支撐于所述凸出部之上方的一位置,且該遮蔽環(huán)可在該位置及處理腔體頂部之間移動(dòng)。
在一具體實(shí)施例中,該遮蔽環(huán)的內(nèi)緣厚度小于該遮蔽環(huán)的外緣厚度。
在一具體實(shí)施例中,該等復(fù)數(shù)凸塊為球形凸塊或錐形凸塊。
在一具體實(shí)施例中,該支撐組件的頂面是經(jīng)由一可拆卸連接手段連接至該遮蔽環(huán)的底面。
在一具體實(shí)施例中,該支撐組件為一環(huán)體,該環(huán)體具有一高度。
在一具體實(shí)施例中,該支撐組件的頂面連接至該遮蔽環(huán)的底面。
在一具體實(shí)施例中,該遮蔽環(huán)的一外側(cè)具有復(fù)數(shù)個(gè)耳部,該等復(fù)數(shù)個(gè)耳部與該支撐組件連接。該支撐組件包含復(fù)數(shù)個(gè)支撐塊,每一支撐塊具有一結(jié)合孔用以接收所述耳部,使得該等復(fù)數(shù)個(gè)支撐塊分別連接至該遮蔽環(huán)的每一耳部。
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C23C16-00 通過氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機(jī)材料為特征的





