[發明專利]JTAG調試器的調試方法、調試器及系統

在審

• 申請號: 201711276058.9
• 申請日: 2017-12-06
• 公開（公告）號: CN108107351A
• 公開（公告）日: 2018-06-01
• 發明（設計）人: 田軍;段媛媛;賈紅;程顯志;陳維新;韋嶔
• 申請（專利權）人: 西安智多晶微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 西安嘉思特知識產權代理事務所(普通合伙) 61230
• 代理人: 劉長春

本發明涉及JTAG器件技術領域，具體涉及一種JTAG調試器的調試方法、調試器及系統，包括如下步驟：(a)接收上位機傳輸的SVF文件；(b)解析所述SVF文件并生成調試信號；(c)輸出所述調試信號。本發明實施例無需通過USB端口控制JTAG端口電平，而采用了在JTAG調試器中直接解析SVF文件并生成對應的調試信號，大大提高了JTAG調試器的調試效率。

技術領域

本發明屬于JTAG器件技術領域，具體涉及一種JTAG調試方法、調試器及系統。

背景技術

JTAG(Joint Test Action Group，聯合測試行動組)是一種國際標準測試協議(IEEE 1149.1兼容)，主要用于芯片內部測試?，F今多數的高級器件都支持JTAG協議，如DSP、FPGA、ARM、部分單片機器件等。標準的JTAG接口是4條線：TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。相關JTAG引腳的定義為：TCK為測試時鐘輸入；TDI為測試數據輸入，數據通過TDI引腳輸入JTAG接口；TDO為測試數據輸出，數據通過TDO引腳從JTAG接口輸出；TMS為測試模式選擇，TMS用來設置JTAG接口處于某種特定的測試模式；TRST為測試復位，輸入引腳，低電平有效。

請參見圖1和圖2，圖1為現有技術中的JTAG調試方法的原理圖，圖2為現有技術中SVF文件一行數據對應的信號波形示意圖；其中，現有的JTAG調試技術是通過在PC上解析SVF(Serial Vector Format,簡稱串行向量格式)文件生成對應的端口操作數據，并通過USB通道傳輸端口操作數據控制JTAG的端口電平，其中，SVF文件的一行數據對應一系列的JTAG端口操作，但是USB通道一次只能完成一個端口操作數據的傳輸，如圖2所示的一行SVF對應的信號波形圖需要26次USB通訊才能把數據發送給測試芯片，因此，造成了USB通道通訊數據量過大，限制了JTAG調試的速度。

因此，如何給出一種高速的JTAG調試方法已經成為研究的熱點問題。

發明內容

為了解決現有技術中存在的上述問題，本發明提供了一種JTAG調試方法、調試器及系統。

本發明要解決的技術問題通過以下技術方案實現：

本發明的一個實施例提供一種JTAG調試方法，包括：

(a)接收上位機傳輸的SVF文件；

(b)解析所述SVF文件并生成調試信號；

(c)輸出所述調試信號。

在本發明的一個實施例中，所述調試信號包括：TCK信號、TMS信號、TDI信號。

在本發明的一個實施例中，步驟(b)包括：

(b1)解析所述SVF文件并生成時序參數、JTAG狀態機數據、TCK數據、TDI數據；

(b2)將所述時序參數、JTAG狀態機數據、所述TCK數據、所述TDI數據轉換形成時序控制信號、所述TMS信號、所述TCK信號、所述TDI信號。

在本發明的一個實施例中，步驟(c)之后還包括：

(x1)讀取TDO信號并生成TDO數據；

(x2)將所述TDO數據與SVF文件的期望值進行對比產生對比結果；

(x3)輸出所述對比結果和所述TDO數據。

本發明的另一個實施例提供了一種JTAG調試器，包括：

接收芯片，用于接收從上位機傳輸的SVF文件；

解析芯片，與所述接收芯片連接，用于解析所述SVF文件并輸出調試信號。