[發(fā)明專利]一種基于人工智能的單板檢測方法和檢測設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711335874.2 | 申請日: | 2017-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN108362703A | 公開(公告)日: | 2018-08-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 丁磊;張先耀 | 申請(專利權(quán))人: | 北京木業(yè)邦科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01B11/06 |
| 代理公司: | 北京辰權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11619 | 代理人: | 郝雅娟 |
| 地址: | 100040 北京市石景*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 單板 檢測 人工智能 單板檢測 分類揀選 檢測設(shè)備 缺陷檢測 木皮 匹配 自動化流水作業(yè) 圖像 圖像采集裝置 獲取圖像 機器視覺 機器學(xué)習(xí) 位置不變 紋理缺陷 限位裝置 質(zhì)量信息 厚薄 傳統(tǒng)的 均勻度 透過性 背面 照射 輸出 申請 保證 | ||
1.一種基于人工智能的單板缺陷檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取經(jīng)背面透過性照射的待檢測單板圖像;
根據(jù)缺陷檢測模型對所述待檢測單板圖像進行識別和匹配;
根據(jù)所述識別和匹配的結(jié)果得到所述待檢測單板的質(zhì)量信息;
其中,在獲取圖像過程中,待檢測單板與圖像采集裝置相對位置不變。
2.一種基于人工智能的單板缺陷檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取經(jīng)背面透過性照射的待檢測單板圖像;
根據(jù)缺陷檢測模型對所述待檢測單板圖像進行識別和匹配;
根據(jù)所述識別和匹配的結(jié)果得到所述待檢測單板的質(zhì)量信息;
根據(jù)所述質(zhì)量信息的輸出結(jié)果對所述單板進行標(biāo)記。
3.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述待檢測單板的質(zhì)量信息的輸出結(jié)果包括:
直接輸出不同質(zhì)量等級的判斷結(jié)果;或者,
輸出不同質(zhì)量等級的判斷結(jié)果、并標(biāo)注出厚度或厚度分布不均勻的區(qū)域。
4.一種基于人工智能的單板缺陷檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取經(jīng)背面透過性照射的待檢測單板圖像;
根據(jù)缺陷檢測模型對所述待檢測單板圖像進行識別和匹配;
根據(jù)所述識別和匹配的結(jié)果得到所述待檢測單板的質(zhì)量信息;
根據(jù)所述質(zhì)量信息對所述單板分類揀選。
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述缺陷檢測模型利用機器學(xué)習(xí)獲得,具體包括如下步驟:
獲取經(jīng)背面透過性照射的單板樣本圖像;
接收對所述單板樣本圖像的標(biāo)注信息;
將標(biāo)注后的圖像樣本輸入到需進行機器學(xué)習(xí)的初始模型中;
根據(jù)所述單板樣本圖像和對應(yīng)的所述標(biāo)注信息對初始模型進行訓(xùn)練,獲得經(jīng)過機器學(xué)習(xí)的缺陷檢測模型。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述接收對所述單板樣本圖像的標(biāo)注信息的步驟進一步包括:
接收對單板厚度存在問題的區(qū)域和強度的標(biāo)注信息;和/或,
接收對通過背面光照系統(tǒng)得到的圖像中呈現(xiàn)的單板蟲眼和/或礦物線缺陷的標(biāo)注信息。
7.一種基于人工智能的單板缺陷檢測設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備包括:
傳送裝置;
單板限位裝置,能夠?qū)魉脱b置上的單板固定于圖像采集區(qū);
圖像采集裝置,用于在單板固定于圖像采集區(qū)時獲取單板的透過性照射圖像;
以及,
質(zhì)量檢測單元,用于通過圖像采集裝置獲取的圖像,對單板的缺陷進行識別,并輸出識別結(jié)果。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測設(shè)備,其特征在于,所述質(zhì)量檢測單元還包括:具有自動檢測模型的缺陷檢測模塊,自動檢測模型結(jié)合相應(yīng)的屬性進行機器學(xué)習(xí),所述相應(yīng)的屬性為預(yù)設(shè)的檢測屬性或自定義檢測的屬性。
9.一種計算機可讀介質(zhì),其上存儲有計算機指令,其特征在于,該計算機指令被執(zhí)行以實現(xiàn)如權(quán)利要求1-6中任一項所述的方法步驟。
10.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括存儲器和處理器;其中,
所述存儲器用于存儲一條或多條計算機指令,其中,所述一條或多條計算機指令被所述處理器執(zhí)行以實現(xiàn)如權(quán)利要求1-6中任一項所述的方法步驟。
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G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
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