[發明專利]一種銀鋁漿交界處電阻值測試方法與測試裝置

在審

• 申請號: 201711276818.6
• 申請日: 2017-12-06
• 公開（公告）號: CN109884392A
• 公開（公告）日: 2019-06-14
• 發明（設計）人: 劉玉杰;潘熠霄;楊斌;萬忠;張愿成;張蘇蘇
• 申請（專利權）人: 上海太陽能工程技術研究中心有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 上海科盛知識產權代理有限公司 31225
• 代理人: 褚明偉

本發明涉及一種銀鋁漿交界處電阻值測試方法及測試裝置，將銀漿圖案印刷在測試硅片上，銀漿印刷完烘干后，將鋁漿圖案套印在烘干后的銀漿圖案上，待鋁漿圖案烘干后，對測試硅片進行燒結，然后將將電阻測試儀的兩個探針分別與銀漿的兩端相結合，直接讀取電阻測試儀的測量數值即可。與現有技術相比，本發明可以檢測銀漿與鋁漿之間的接觸電阻，幫助篩選銀鋁漿之間的匹配性是否優秀，節省檢測成本與檢測周期，提高了檢驗效率。

技術領域

本發明涉及光伏檢測技術領域，尤其是涉及一種銀鋁漿交界處電阻值測試方法與測試裝置。

背景技術

在光伏產業中，背面銀漿與鋁漿的匹配問題一直是各個電池片廠家所關心的問題，也是銀漿制造廠商所迫切需要優化與解決的問題。如何準確評判研發銀漿的性能，分析和確定研發方向，保障產品穩定性，是和必要的科學測試方法與工具分不開的。目前在測試銀鋁接觸面的問題上多是以外觀來評判接觸的好與壞，或者是直接通過電性能數據來評判接觸的好壞。

目前接觸電阻測試的方法有：

A、測試銀鋁漿交界處是否脫落，這種測試方法只能最基本的判斷接觸的好壞，更多的停留在外觀檢測上。

B、印刷成電池片后測試電性能，這種測試方法成本相對較高，且測試周期較長，不利于研發的節奏。

C、自制測試圖案單銀線與單一鋁塊接觸并測試，這種測試方法存在較大的波動性，根據硅片部位的不同會漸接影響到測試數據。

發明內容

本發明的目的就是為了克服上述現有技術存在的缺陷而提供一種銀鋁漿交界處電阻值測試方法與測試裝置。本發明能夠改進原始銀鋁交界處接觸電阻測試方法的缺點，提高測試效率減少測試誤差，以實現評定銀漿性能數據的準確性和穩定性同時提高測試效率。

本發明的目的可以通過以下技術方案來實現：

一種銀鋁漿交界處電阻值測試方法，包括以下步驟：將銀漿圖案印刷在測試硅片上，銀漿印刷完烘干后，將鋁漿圖案套印在烘干后的銀漿圖案上，待鋁漿圖案烘干后，對測試硅片進行燒結，然后將將電阻測試儀的兩個探針分別與銀漿的兩端相結合，直接讀取電阻測試儀的測量數值即可。

電阻測試儀上的讀數越小表示銀鋁漿交界處電阻值越小，表示銀鋁漿交界處接觸越好。

所述銀漿圖案為構成敞口半框形結構的一根銀漿傳輸導線，所述鋁漿圖案為相間隔的10塊鋁漿模塊，10塊鋁漿模塊間隔蓋在銀漿傳輸導線上。

設計這樣圖案的好處在于測試時可降低測試誤差。

通過銀漿印刷網板將銀漿圖案印刷在測試硅片上。

通過鋁漿印刷網板將鋁漿圖案印刷在測試硅片上。

一種銀鋁漿交界處電阻值測試裝置，包括測試硅片，在測試硅片上印刷有銀漿圖案，在銀漿圖案上印刷有鋁漿圖案，其中銀漿圖案有用于與電阻測試儀的兩個探針相結合的兩端，鋁漿圖案設置在避開銀漿圖案兩端的位置。

所述銀漿圖案為構成敞口半框形結構的一根銀漿傳輸導線。

所述鋁漿圖案為印刷在銀漿傳輸導線上的鋁漿模塊。

所述鋁漿模塊共設有10塊，10塊鋁漿模塊間隔印刷在銀漿傳輸導線上。

所述鋁漿模塊為矩形塊，矩形塊長度方向的中心線位于銀漿傳輸導線上。

本發明銀鋁漿交界處電阻測試方法結構簡單，制作成本低，易于操作測試數據穩定。

本發明所述銀鋁漿交界處電阻測試方法由于采用了以上技術方案，使其與現有技術相比，具有以下的優點和特點：

1、結構簡單，印刷時無額外步驟。