[發明專利]探索式手機BUG測試工藝在審
| 申請號: | 201711328069.7 | 申請日: | 2017-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN108052448A | 公開(公告)日: | 2018-05-18 |
| 發明(設計)人: | 萬眾;涂哲軍 | 申請(專利權)人: | 北京易誠高科科技發展有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36;H04M1/24 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100035 北京市豐臺*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 探索 手機 bug 測試 工藝 | ||
本發明公開了一種探索式手機BUG測試工藝,通過在BUG測試儀中建立以時間為節點相互平行的Log軸、Tag軸、截屏軸和動作軸,并在測試過程中分別將各種截屏圖像和操作動作記錄在該平行軸上,為后期不同階段測試過程劃分以及疑似BUG出現的等級劃分提供了數據支撐,方便了后期分析、定位、復現疑似BUG,明顯提高了測試效率和疑似BUG判斷的準確性,實現了測試過程和疑似BUG修復過程的良性循環。操作人員測試過程清晰,后期疑似BUG定位準確、復現方便。其測試工藝改變了原有的測試工作模式,簡化了操作和記錄過程,測試質量明顯提高。
技術領域
本發明涉及一種手機測試方法,特別涉及一種以探索式測試方法為基礎、以人工標記和復現測試過程為目標的手機BUG測試工藝。
背景技術
隨著智能手機的普及以及研發更新過程的加快,對智能手機進行高效、全面的測試就成為手機定型生產和質量保證的一個關鍵。
在傳統測試活動中,通過手工執行用例測試發現手機Bug的數量和質量都在下降,測試過程中疑似Bug不能及時被記錄,發現Bug后測試活動被暫停,更多的潛在Bug沒有被發現,測試完整性較差,測試效率低,人力、物力、財力消耗大,測試活動成本高。
近年來,探索式測試過程受到人們的青睞,探索式測試(exploratory testing)具有自由的軟件測試風格,強調測試人員同時開展測試學習、測試設計、測試執行和測試結果評估等活動,以持續優化測試工作。探索式測試強調依據當前語境(context)選擇合適的測試方式,將相關測試學習、測試設計、測試執行和測試結果解讀作為相互支持的活動,并行地進行執行,以達到完美的測試過程。
實際上,人腦難以并行地執行多項任務。探索式測試旨在將測試學習、測試設計、測試執行和測試分析做為一個循環快速地迭代,在較短的時間內(如1個小時)完成多次循環,以不斷收集反饋、調整測試、優化價值。
在探索式測試思路的啟發下,設計一種簡單、高效率、有序的手機Bug標記和復現測試流程工藝,改進測試過程,就成為本發明想要解決的主要問題。
發明內容
鑒于上述現有情況,本發明旨在提供一種以時間軸為基礎,在不暫停測試活動過程的前提下,通過BUG點自由標記、動作記錄、截圖采集、疑似BUG提示等手段,將測試過程全程記錄,以滿足后期BUG復現、測試用例生成以及測試學習、測試結果改進等方面的測試需要,進而提高手機測試效率,降低手機測試成本。
本發明是通過以下技術方案來實現的:
探索式手機BUG測試工藝,具體步驟包括:
步驟1、將待測手機跟單片機控制下的BUG測試儀信號連接。
步驟2、操作人員針對待測手機執行測試任務,BUG測試儀對測試過程進行監控,存儲測試過程中待測手機的截屏圖像和操作動作,并分別記錄在BUG測試儀內設置的以時間為X軸的截屏軸和動作軸上。
步驟3、如操作人員發現有疑似BUG出現,操作人員點擊BUG測試儀上的B鍵,BUG測試儀對其內部以時間為X軸的Tag軸進行字母B1標記,如有多次疑似BUG出現,則進行相應地多次B鍵點擊并標記為B2…Bn,測試過程不斷進行,如操作人員沒有發現疑似BUG,測試過程繼續。
步驟4、操作人員在測試過程中改變思路,操作人員點擊BUG測試儀上的L鍵,BUG測試儀對其內部以時間為X軸的Tag軸進行字母L1標記,如有多次測試思路改變,則進行相應地多次L鍵點擊并標記L2…Ln。
步驟5、當一個測試用例或一個需求用例測試完成時,手機BUG測試結束,BUG測試儀中存儲并形成一個以時間為節點的Tag軸、截屏軸和動作軸三軸平行的測試記錄。
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