[發(fā)明專利]一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試方法與測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711276818.6
• 申請(qǐng)日: 2017-12-06
• 公開（公告）號(hào): CN109884392A
• 公開（公告）日: 2019-06-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉玉杰;潘熠霄;楊斌;萬忠;張?jiān)赋?/a>;張?zhí)K蘇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海太陽能工程技術(shù)研究中心有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/02
• 分類號(hào): G01R27/02
• 代理公司: 上海科盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225
• 代理人: 褚明偉

1.一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟：將銀漿圖案印刷在測(cè)試硅片上，銀漿印刷完烘干后，將鋁漿圖案套印在烘干后的銀漿圖案上，待鋁漿圖案烘干后，對(duì)測(cè)試硅片進(jìn)行燒結(jié)，然后將將電阻測(cè)試儀的兩個(gè)探針分別與銀漿的兩端相結(jié)合，直接讀取電阻測(cè)試儀的測(cè)量數(shù)值即可。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試方法，其特征在于，電阻測(cè)試儀上的讀數(shù)越小表示銀鋁漿交界處電阻值越小，表示銀鋁漿交界處接觸越好。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試方法，其特征在于，所述銀漿圖案為構(gòu)成敞口半框形結(jié)構(gòu)的一根銀漿傳輸導(dǎo)線，所述鋁漿圖案為相間隔的10塊鋁漿模塊，10塊鋁漿模塊間隔蓋在銀漿傳輸導(dǎo)線上。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試方法，其特征在于，通過銀漿印刷網(wǎng)板將銀漿圖案印刷在測(cè)試硅片上。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試方法，其特征在于，通過鋁漿印刷網(wǎng)板將鋁漿圖案印刷在測(cè)試硅片上。

6.一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試裝置，其特征在于，包括測(cè)試硅片，在測(cè)試硅片上印刷有銀漿圖案，在銀漿圖案上印刷有鋁漿圖案，其中銀漿圖案有用于與電阻測(cè)試儀的兩個(gè)探針相結(jié)合的兩端，鋁漿圖案設(shè)置在避開銀漿圖案兩端的位置。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試裝置，其特征在于，所述銀漿圖案為構(gòu)成敞口半框形結(jié)構(gòu)的一根銀漿傳輸導(dǎo)線。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試裝置，其特征在于，所述鋁漿圖案為印刷在銀漿傳輸導(dǎo)線上的鋁漿模塊。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試裝置，其特征在于，所述鋁漿模塊共設(shè)有10塊，10塊鋁漿模塊間隔印刷在銀漿傳輸導(dǎo)線上。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種銀鋁漿交界處電阻值測(cè)試裝置，其特征在于，所述鋁漿模塊為矩形塊，矩形塊長(zhǎng)度方向的中心線位于銀漿傳輸導(dǎo)線上。