[發明專利]一種掃描機構光路調試裝置及調試方法

有效

• 申請號: 201711335291.X
• 申請日: 2017-12-14
• 公開（公告）號: CN108196377B
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發明（設計）人: 屈亮;遠卓;申亞男
• 申請（專利權）人: 中國航空工業集團公司洛陽電光設備研究所
• 主分類號: G02B27/62
• 分類號: G02B27/62
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 陳星

1.一種掃描機構光路調試裝置，其特征在于：包括安裝支架、調試轉臺、裝夾機構、第一自準直儀、第二自準直儀、第三自準直儀、平晶反射鏡、雙通道旋轉變壓器解讀器及內反射鏡；

所述調試轉臺、第一自準直儀、第二自準直儀、第三自準直儀、內反射鏡均安裝在安裝支架上，且第二自準直儀能夠調節高度用于分別調試不同波段光路；

所述調試轉臺臺面帶有角度調節機構，能夠實現臺面在方位方向和俯仰方向角度微調；所述調試轉臺上帶有雙通道旋轉變壓器解讀器，能夠實現轉動角度的精確測量；所述調試轉臺的轉軸與第一自準直儀以及第二自準直儀的光軸垂直，且第三自準直儀的光軸經過內反射鏡后與調試轉臺的轉軸平行；

所述裝夾機構安裝在調試轉臺臺面上；

所述平晶反射鏡能夠反射面向下安裝在掃描機構上。

2.根據權利要求1所述一種掃描機構光路調試裝置，其特征在于：第一自準直儀與第二自準直儀平行度小于等于5″；第一自準直儀與調試轉臺轉軸的垂直度≤5″；第三自準直儀經過內反射鏡反射后的光軸與調試轉臺轉軸的平行度≤5″。

3.根據權利要求1或2所述一種掃描機構光路調試裝置，其特征在于：裝夾機構中心軸線與調試轉臺轉軸的同軸度≤3mm。

4.根據權利要求3所述一種掃描機構光路調試裝置，其特征在于：調試轉臺轉動過程中徑向跳動≤2μm，角晃動≤3″。

5.利用權利要求1所述調試裝置調試掃描機構光路的方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟1：將掃描機構部件通過裝夾機構固定在調試轉臺臺面上；在掃描機構方位軸上安裝反射面向下的平晶反射鏡；通過調試轉臺轉動掃描機構方位軸，并調整平晶反射鏡，使第三自準直儀觀測到的劃圓量最小，劃圓圓心到第三自準直儀分劃板中心的偏差量為掃描機構方位軸與調試轉臺臺面的垂直度；

步驟2：調整調試轉臺臺面角度，使第三自準直儀自準直，實現掃描機構方位軸與第三自準直儀經過內反射鏡反射后的光軸平行；將調試轉臺轉至標定好的零位位置，轉動掃描機構的掃描反射鏡，使高度與掃描反射鏡相同的第一自準直儀與第三自準直儀互準；

步驟3：在掃描機構方位軸上安裝反射面向下的平晶反射鏡，調整第二自準直儀高度與掃描機構中分光鏡高度相同，使第二自準直儀經過分光鏡能夠看到對平晶反射鏡的自準像；轉動掃描機構方位軸，調整平晶反射鏡使第二自準直儀觀測到的劃圓量最小，劃圓圓心到第二自準直儀分劃板中心的偏差量為當前波段光路的偏離量；根據該偏離量調整分光鏡，使第二自準直儀自準；

步驟4：調整第二自準直儀高度與掃描機構中固定反射鏡高度相同，使第二自準直儀經過固定反射鏡能夠看到對平晶反射鏡的自準像；轉動掃描機構方位軸，調整平晶反射鏡使第二自準直儀觀測到的劃圓量最小，劃圓圓心到第二自準直儀分劃板中心的偏差量為當前波段光路的偏離量；根據該偏離量調整固定反射鏡，使第二自準直儀自準。