[發明專利]一種評價復合材料層壓結構缺陷超聲檢出概率的方法

有效

• 申請號: 201711290135.6
• 申請日: 2017-12-07
• 公開（公告）號: CN108226291B
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: 劉松平;劉菲菲;李樂剛;白金鵬;傅天航;史俊偉
• 申請（專利權）人: 中航復合材料有限責任公司
• 主分類號: G01N29/06
• 分類號: G01N29/06
• 代理公司: 中國航空專利中心 11008
• 代理人: 梁瑞林

本發明屬于無損檢測技術領域，涉及一種評價復合材料層壓結構缺陷超聲檢出概率的方法。評價的步驟如下：獲取缺陷檢測信息；缺陷檢出的判別方法；缺陷大小加權；缺陷深度加權；計算缺陷等效漏檢數；計算缺陷大小檢出概率；計算缺陷深度確定概率。本發明提出了一種評價復合材料層壓結構缺陷超聲檢出概率的方法，能考慮超聲對復合材料層壓結構中缺陷的檢出概率因素和缺陷重復性問題，能給出有關所選用的超聲檢測儀器設備及檢測人員等對復合材料層壓結構中缺陷檢出概率定量的信息，能給出判斷不同的超聲檢測法的缺陷檢出概率，能給出不同缺陷的漏檢對超聲檢出概率的影響程度，從而提高了復合材料層壓結構超聲檢測結果的可靠性和準確性。

技術領域

本發明屬于無損檢測技術領域，涉及一種評價復合材料層壓結構缺陷超聲檢出概率的方法。

背景技術

超聲是一種非常重要的復合材料層壓結構無損檢測方法，目前已廣泛用于復合材料的無損檢測。通常為了評價超聲檢測方法、檢測工藝、檢測儀器設備、檢測人員等對缺陷的綜合檢出能力和檢測的可靠性及檢測準確性，在技術上，都需要利用設計制備的含有不同模擬缺陷的對比試塊，檢驗超聲儀器設備及人員對缺陷的檢出能力。目前是采用靈敏度調節的方法確定所選用的超聲儀器設備是否滿足被檢測復合材料層壓結構的缺陷驗收要求。其顯著的不足是：1)沒有考慮超聲對缺陷的檢出概率因素和缺陷重復性問題；2)沒有給出有關所選用的超聲檢測儀器設備及檢測人員等對缺陷檢出概率定量的信息；3)沒有給出判斷不同的超聲檢測法的缺陷檢出概率；4)沒有給出不同缺陷的漏檢對超聲檢出概率的影響程度；從而影響超聲檢測結果的可靠性和準確性。

發明內容

本發明的目的是：提出一種評價復合材料層壓結構缺陷超聲檢出概率的方法，以便考慮超聲對復合材料層壓結構中缺陷的檢出概率因素和缺陷重復性問題，給出有關所選用的超聲檢測儀器設備及檢測人員等對復合材料層壓結構中缺陷檢出概率定量的信息，給出判斷不同的超聲檢測法的復合材料層壓結構中缺陷檢出概率，給出不同復合材料層壓結構中缺陷的漏檢對超聲檢出概率的影響程度，從而提高超聲檢測結果的可靠性和準確性。

本發明的技術方案是：一種評價復合材料層壓結構缺陷超聲檢出概率的方法，所用的超聲檢測系統由超聲換能器1、超聲A顯示單元2和超聲C掃描單元3組成，在層壓結構概率試塊4內部設置有缺陷5，評價的步驟如下：

1、獲取缺陷檢測信息：利用超聲檢測系統分別對層壓結構概率試塊4進行超聲A掃描檢測和超聲C掃描檢測，并記錄相應的超聲A掃描檢測結果和超聲 C掃描檢測結果，包括超聲A掃描檢出缺陷的大小和超聲A-掃描檢出缺陷的深度超聲C掃描檢出缺陷的大小其中：

i為檢出缺陷的序號，i＝1、2、3、…n；

表示超聲A掃描檢出的第i個缺陷在長度方向的最大尺寸，即缺陷長軸方向的尺寸；

表示超聲C掃描檢出的第i個缺陷在長度方向的最大尺寸，即缺陷長軸方向的尺寸；

表示超聲A掃描檢出的第i個缺陷在垂直缺陷長軸方向的最大尺寸，即缺陷短軸方向的尺寸；

表示超聲C掃描檢出的第i個缺陷在垂直缺陷長軸方向的最大尺寸，即缺陷短軸方向的尺寸；

2、缺陷檢出的判別方法：

2.1、超聲A掃描檢出缺陷的判別：

2.1.1、當超聲A掃描檢出的第i個缺陷大小滿足(1)式，判別為檢出該缺陷，否則，判別為漏檢；

式中：

為第i個檢出缺陷在層壓結構概率試塊4中對應的長軸方向的實際尺寸；

為第i個檢出缺陷在層壓結構概率試塊4中對應的短軸方向的實際尺寸；

為第i個超聲A掃描檢出缺陷4在長軸方向的尺寸允差；