[發明專利]高度靈活的性能計數器和系統調試模塊

有效

• 申請號: 201711317586.4
• 申請日: 2017-12-12
• 公開（公告）號: CN108228419B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: L.H.魯賓;D.C.坦嫩鮑姆
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G06F11/30
• 分類號: G06F11/30;G06F11/34
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 邵亞麗

1.一種用于性能監視和可調試性設計的裝置，包括：

多個性能和調試監視電路PDMC；以及

其中每個性能和調試監視電路PDMC包括：

輸入級，被配置為接收多個輸入信號，其中所述輸入信號包括：來自其他性能和調試監視電路的信號、來自組合邏輯電路的信號、以及配置值；

組合級，被配置為對所述輸入信號的所選子集執行一個或多個比較和邏輯運算；以及

計數器，被配置為至少部分地基于所述組合級的結果而遞增。

2.如權利要求1所述的裝置，其中所述來自其他PDMC的信號各自包括與相應的所述其他PDMC相關聯的計數器值；以及

其中用于當前PDMC的所述輸入信號包括從所述當前PDMC的計數器反饋到所述當前PDMC的輸入級的計數器值。

3.如權利要求1所述的裝置，其中所述組合級包括多個不同的邏輯運算，并且其中要執行的一個或多個邏輯運算是基于配置設置而動態地選擇。

4.如權利要求1所述的裝置，其中所述計數器被配置為按照與所述輸入信號中所選的一個相關聯的遞增值而遞增，并且其中所述輸入信號中所選的一個是基于配置設置而動態地選擇。

5.如權利要求1所述的裝置，其中所述輸入信號包括包含多比特輸入信號的第一部分，以及包含單比特輸入信號的第二部分；以及

其中所述輸入級包括多個選擇電路，所述多個選擇電路被配置為選擇輸入信號的子集以傳遞到所述組合級。

6.如權利要求5所述的裝置，其中，所述組合級包括第一部分和第二部分；

其中所述組合級的第一部分包括：

所述組合級的第一級，被配置為對所述輸入信號的子集至少執行比較運算，以及

所述組合級的第二級，被配置為對所述第一級的輸出至少執行布爾運算；以及

其中所述組合級的第二部分被配置為對所述組合級的第一部分的輸出以及所述輸入信號的第二部分的子集至少執行布爾運算。

7.如權利要求6所述的裝置，其中所述組合級的第一級的比較運算和布爾運算、以及所述組合級的第二級的布爾運算是基于相應設置配置從一組預定運算中動態選擇的。

8.如權利要求1所述的裝置，其中所述組合級包括：

多個比較級，其中每個比較級被配置為對所述輸入信號的至少一部分或所述組合級的另一部分的至少一個輸出至少執行比較運算；

多個布爾級，其中每個布爾級被配置為對所述輸入信號的至少一部分或所述組合級的另一部分的至少一個輸出至少執行布爾運算；

其中所述多個比較級和多個布爾級被安排為對所述輸入信號的所選子集執行一個或多個邏輯運算。

9.一種用于性能監視和可調試性設計的系統，包括：

圖形處理電路，被配置為操縱和改變存儲器中的數據以創建用于輸出到顯示設備的圖像，所述圖形處理電路包括多個組合邏輯電路；

多個性能和調試監視電路PDMC；以及

其中每個性能和調試監視電路PDMC包括：

輸入級，被配置為接收多個輸入信號，其中所述輸入信號包括：來自其他性能和調試監視電路的信號、來自組合邏輯電路的信號、以及配置值；

組合級，被配置為對所述輸入信號的所選子集執行一個或多個比較和邏輯運算；以及

計數器，被配置為至少部分地基于所述組合級的結果而遞增。

10.如權利要求9所述的系統，其中所述來自其他PDMC的信號各自包括與相應的所述其他PDMC相關聯的計數器值；以及

其中用于當前PDMC的所述輸入信號包括從所述當前PDMC的計數器反饋到所述當前PDMC的輸入級的計數器值。

11.如權利要求9所述的系統，其中所述組合級包括多個不同的邏輯運算，并且其中，要執行的一個或多個邏輯運算是基于配置設置而動態地選擇。