[發明專利]一種低應力氮化鋁晶體的生長方法有效
| 申請號: | 201711284009.X | 申請日: | 2017-12-07 |
| 公開(公告)號: | CN107904661B | 公開(公告)日: | 2021-04-27 |
| 發明(設計)人: | 楊麗雯;程章勇;劉欣宇 | 申請(專利權)人: | 北京華進創威電子有限公司 |
| 主分類號: | C30B29/40 | 分類號: | C30B29/40;C30B23/00 |
| 代理公司: | 北京中創陽光知識產權代理有限責任公司 11003 | 代理人: | 張宇鋒 |
| 地址: | 100176 北京市大*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 應力 氮化 晶體 生長 方法 | ||
本發明公開了一種低應力氮化鋁晶體的生長方法,該生長方法通過在生長過程中通過變溫變壓的方式,實現AlN晶體快速二維模式生長,降低了氮化鋁單晶的應力。得到晶體生長面不包含裂紋且含有自然生長臺階的氮化鋁體單晶。本申請采用控溫工藝,生長過程中特定溫度區間變溫變壓的方式,前期高壓低溫減小原子成核速率,增加初期成核規整度并抑制襯底分解失效,生長中期降壓提高生長速率,減緩襯底分解,生長后期,升溫加壓,增加氮源供給避免3維島狀生長模式,減小沉積不均,應力較大的現象,降溫后進行二次升溫,降低晶體內部應力,讓晶體表面裂紋愈合,使得碳化硅襯底分解,獲得自剝離的高質量的氮化鋁單晶。
技術領域
本發明涉及氮化鋁單晶制備領域,具體涉及一種低應力氮化鋁晶體的生長方法。
背景技術
AlN晶體是一種重要的寬禁帶(6.2eV)半導體材料,具有高熱導率(3.2W.cm-1K-1)、高電阻率及高表面聲速(5600-6000m/s)等優異的物理性質,在激光器,大功率電子器件,光電子器件和聲表面波器件中得到廣泛應用。目前,物理氣象傳輸法(PVT)是公認的制備大尺寸氮化鋁單晶的有效途徑,采用籽晶底是相對于自成核生長更為容易制備大單晶的方法。
通過升華法在異質襯底上生長AlN晶體的方法,使用大直徑的異質襯底能夠生長大尺寸的AlN晶體,然而由于襯底籽晶之間存在晶格失配和熱失配,以及氮化鋁晶體c軸和a軸熱膨脹系數的各向異性成晶體各向異性較大,造成晶體應力較大,開裂嚴重。
為了獲得高質量,低應力的氮化鋁單晶,通過生長過程中變溫變壓、調節坩堝位置、減薄發熱筒壁厚等方法,使得坩堝能夠實現分段加熱的目的,確保生長面軸向及徑向生長溫度梯度,實現較大的沉積速率。
發明內容
針對現有技術中存在的問題,本發明的目的在于提供一種低應力氮化鋁晶體的生長方法,其通過一系列變溫變壓的生長工藝,前中后期分別采用不同壓力和溫度,末期二次升溫,克服了異質襯底生長中襯底分解,襯底沉積層界面晶體質量較差,晶體內部應力較大,開裂多的問題。
為實現上述目的,本發明采用以下技術方案:
一種低應力氮化鋁晶體的生長方法,所述生長方法包括如下步驟:
1)在氮化鋁晶體的生長初期,將生長環境抽真空,并充入氮氣,直至生長環境內氣壓達到第一設定壓力,并以20℃/h-40℃/h的升溫速率升到第一設定溫度,并保溫半小時;
2)在氮化鋁晶體的生長中期,十分鐘內將生長環境內的氣壓降到第二設定壓力,并且在兩小時內將溫度逐步升高為第二設定溫度,生長時間8-15小時;
3)在氮化鋁晶體的生長后期,升高堝位,提高籽晶表面徑向梯度,增加料源到籽晶軸向溫度梯度,將生長環境內氣壓升高壓力至第三設定壓力;并在20分鐘內將生長環境內的溫度升高到第三設定溫度,保持4小時;
4)在氮化鋁晶體的生長末期,以40℃/h的速度緩慢降溫,95KPa壓力下將生長環境內的溫度降到氮化鋁料源的分解溫度1850℃,保持半小時;
5)在95KPa壓力下再次升溫,將生長環境內的溫度升高至第四設定溫度;
6)在95KPa壓力下以30℃/h速率緩慢降溫到1000℃,自然冷卻,開爐,測試表征。
進一步,所述第一設定壓力為40KPa。
進一步,所述第一設定溫度為1900℃。
進一步,所述第二設定壓力為20KPa。
進一步,所述第二設定溫度為1930-1940℃。
進一步,所述第三設定壓力為95KPa。
進一步,所述第三設定溫度為2000℃。
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