[發明專利]探索式手機BUG測試工藝

在審

• 申請號: 201711328069.7
• 申請日: 2017-12-13
• 公開（公告）號: CN108052448A
• 公開（公告）日: 2018-05-18
• 發明（設計）人: 萬眾;涂哲軍
• 申請（專利權）人: 北京易誠高科科技發展有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;H04M1/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.探索式手機BUG測試工藝，其特征在于，具體步驟包括：

步驟1、將待測手機跟單片機控制下的BUG測試儀信號連接；

步驟2、操作人員針對待測手機執行測試任務，BUG測試儀對測試過程進行監控，存儲測試過程中待測手機的截屏圖像和操作動作，并分別記錄在BUG測試儀內設置的以時間為X軸的截屏軸和動作軸上；

步驟3、如操作人員發現有疑似BUG出現，操作人員點擊BUG測試儀上的B鍵，BUG測試儀對其內部以時間為X軸的Tag軸進行字母B1標記，如有多次疑似BUG出現，則進行相應地多次B鍵點擊并標記為B2…Bn，測試過程不斷進行；

如操作人員沒有發現疑似BUG，測試過程繼續；

步驟4、操作人員在測試過程中改變思路，操作人員點擊BUG測試儀上的L鍵，BUG測試儀對其內部以時間為X軸的Tag軸進行字母L1標記，如有多次測試思路改變，則進行相應地多次L鍵點擊并標記L2…Ln；

步驟5、當一個測試用例或一個需求用例測試完成時，手機BUG測試結束，BUG測試儀中存儲并形成一個以時間為節點的Tag軸、截屏軸和動作軸三軸平行的測試記錄。

2.根據權利要求1所述的探索式手機BUG測試工藝，其特征在于，如測試記錄中有B1…Bn的字母標記，上述步驟還包括后期測試分析過程，具體包括：

步驟6、根據BUG測試儀中存儲的測試記錄，以L1…Ln為節點對測試過程進行模塊劃分，并根據每個劃分模塊內B1…Bn單位時間內出現的次數進行等級劃分；

步驟7、根據劃分等級，以同步方式對Tag軸、截屏軸和動作軸進行測試過程的依次回看，如BUG復現，確定發生BUG的精確位置，明確發生BUG的必要條件和必要步驟，提取相應記錄信息后完成BUG修復；如BUG沒有復現，結束后期測試分析過程。

3.根據權利要求2所述的探索式手機BUG測試工藝，其特征在于，如BUG復現，還包括：

步驟8、把發生BUG的必要條件和必要步驟自動回歸，生成一個測試用例或一個需求用例，用于后期BUG修復后的手機BUG復測。

4.根據權利要求1、2或3所述的探索式手機BUG測試工藝，其特征在于，所述步驟2中BUG測試儀對測試過程的監控還包括：

步驟2-1、在BUG測試儀中設置BUG關鍵字集，當待測手機中有BUG關鍵字集中的BUG關鍵字被BUG測試儀過濾發現，BUG測試儀產生聲光報警，該BUG關鍵字被記錄在BUG測試儀內設置的以時間為X軸的Log軸上；或記錄的同時，在BUG測試儀上顯示該BUG關鍵字；

步驟2-2、操作人員重復最近操作步驟，按聲光報警提示或內容提示檢查是否有該疑似BUG復現。

5.根據權利要求1、2或3所述的探索式手機BUG測試工藝，其特征在于，所述步驟4中測試思路改變包括對疑似BUG出現后的復現操作過程。