[發明專利]應用于顯示面板的老化處理方法及老化處理系統

有效

• 申請號: 201711352725.7
• 申請日: 2017-12-15
• 公開（公告）號: CN108120915B
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發明（設計）人: 趙科;張國慶;高弘瑋;王曉偉;賈智慧;宗巖;楊龍飛;楊紅霞;郭美利;王偉峰;趙普查;郭志鑫
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G01R31/27
• 分類號: G01R31/27;H01L27/32
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 郭潤湘

1.一種應用于顯示面板的老化處理方法，其特征在于，包括：

對所述顯示面板中需要進行老化處理的晶體管，獲取所述顯示面板中所述晶體管的初始特性曲線；

根據獲取的所述初始特性曲線確定所述晶體管的初始截止電壓范圍；

根據所述初始截止電壓范圍確定所述晶體管對應的參考截止電壓范圍；

以所述參考截止電壓范圍為目標截止電壓范圍，確定所述晶體管要達到所述目標截止電壓范圍時所需的參考柵源電壓和參考漏源電壓；

將所述參考柵源電壓和所述參考漏源電壓施加于所述晶體管后獲取所述晶體管當前的特性曲線；

確定獲取的所述晶體管當前的特性曲線是否滿足要求；

若獲取的所述晶體管當前的特性曲線不滿足要求，則增大所述參考截止電壓范圍，并以增大后的所述參考截止電壓范圍為目標截止電壓范圍；

直到所述晶體管當前的特性曲線滿足要求，并將滿足要求時的參考柵源電壓和參考漏源電壓作為所述晶體管所需的柵源電壓和漏源電壓；

根據所述確定的各晶體管所需的柵源電壓和漏源電壓，對所述顯示面板中需要進行老化處理的晶體管進行老化處理。

2.如權利要求1所述的老化處理方法，其特征在于，根據預先獲取的柵源電壓、漏源電壓和截止電壓范圍的對應關系，確定所述晶體管要達到所述目標截止電壓范圍時所需的參考柵源電壓和參考漏源電壓。

3.如權利要求1所述的老化處理方法，其特征在于，確定獲取的所述晶體管當前的特性曲線是否滿足要求，具體為：

確定點亮所述顯示面板時所述晶體管所需的柵源電壓是否在所述晶體管當前的截止電壓范圍內；

若是，則滿足要求；

若否，則不滿足要求。

4.如權利要求1-3任一項所述的老化處理方法，其特征在于，所述獲取該晶體管的初始特性曲線，具體為：

根據預先獲取的所述晶體管的特性測試結果模擬所述晶體管的初始特性曲線。

5.如權利要求4所述的老化處理方法，其特征在于，預先獲取的所述晶體管的特性測試結果是所述顯示面板在進行陣列基板測試時獲得的。

6.如權利要求1-3任一項所述的老化處理方法，其特征在于，根據所述確定的各晶體管所需的柵源電壓和漏源電壓，對所述顯示面板中需要進行老化處理的晶體管進行老化處理，具體為：

根據確定的各晶體管所需的柵源電壓和漏源電壓，確定的各晶體管所需的柵極電壓、源極電壓以及漏極電壓；

將各晶體管所需的柵極電壓、源極電壓以及漏極電壓施加至對應的晶體管上，以對需要進行老化處理的各所述晶體管進行老化處理。

7.一種應用于顯示面板的老化處理系統，其特征在于，包括：

分析模塊，用于對所述顯示面板中需要進行老化處理的晶體管，獲取所述晶體管的初始特性曲線；并根據獲取的所述初始特性曲線確定所述晶體管的初始截止電壓范圍；

電壓確定模塊，根據所述初始截止電壓范圍確定所述晶體管對應的參考截止電壓范圍；以所述參考截止電壓范圍為目標截止電壓范圍，確定所述晶體管要達到所述目標截止電壓范圍時所需的參考柵源電壓和參考漏源電壓；將所述參考柵源電壓和所述參考漏源電壓施加于所述晶體管后獲取所述晶體管當前的特性曲線；確定獲取的所述晶體管當前的特性曲線是否滿足要求；若獲取的所述晶體管當前的特性曲線不滿足要求，則增大所述參考截止電壓范圍，并以增大后的所述參考截止電壓范圍為目標截止電壓范圍；直到所述晶體管當前的特性曲線滿足要求，并將滿足要求時的參考柵源電壓和參考漏源電壓作為所述晶體管所需的柵源電壓和漏源電壓；

測試模塊，用于根據所述確定的各晶體管所需的柵源電壓和漏源電壓，對所述顯示面板中需要進行老化處理的晶體管進行老化處理。

8.如權利要求7所述的老化處理系統，其特征在于，所述電壓確定模塊用于根據預先獲取的柵源電壓、漏源電壓和截止電壓范圍的對應關系，確定所述晶體管要達到所述目標截止電壓范圍時所需的參考柵源電壓和參考漏源電壓。