[發明專利]一種評價復合材料層壓結構缺陷超聲檢出概率的方法有效

申請號：	201711290135.6	申請日：	2017-12-07
公開（公告）號：	CN108226291B	公開（公告）日：	2020-08-11
發明（設計）人：	劉松平;劉菲菲;李樂剛;白金鵬;傅天航;史俊偉	申請（專利權）人：	中航復合材料有限責任公司
主分類號：	G01N29/06	分類號：	G01N29/06
代理公司：	中國航空專利中心 11008	代理人：	梁瑞林
地址：	101300 北京市***	國省代碼：	北京;11
權利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關鍵詞：	一種評價復合材料層壓結構缺陷超聲檢出概率方法
鉆瓜網技術展會專利詞庫專利權人專利榜在售專利公布日期熱門專利

【權利要求書】：

1.一種評價復合材料層壓結構缺陷超聲檢出概率的方法，所用的超聲檢測系統由超聲換能器(1)、超聲A顯示單元(2)和超聲C掃描單元(3)組成，在層壓結構概率試塊(4)內部設置有缺陷(5)，其特征在于，評價的步驟如下：

1.1、獲取缺陷檢測信息：利用超聲檢測系統分別對層壓結構概率試塊(4)進行超聲A掃描檢測和超聲C掃描檢測，并記錄相應的超聲A掃描檢測結果和超聲C掃描檢測結果，包括超聲A掃描檢出缺陷的大小和超聲A-掃描檢出缺陷的深度超聲C掃描檢出缺陷的大小其中：

i為檢出缺陷的序號，i＝1、2、3、…n；

表示超聲A掃描檢出的第i個缺陷在長度方向的最大尺寸，即缺陷長軸方向的尺寸；

表示超聲C掃描檢出的第i個缺陷在長度方向的最大尺寸，即缺陷長軸方向的尺寸；

表示超聲A掃描檢出的第i個缺陷在垂直缺陷長軸方向的最大尺寸，即缺陷短軸方向的尺寸；

表示超聲C掃描檢出的第i個缺陷在垂直缺陷長軸方向的最大尺寸，即缺陷短軸方向的尺寸；

1.2、缺陷檢出的判別方法：

1.2.1、超聲A掃描檢出缺陷的判別：

1.2.1.1、當超聲A掃描檢出的第i個缺陷大小滿足(1)式，判別為檢出該缺陷，否則，判別為漏檢；

式中：

為第i個檢出缺陷在層壓結構概率試塊(4)中對應的長軸方向的實際尺寸；

為第i個檢出缺陷在層壓結構概率試塊(4)中對應的短軸方向的實際尺寸；

為第i個超聲A掃描檢出缺陷(4)在長軸方向的尺寸允差；

為第i個超聲A掃描檢出缺陷(4)在短軸方向的尺寸允差；

和的選擇方法為下述方法之一：

絕對選擇方法：和在1mm～2mm之間選擇；

相對選擇方法：

1.2.1.2、當超聲A掃描檢出的第i個缺陷的深度滿足(2)式，判別為能確定該檢出缺陷深度否則，判別為不能確定該檢出缺陷深度位置；

式中：

為對應第i個超聲A掃描檢出缺陷在層壓結構概率試塊(4)中的實際深度，

h_p為層壓結構概率試塊(4)中單層復合材料鋪層的厚度；

1.2.2、超聲C掃描檢出缺陷的判別：

當超聲C掃描檢出的第i個缺陷的大小滿足(3)式，判別為檢出該缺陷；否則，判別為漏檢；

式中：

為第i個超聲C掃描檢出缺陷在長軸方向的尺寸允差；

為第i個超聲C掃描檢出缺陷在短軸方向的尺寸允差；

和的選擇方法為下述方法之一：

絕對選擇方法：和在1.0mm～1.5mm之間選擇；

相對選擇方法：

1.3、缺陷大小加權：根據被檢測復合材料層壓結構的驗收等級和材料工藝結構特點，對層壓結構概率試塊(4)中漏檢缺陷進行加權，加權系數為k_j，j＝1,2,3,4,5，具體方法為：φ₁、φ₂、φ₃、φ₄、φ₅為層壓結構概率試塊(4)中的5種不同尺寸大小的缺陷，φ₁φ₂φ₃φ₄φ₅；對應缺陷尺寸為φ₁的加權系數k₁＝1.0，對應缺陷尺寸為φ₂的加權系數k₂＝1.5，對應缺陷尺寸為φ₃的加權系數k₃＝2.0，對應缺陷尺寸為φ₄的加權系數k₄＝2.5，對應缺陷尺寸為φ₅的加權系數k₅＝3.0；

1.4、缺陷深度加權：定義h₁、h₂、h₃為層壓結構概率試塊(4)中的3種不同深度的缺陷，其中：h₁對應的缺陷深度位于層壓結構概率試塊(4)表面第1個～2個鋪層之間，h₂對應的缺陷深度位于層壓結構概率試塊(4)中間鋪層處，h₃對應的缺陷深度位于層壓結構概率試塊(4)底面第1個～第2個鋪層之間；缺陷深度加權系數為m_l，l＝1,2,3；不同深度缺陷加權系數為m_l的計算方法為：深度為h₁的缺陷對應的深度加權系數m₁＝1.0，深度為h₂的缺陷對應的m₂＝2.0，深度為h₃的缺陷對應的m₃＝1.0；