[發明專利]用于二代測序質量評估的文庫、試劑及應用有效
| 申請號: | 201711330411.7 | 申請日: | 2017-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN108203847B | 公開(公告)日: | 2022-01-04 |
| 發明(設計)人: | 廖莎;閆東東;章文蔚;徐崇鈞;陳奧;陳瑩;趙杰;許軍強;傅德豐;何琳 | 申請(專利權)人: | 深圳華大智造科技股份有限公司 |
| 主分類號: | C40B40/06 | 分類號: | C40B40/06;C12N15/70;C12N1/21;C12Q1/6869;C12R1/19 |
| 代理公司: | 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281 | 代理人: | 李小焦;彭家恩 |
| 地址: | 518083 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 二代 質量 評估 文庫 試劑 應用 | ||
1.一種用于二代測序質量評估的文庫,其特征在于:所述文庫為具有不同堿基特征的已知序列的單鏈DNA文庫,并且在所述文庫中連接有接頭序列和索引序列;所述具有不同堿基特征的已知序列的單鏈DNA文庫包括高AT含量單鏈DNA、高GC含量單鏈DNA、poly結構單鏈DNA和發夾結構單鏈DNA;所述文庫的兩端還具有通用引物結合序列;
所述高AT含量單鏈DNA是指AT含量大于或等于72.95%的單鏈DNA;
所述高GC含量單鏈DNA是指GC含量大于或等于75.47%的單鏈DNA。
2.根據權利要求1所述的文庫,其特征在于:所述單鏈DNA文庫由SEQ ID NO.7所示序列、SEQ ID NO.8所示序列、SEQ ID NO.9所示序列、SEQ ID NO.10所示序列、SEQ ID NO.11所示序列和SEQ ID NO.12所示序列組成。
3.一種克隆載體,所述克隆載體包括質粒和插入片段,其特征在于:所述插入片段包括權利要求1或2所述的文庫。
4.根據權利要求3所述的克隆載體,其特征在于:所述質粒為pMD18-T或pMD19-T。
5.一種工程菌,所述工程菌包括受體菌和導入并保存于受體菌中的權利要求3或4所述的克隆載體。
6.根據權利要求5所述的工程菌,其特征在于:所述受體菌為大腸桿菌。
7.一種用于二代測序質量評估的試劑,其特征在于:所述試劑包括權利要求1或2所述的文庫、權利要求3或4所述的克隆載體或者權利要求5或6所述的工程菌。
8.根據權利要求7所述的試劑,其特征在于:還包括通用引物,所述通用引物的上游引物為SEQ ID NO.13所示序列,下游引物為SEQ ID NO.14所示序列。
9.根據權利要求7或8所述的試劑,其特征在于:還包括splint oligo,所述splintoligo為SEQ ID NO.15所示序列。
10.根據權利要求1或2所述的文庫、權利要求3或4所述的克隆載體、權利要求5或6所述的工程菌或者權利要求7-9任一項所述的試劑在堿基與測序質量關系評估、擴增酶堿基偏好性和準確性評估、測序酶準確性評估、堿基信號提取評估或改善、二代測序準確度檢測或者建庫到測序各個環節錯誤率檢測中的應用。
11.一種提高核酸測序準確性的方法,其特征在于:包括采用一個具有不同堿基特征的已知序列的單鏈DNA文庫進行測序,將測序結果與已知序列進行比較,統計分析在不同堿基特征中存在的測序偏差,根據所述測序偏差糾正測序軟件算法,從而提高核酸測序準確性;所述具有不同堿基特征的已知序列的單鏈DNA文庫包括高AT含量單鏈DNA、高GC含量單鏈DNA、poly結構單鏈DNA和發夾結構單鏈DNA;
所述poly結構單鏈DNA包括poly A結構單鏈DNA、poly T結構單鏈DNA、poly G結構單鏈DNA和poly C結構單鏈DNA中的至少一種;
所述高AT含量單鏈DNA是指AT含量大于或等于72.95%的單鏈DNA;
所述高GC含量單鏈DNA是指GC含量大于或等于75.47%的單鏈DNA。
12.根據權利要求11所述的方法,其特征在于:所述單鏈DNA文庫為權利要求1或2所述的文庫。
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