[發(fā)明專利]顯示基板及其制造方法、顯示裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711325127.0 | 申請日: | 2017-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN108054103B | 公開(公告)日: | 2022-01-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 胡迎賓;袁廣才;趙策;丁遠奎;程磊磊;李偉;張揚;馬睿 | 申請(專利權(quán))人: | 合肥鑫晟光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/44 | 分類號: | H01L21/44;H01L21/34;H01L29/786;H01L29/417 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11138 | 代理人: | 滕一斌 |
| 地址: | 230012 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 顯示 及其 制造 方法 顯示裝置 | ||
1.一種顯示基板的制造方法,其特征在于,所述顯示基板為背溝道刻蝕BCE結(jié)構(gòu)顯示基板;所述方法包括:
在襯底基板上依次形成柵極、柵絕緣層和半導(dǎo)體層;
在形成有所述半導(dǎo)體層的襯底基板上形成導(dǎo)電材質(zhì)層;
對所述導(dǎo)電材質(zhì)層進行刻蝕,得到源漏極層,其中,所述導(dǎo)電材質(zhì)層上與所述半導(dǎo)體層接觸的部位通過干法刻蝕工藝刻蝕,所述半導(dǎo)體層上各個位置的厚度相等,且所述半導(dǎo)體層上各個位置的導(dǎo)電特性無差異;
其中,所述導(dǎo)電材質(zhì)層包括三個子導(dǎo)電材質(zhì)層,所述三個子導(dǎo)電材質(zhì)層按照靠近所述半導(dǎo)體層到遠離所述半導(dǎo)體層的形成材料依次為金屬鉬、金屬鋁和金屬鉬,按照靠近所述半導(dǎo)體層到遠離所述半導(dǎo)體層的順序,所述三個子導(dǎo)電材質(zhì)層各自厚度的取值范圍分別為和
所述對所述導(dǎo)電材質(zhì)層進行刻蝕,得到源漏極層,其中,所述導(dǎo)電材質(zhì)層上與所述半導(dǎo)體層接觸的部位通過干法刻蝕工藝刻蝕,包括:
通過濕法刻蝕工藝對所述導(dǎo)電材質(zhì)層中,未與所述半導(dǎo)體層接觸的子導(dǎo)電材質(zhì)層進行刻蝕,且對與所述半導(dǎo)體層接觸的子導(dǎo)電材質(zhì)層進行過刻,但不刻透所述導(dǎo)電材質(zhì)層;
通過干法刻蝕工藝對所述導(dǎo)電材質(zhì)層中,與所述半導(dǎo)體層接觸的子導(dǎo)電材質(zhì)層進行刻蝕,并刻透所述導(dǎo)電材質(zhì)層,得到源漏極層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,
所述干法刻蝕工藝的刻蝕氣體為氟化硫氣體和氧氣的混合氣體;或者,
所述干法刻蝕工藝的刻蝕氣體為氟化硫氣體、氧氣和氦氣的混合氣體。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述對所述導(dǎo)電材質(zhì)層進行刻蝕,得到源漏極層,包括:
通過構(gòu)圖工藝對所述導(dǎo)電材質(zhì)層進行處理,得到源漏極層,所述構(gòu)圖工藝包括光刻膠涂覆、曝光、顯影、刻蝕和光刻膠剝離。
4.一種采用權(quán)利要求1至3任一所述的方法制造的顯示基板,其特征在于,所述顯示基板包括:襯底基板,以及,依次設(shè)置在所述襯底基板上的柵極、柵絕緣層、半導(dǎo)體層和源漏極層,所述半導(dǎo)體層上各個位置的厚度相等,且所述半導(dǎo)體層上各個位置的導(dǎo)電特性無差異;
其中,所述源漏極層包括三個子層,所述三個子層按照靠近所述半導(dǎo)體層到遠離所述半導(dǎo)體層的形成材料依次為金屬鉬、金屬鋁和金屬鉬,按照靠近所述半導(dǎo)體層到遠離所述半導(dǎo)體層的順序,所述三個子層各自厚度的取值范圍分別為和
5.一種顯示裝置,其特征在于,所述顯示裝置包括權(quán)利要求4所述的顯示基板。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





