[發明專利]一種掃描機構光路調試裝置及調試方法

有效

• 申請號: 201711335291.X
• 申請日: 2017-12-14
• 公開（公告）號: CN108196377B
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發明（設計）人: 屈亮;遠卓;申亞男
• 申請（專利權）人: 中國航空工業集團公司洛陽電光設備研究所
• 主分類號: G02B27/62
• 分類號: G02B27/62
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 陳星

本發明提出一種掃描機構光路調試裝置及調試方法，裝置包括安裝支架、調試轉臺、裝夾機構、第一自準直儀A、第二自準直儀B、第三自準直儀C、平晶反射鏡、雙通道旋轉變壓器解讀器及反射鏡。其特征在于，該轉臺轉軸與第一自準直儀A、B的光軸垂直，該第三自準直儀C的光軸經過反射鏡后與轉臺轉軸平行，形成以旋轉轉臺軸線為基準的正交光學基準，該調試轉臺臺面帶有角度調節機構，可實現兩個正交方向的角度微調，該調試轉臺帶有雙通道旋轉變壓器解讀器，可實現轉動角度的精確測量。采用本發明的調試裝置及方法，能夠分別調整掃描機構分光鏡及固定反射鏡的位置及角度，確保紅外光路與掃描機構方位軸垂直度≤10″、激光光路與掃描機構方位軸垂直度≤10″。

技術領域

本發明屬于光機裝調技術領域，具體為一種掃描機構光路調試裝置及調試方法。本發明可用于帶有紅外、激光折轉光路的掃描機構的裝調。

背景技術

光電雷達掃描機構為光電雷達的重要部件，掃描機構包含掃描反射鏡、紅外激光分光鏡、固定反射鏡。掃描反射鏡可以在方位俯仰方向掃描，接收紅外、激光信息，然后通過紅外激光分光鏡使紅外、激光分離，各自進入紅外系統和激光光學系統。要求紅外光路與掃描機構方位軸垂直度≤10″、激光光路與掃描機構方位軸垂直度≤10″。

目前光電雷達掃描機構在安裝時都只是通過機械零件的尺寸精度來保證紅外、激光光路與掃描機構方位軸垂直度滿足要求；但由于機加零件的精度有限，難以保證光電雷達掃描機構的垂直度要求，有必要設計相應的裝調裝置及方法來滿足光電雷達掃描機構安裝過程中光路設計要求。

發明內容

本發明的目的是提供一種掃描機構光路調試裝置及調試方法，該裝置及方法可用于帶有復雜軸系，帶有多條折轉光路的光學系統的裝調。

本發明的技術方案為：

所述一種掃描機構光路調試裝置，其特征在于：包括安裝支架、調試轉臺、裝夾機構、第一自準直儀、第二自準直儀、第三自準直儀、平晶反射鏡、雙通道旋轉變壓器解讀器及內反射鏡；

所述調試轉臺、第一自準直儀、第二自準直儀、第三自準直儀、內反射鏡均安裝在安裝支架上，且第二自準直儀能夠調節高度用于分別調試不同波段光路；

所述調試轉臺臺面帶有角度調節機構，能夠實現臺面在方位方向和俯仰方向角度微調；所述調試轉臺上帶有雙通道旋轉變壓器解讀器，能夠實現轉動角度的精確測量；所述調試轉臺的轉軸與第一自準直儀以及第二自準直儀的光軸垂直，且第三自準直儀的光軸經過內反射鏡后與調試轉臺的轉軸平行；

所述裝夾機構安裝在調試轉臺臺面上；

所述平晶反射鏡能夠反射面向下安裝在掃描機構上。

進一步的優選方案，所述一種掃描機構光路調試裝置，其特征在于：第一自準直儀與第二自準直儀平行度小于等于5″；第一自準直儀與調試轉臺轉軸的垂直度≤5″；第三自準直儀經過內反射鏡反射后的光軸與調試轉臺轉軸的平行度≤5″。

進一步的優選方案，所述一種掃描機構光路調試裝置，其特征在于：裝夾機構中心軸線與調試轉臺轉軸的同軸度≤3mm。

進一步的優選方案，所述一種掃描機構光路調試裝置，其特征在于：調試轉臺轉動過程中徑向跳動≤2μm，角晃動≤3″。

利用上述調試裝置調試掃描機構光路的方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟1：將掃描機構部件通過裝夾機構固定在調試轉臺臺面上；在掃描機構方位軸上安裝反射面向下的平晶反射鏡；通過調試轉臺轉動掃描機構方位軸，并調整平晶反射鏡，使第三自準直儀觀測到的劃圓量最小，劃圓圓心到第三自準直儀分劃板中心的偏差量為掃描機構方位軸與調試轉臺臺面的垂直度；